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Transporteur à vie des mesures dans les semi-conducteurs, par le biais de la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes
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Transporteur à vie des mesures dans les semi-conducteurs, par le biais de la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes

Article DOI: 10.3791/59007-v • 07:38 min • April 18th, 2019
April 18th, 2019 •
1, 1, 1,2
1Department of Electrical & Mechanical Engineering, Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science, Nagoya Institute of Technology

Chapters

Summary
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L’un des paramètres physiques importants dans les semi-conducteurs, est mesuré transporteur vie présentes via un protocole qui emploient la méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes.

Tags

Ingénierie numéro 146 méthode de décomposition de photoconductivité micro-ondes durée de vie de carrière semiconducteur temps mesure résolu caractérisation de défauts surface recombinaison
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