Name: اعداد المصدر الكترون Celadونيتي وتقدير سطوعه (فيديو) | JoVE Journal
Uploaded: 2019-11-05T12:30:00.000+00:00
Duration: 9 min 14 s
Description: تعلم إعداد مصدر إلكتروني من السيلادونايت لتقنيات التصوير المجهري الإلكتروني منخفض الطاقة باستخدام أنابيب الفولاذ المقاوم للصدأ والألياف الكربونية. يوفر هذا البروتوكول استقرارًا عاليًا وعمرًا تشغيليًا طويلًا.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

ويود أصحاب البلاغ ان يشكروا مارجوري سوشيكو علي تحسين اللغة الانكليزيه لهذه المادة.

1-اعداد المصدر
ملاحظه: في المجهر لدينا ، ويتكون المصدر-الدعم من لوحه السيراميك الزجاج القابلة للإله من الذي يخرج 1 سم من أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا من 90 μm القطر الداخلي مع اتصال كهربائي علي لوحه.
<ol><li>اعداد ألياف<ol>
<li>إصلاح دعم المصدر تحت المجهر البصري.</li>
		<li>ادراج ألياف الكربون 10 μm في أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا. الغراء ألياف الكربون إلى أنبوب مع ورنيش الفضة.</li>
		<li>قطع ألياف مع ملاقط القطع (تحت مجهر منظار) بحيث يتم ترك ما بين 100 μm و 3 ملم خارج أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا. ملاحظه: ألياف الكربون هشه. ترك أكثر من 1 سم خارج الأنبوب سوف تزيد من فرصه لكسر الهيكل اثناء التلاعب.</li>
	</ol>
</li>
	<li>اعداد المياه المحتوية علي سيلادنيت<ol>
<li>طحن celadونيتي مع هاون ومدقه.</li>
		<li>تزن 0.2 ملغ من مسحوق celadونيتي وتمييع في 10 مل من الماء منزوع الأيونات.</li>
		<li>استخدام طرف الموجات فوق الصوتية مباشره في 10 مل من المياه المحتوية علي celadونينيت لكسر المجاميع. عاده ، استخدام تردد الموجات فوق الصوتية من 30 كيلو هرتز لقوه 50 W أكثر من 30 ثانيه.</li>
	</ol>
</li>
	<li>اعداد بيئة الترسيب<ol>
<li>قم بتوصيل حامل شعري بجهاز تحكم بالضغط.</li>
		<li>الحفاظ علي حامل الشعرية تحت المجهر البصري مع متعدد الاتجاات الصغرى التلاعب.</li>
		<li>ضع الدعم مع ألياف الكربون التي تواجه حامل الشعرية تحت المجهر البصري.</li>
	</ol>
</li>
	<li>ترسيب سيلادونيت<ol>
<li>اسحب الماصة الصغيرة ذات القطر الداخلي من 2-10 ميكرومتر للسماح بتدفق الماصات المشتتة دون انسداد.<ol>
<li>إصلاح الشعرية الزجاج في الفك ساحبه. ضمان المعلمات ساحبه الحق وفقا لحجم ماصه التصحيح (الجدول 1). أملا الماصات الدقيقة بالماء المحتوي علي سيلينيت.</li>
		</ol>
</li>
		<li>تركيب الماصات المجهرية علي حامل الشعرية تحت المجهر. محاذاة الماصة المجهرية وألياف الكربون تحت المجهر البصري.</li>
		<li>اقترب من الماصة الصغيرة ، إلى مسافة 2-10 ميكرومتر من قمة ألياف الكربون.</li>
		<li>تطبيق الضغط التدريجي علي دخول واسعه إلى ميكروماص. بشكل عام ، تطبيق 100 ميليبار بحيث نماذج قطره في الطرف ولكن لا تسقط. هذا الانخفاض يبلل قمة من ألياف الكربون.</li>
		<li>اسحب الماصة المجهرية.</li>
	</ol>
</li>
</ol>2-ركل المصدر
ملاحظه: في المجهر لدينا ، يتم إصلاح المصدر-الدعم علي شفه الدورية اليدوية تحمل أيضا المحرك بيزو الكهربائية التي تتحرك (100 nm القرار ، ومجموعه 25 ملم) ، مع الأمر الكهربائية ، والكائن نسبه إلى المصدر (انظر الشكل 2). هذا الكائن يلعب دور الآنود الكهربائية للانبعاثات الكترون; هو عموما أسست كهربائيا ووضعت امام المصدر. في تجربتنا ، والفولتية هي اليد التي تسيطر عليها مع إمدادات الطاقة المختلفة.
