Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / توصيف محبب غاية في الدقة وNanocrystalline المواد…
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

JoVE Journal Engineering
توصيف محبب غاية في الدقة وNanocrystalline المواد عن طريق نقل كيكوتشي حيود
Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
Journal (Engineering)
Probing C84-embedded Si Substrate Using Scanning Probe Microscopy and Molecular Dynamics
Atomic Force Microscopy of Red-Light Photoreceptors Using PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping
Journal (Engineering)
Atomic Force Microscopy of Red-Light Photoreceptors Using PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping
 
Click here for the English version

توصيف محبب غاية في الدقة وNanocrystalline المواد عن طريق نقل كيكوتشي حيود

Article DOI: 10.3791/55506-v • 09:13 min • April 1st, 2017
April 1st, 2017 •
1, 2, 3, 4
1School of Civil Engineering, The University of Sydney, 2Australian Centre for Microscopy and Microanalysis, The University of Sydney, 3Department of Earth and Planetary Sciences, Macquarie University, 4Charles Delaunay Institute, LASMIS, UMR STMR CNRS 6281, University of Technology of Troyes

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

تقدم هذه الورقة طريقة مفصلة لتوصيف المجهرية من المواد الحبيبات وnanocrystalline غاية في الدقة باستخدام المجهر الإلكتروني الماسح مجهزة بنظام حيود تشتت ارتدادي الإلكترون القياسية. السبائك المعدنية والمعادن تقديم المجهرية المكررة وتحليلها باستخدام هذه التقنية، والتي تبين تنوع تطبيقاتها الممكنة.

Tags

الهندسة، العدد 122، المجهرية، المجهر الإلكتروني، مواد Nanocrystalline، غاية في الدقة المواد محبب، نقل كيكوتشي الحيود، الكترون رذاذ مرتد الحيود، كريستال التوجيه.
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter