Characterizing Spherulites with Polarization-Sensitive Two-Photon Microscopy

Summary

Automatic Translation

• English (Original)
• العربية (Arabic)
• 中文 (Chinese)
• dansk (Danish)
• Nederlands (Dutch)
• français (French)
• Deutsch (German)
• עברית (Hebrew)
• हिंदी (Hindi)
• italiano (Italian)
• 日本語 (Japanese)
• 한국어 (Korean)
• norsk (Norwegian)
• português (Portugese)
• русский (Russian)
• español (Spanish)
• svenska (Swedish)
• Türkçe (Turkish)

Dette papir beskriver, hvordan polarisationsfølsom to-fotonmikroskopi kan anvendes til at karakterisere den lokale organisation inden for etiketfri amyloid-overbygninger-sfærulitter. Det beskriver også, hvordan man forbereder og måler prøven, samler den nødvendige opsætning og analyserer dataene for at få oplysninger om den lokale organisering af amyloidfibriller.