في الموقع سيمز والأشعة تحت الحمراء الطيفي من السطوح محددة جيدا من إعداد لينة الهبوط من الأيونات اختيارها قداس-
يونيو 16, 2014
17.9K مشاهدة
هبوط ناعم أيونات مختارة الشامل على السطوح هو نهج قوية لإعداد رقابة شديدة من المواد الجديدة. إلى جانب تحليل الوضع الطبيعي الثانوية مطياف الكتلة ايون (سيمز) والأشعة تحت الحمراء امتصاص انعكاس التحليل الطيفي (IRRAS) في، يوفر هبوط ناعم رؤى غير مسبوقة في تفاعلات الأنواع محددة جيدا مع الأسطح.