<ol><li>تثبيت حامل المصدر تحت فراغ.</li>
	<li>ربط ألياف الكربون والكائن إلى اثنين من فيدثروغس الكهربائية عاليه الجهد.</li>
	<li>التحقق من الاستمرارية الكهربائية للاتصالات في كل مكان: كائن الآنود ، والعدسة والشاشة ؛ بدوره علي ضخ فراغ.</li>
	<li>توصيل نانو متر من عيار في نطاق μA بين الكائن والأرض الكهربائية.</li>
	<li>زيادة الجهد التحيز السلبية المطبقة علي المصدر ببطء ، في ما يقرب من 1 V/s. ان الآنود يكون 1 [م] بعيدا من المصدر, يبدا البداية في حوالي 2 [كف]. زيادة حده فجاه.</li>
	<li>تقليل الجهد لتحقيق الاستقرار في كثافة حوالي مائه nA. في البداية ، يمكن ان تتقلب الكثافة علي عده أوامر من حجم.</li>
	<li>ترك النظام متقلب لعده ساعات ، حتى تنخفض التقلبات. قطع التيار الكهربائي عندما تكون التقلبات اقل من 10 ٪.</li>
</ol>3-توصيف المصدر
ملاحظه: نحن نقدم وسيله لتحقيق خصائص المصدر. لتقدير سطوع المصدر ، يتم استخدام مجاهر الإسقاط اثنين. في هذه الاجهزه ، يتم ملاحظه ظل كائن علي شاشه الفلورسنت وضع بعيدا (الشكل 2). المصدر (الكاثود) والكائن (الآنود) هي التي شنت علي شفه التلاعب الصغرى ويمكن ان تدور معا في الطائرة الإسقاط. يسمح اعداد الإسقاط القصير البسيط بشاشه فلورية بإسقاط التكبير المنخفض. الاعداد الثاني ينطوي علي عدسه كهرباء ومزدوج القناة الصغرى لوحه/الفلورسنت الشاشة لاقوي التكبير12. وتستخدم المعلومات المتاحة عن كل صوره إسقاط لتقدير السطوع: أصغر التفاصيل في السجل13. يعتمد هذا التفصيل المرئي الأصغر علي حجم المصدر الظاهر ، والذي يتضمن التمويه الهندسي بحجم المصدر ، والاهتزازات بين الكائن والمصدر ، ودقه الكاشف.
