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JoVE Journal Engineering
सूक्ष्म / नैनो-स्तरीय वितरण मापन नमूनाकरण से Moire Finges
High-Sensitivity Nuclear Magnetic Resonance at Giga-Pascal Pressures: A New Tool for Probing Electronic and Chemical Properties of Condensed Matter under Extreme Conditions
Journal (Engineering)
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Epitaxial Nanostructured α-Quartz Films on Silicon: From the Material to New Devices
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सूक्ष्म / नैनो-स्तरीय वितरण मापन नमूनाकरण से Moire Finges

Article DOI: 10.3791/55739-v • 06:56 min • May 23rd, 2017
May 23rd, 2017 •
1, 1, 1
1Research Institute for Measurement and Analytical Instrumentation, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

Chapters

Summary
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सूक्ष्म / नैनो पैमाने पर उच्च-सटीकता तनाव वितरण मापन के लिए 2-पिक्सेल और बहु-पिक्सेल नमूनाकरण विधियों की एक सैंपलिंग मोइर तकनीक यहां प्रस्तुत की गई है।

Tags

इंजीनियरिंग अंक 123 विकृति वितरण तनाव माप नमूना मोरी छवि प्रसंस्करण ऑप्टिकल विधि माइक्रो / नैनो-स्तरीय समग्र सामग्री
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