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Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas
Thermal Measurement Techniques in Analytical Microfluidic Devices
Journal (Engineering)
Thermal Measurement Techniques in Analytical Microfluidic Devices
Designing and Fabricating the Pneumatic Gripper to Assist in Finger Rehabilitation for Stroke Patients
Journal (Engineering)
Designing and Fabricating the Pneumatic Gripper to Assist in Finger Rehabilitation for Stroke Patients
 
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Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas

Article DOI: 10.3791/59007-v • 07:38 min • April 18th, 2019
April 18th, 2019 •
1, 1, 1,2
1Department of Electrical & Mechanical Engineering, Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science, Nagoya Institute of Technology

Chapters

Summary
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Dentre os parâmetros físicos importantes em semicondutores, tempo de vida do portador é medido aqui através de um protocolo que emprega o método de decaimento de Fotocondutividade de microondas.

Tags

Engenharia edição 146 método de decaimento de Fotocondutividade de microondas vida de carreira material semicondutor tempo de medição resolvida caracterização de defeito recombinação de superfície
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