<ol><li>قياس زاوية المخروط<ol>
<li>تحويل المصدر نحو الاعداد الإسقاط بسيطه ، مع شفه الدورية ، لمراقبه شعاع الكترون.</li>
		<li>تقليل المسافة بين المصدر والشاشة ، مع التلاعب الدقيق اليدوي ، للحصول علي البقعة بأكملها علي الشاشة ؛ ثم ، قياس المسافة المصدر إلى الشاشة ، D.</li>
		<li>التقاط الصور من الشاشة عن طريق تغيير الزاوية بين شعاع الكترون والعادي إلى الشاشة ، مع شفه الدورية.</li>
		<li>ارسم التشكيل الجانبي لكثافة المستوي الرمادي علي طول محور واحد وحدد نصف قطر الانبعاثات ، R عند المسافة المعطية من المصدر إلى الشاشة D (الشكل 3).</li>
		<li>حساب زاوية مخروط: <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq1.jpg"> مع R، دائره نصف قطرها الانبعاثات في المسافة من مصدر إلى شاشه معينه ، D.</li>
	</ol>
</li>
	<li>قياس مؤامرة فاولر-نوردهايم<ol>
<li>قياس كثافة الانبعاثات مقابل الجهد المطبق علي المصدر: i (V) مع i كثافة تقاس في الآنود و V الجهد المطبق في ألياف الكربون.</li>
		<li>مؤامرة <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq2.jpg"> . يظهر منحني انخفاض خط مستقيم مع التشبع لاعلي الجهد. ويرد مثال علي ذلك في الشكل 4. أطول خط مستقيم هو التوقيع علي عمليه الانبعاثات الميدانية.</li>
	</ol>
</li>
	<li>قياس حجم المصدر<ol>
<li>تحويل المصدر نحو عدسه كهرباء ، مع شفه الدورية.</li>
		<li>إنتاج صوره الإسقاط التي تحتوي علي نمط انكسار فريسنل ضخمه علي طول حافه الكائن: مطلوب التكبير حوالي 20 ، 000x. في المجهر لدينا ، وهذا ممكن مع المسافة من مصدر إلى كائن من بعض 100 μm ، ثابته مع المحركات بيزو ، وعدسه كهرباء اينزيل.</li>
		<li>قياس أدق التفاصيل المرئية علي الصورة علي الشاشة (الشكل 5). ملاحظه: يتم استخدام المسافة الأكبر من هامش إلى هامش ، δ.</li>
		<li>حساب حجم المصدر: <img src="/files/ftp_upload/59513/59513eq3.jpg"> .</li>
	</ol>
</li>
</ol>

<ol><li>Forbes, R. G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-macroscopic-field+electron+emission+from+carbon+films+and+other+electrically+nanostructured+heterogeneous+materials%3A+hypotheses+about+emission+mechanism%5BTitle%5D)+AND+%22Solid-State+Electronics%22%5BJournal%5D)">Low-macroscopic-field electron emission from carbon films and other electrically nanostructured heterogeneous materials: hypotheses about emission mechanism.</a> Solid-State Electronics. 45, 779-808 (2001).</li>
<li>Wang, C., Garcia, A., Ingram, D. C., Lake, M., Kordesch, M. E. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Cold+field+emission+from+CVD+diamond+films+observed+in+emission+electron+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Electronics+Letters%22%5BJournal%5D)">Cold field emission from CVD diamond films observed in emission electron microscopy.</a> Electronics Letters. 27, 1459(1991).</li>
<li>Okano, K., Koizumi, S., Ravi, S., Silva, P., Amaratunga, G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-threshold+cold+cathodes+made+of+nitrogen-doped+chemical-vapour-deposited+diamond%5BTitle%5D)+AND+%22Nature%22%5BJournal%5D)">Low-threshold cold cathodes made of nitrogen-doped chemical-vapour-deposited diamond.</a> Nature. 381, 140-141 (1996).</li>
<li>Geis, M. W., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((A+new+surface+electron-emission+mechanism+in+diamond+cathodes%5BTitle%5D)+AND+%22Nature%22%5BJournal%5D)">A new surface electron-emission mechanism in diamond cathodes.</a> Nature. 393, 431-435 (1998).</li>
<li>Horch, S., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Field+emission+from+atomic+size+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Field emission from atomic size sources.</a> Journal of Applied Physics. 74 (6), 3652-3657 (1993).</li>
<li>Muller, H. U., Volkel, B., Hofmann, M., Woll, C., Grunze, M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Emission+properties+of+electron+point+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">Emission properties of electron point sources.</a> Ultramicroscopy. 50 (1), 57-64 (1993).</li>
<li>Qian, W., Scheinfein, M. R., Spence, J. C. H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Brightness+measurements+of+nanometer-sized+field-emission-electron+sources%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Brightness measurements of nanometer-sized field-emission-electron sources.</a> Journal of Applied Physics. 73 (11), 7041-7045 (1993).</li>
