Characterizing Spherulites with Polarization-Sensitive Two-Photon Microscopy

Summary

Automatic Translation

• English (Original)
• العربية (Arabic)
• 中文 (Chinese)
• dansk (Danish)
• Nederlands (Dutch)
• français (French)
• Deutsch (German)
• עברית (Hebrew)
• हिंदी (Hindi)
• italiano (Italian)
• 日本語 (Japanese)
• 한국어 (Korean)
• norsk (Norwegian)
• português (Portugese)
• русский (Russian)
• español (Spanish)
• svenska (Swedish)
• Türkçe (Turkish)

В данной работе описывается, как поляризационно-чувствительная двухфотонная микроскопия может быть применена для характеристики локальной организации в безметочных амилоидных суперструктурах-сферулитах. В нем также описывается, как подготовить и измерить образец, собрать необходимую установку и проанализировать данные для получения информации о локальной организации амилоидных фибрилл.