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Rendu SiO2/Si Surfaces omniphobes en sculptant des microtextures à gaz comprenant des cavités ou des piliers réentrants
 
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Rendu SiO2/Si Surfaces omniphobes en sculptant des microtextures à gaz comprenant des cavités ou des piliers réentrants

Article DOI: 10.3791/60403-v 08:02 min February 11th, 2020
February 11th, 2020

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Ce travail présente des protocoles de microfabrication pour la réalisation de cavités et de piliers avec des profils de reentrant et doublement réentrants sur les plaquettes SiO2/Si utilisant la photolithographie et la gravure sèche. Les surfaces microtexturées résultantes démontrent la répulsivité liquide remarquable, caractérisée par le piégeage à long terme robuste de l’air sous les liquides mouillants, en dépit de la wettability intrinsèque de la silice.

Tags

Ingénierie Numéro 156 mouillage omniphobicité cavités/piliers réentrants et doublement réentrants microtextures piégeant le gaz (GEM) photolithographie gravure isotropique gravure anisotropique croissance de l’oxyde thermique gravure réactive-ion angles de contact immersion microscopie confocale
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