<li>Rech, J. em, Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-voltage+electron+emission+from+mineral+films%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Vacuum+Science+%26+Technology+B%22%5BJournal%5D)">Low-voltage electron emission from mineral films.</a> Journal of Vacuum Science & Technology B. 20 (1), 5-9 (2002).</li>
<li>Daineche, R., Degiovanni, A., Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Source+of+low-energy+coherent+electron+beams%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">Source of low-energy coherent electron beams.</a> Applied Physics Letters. 88, 023101(2006).</li>
<li>Salançon, E., Daineche, R., Grauby, O., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Single+mineral+particle+makes+an+electron+point+source%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Vacuum+Science+%26+Technology+B%22%5BJournal%5D)">Single mineral particle makes an electron point source.</a> Journal of Vacuum Science & Technology B. 33, 030601(2015).</li>
<li>Prigent, M., Morin, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Charge+effect+in+point+projection+images+of+Ni+nanowires+and+I+collagen+fibres%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Physics+D%3A+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Charge effect in point projection images of Ni nanowires and I collagen fibres.</a> Journal of Physics D: Applied Physics. 34 (8), 1167-1177 (2001).</li>
<li>Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Lagaize, M., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((A+low-energy+electron+point-source+projection+microscope+not+using+a+sharp+metal+tip+performs+well+in+long-range+imaging%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">A low-energy electron point-source projection microscope not using a sharp metal tip performs well in long-range imaging.</a> Ultramicroscopy. 200, 125-131 (2019).</li>
<li>Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Morin, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((High+spatial+resolution+detection+of+low-energy+electrons+using+an+event-counting+method%2C+application+to+point+projection+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Review+of+Scientific+Instruments%22%5BJournal%5D)">High spatial resolution detection of low-energy electrons using an event-counting method, application to point projection microscopy.</a> Review of Scientific Instruments. 89, 043301(2018).</li>
<li>Swanson, L. W., Crouser, L. C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Total-Energy+Distribution+of+Field-Emitted+Electrons+and+Single-Plane+Work+Functions+for+Tungsten%5BTitle%5D)+AND+%22Physical+Review%22%5BJournal%5D)">Total-Energy Distribution of Field-Emitted Electrons and Single-Plane Work Functions for Tungsten.</a> Physical Review. 163, 622(1967).</li>
</ol>

وليس للمؤلفين مصالح مالية متنافسة.

هذا البروتوكول ليس حرجا لان هندسه المصدر بمقياس مجهري يتغير من مصدر واحد إلى آخر. والصعوبة هي انه بما ان ألياف الكربون هشه ، فان قطعها يمكن ان يؤدي إلى طول غير مناسب. طول كاف حوالي 500 μm; الشكل المجهري للقطع ليس حاسما. الخطوة الحاسمة هي ان يكون عدد صغير جدا من البلورات (من الناحية المثالية واحده) المودعة علي قمة سلك موصل. تكييف تركيز الكريستال مع حجم المودعة هي النقطة الأكثر اهميه. إذا العديد من البلورات التجميعية ، يتم ثبط الانبعاثات. هنا ، ونحن وصف طريقه لأداره هذا. نظرا لإجراءات الانطلاق ، إذا تم إيداع عدد قليل من ال...

وقد درست الهياكل المعدنية/العازلة المستخدمة للانبعاثات الكترون لما يقرب من 20 عاما بسبب المجال المجهري المنخفض1. المجال الكهربائي المعنية هي فقط من أجل بعض v/μm2،3،4، علي النقيض من الخامس/نانومتر المطلوبة للانبعاثات حقل الكلاسيكية مع نصائح معدنيه حاده5،6،7. وهذا يفسر علي الأرجح البداية البلازما التصريف التي هي مفيده جدا في تقنيات مصدر الكترون. منذ بضع سنوات ، سعينا لاستكشاف هذا الانبعاث الميداني المنخفض عن طريق إيداع الأفلام من العوازل الطبيعية علي طبقات الكربون نقل الكترون8. وقد تم اختيار سيلادونيت ، وهو معدن عازل وجد في البازلت من الفخاخ بارانا في مناجم Ametista دي سول في البرازيل.
عندما celadonite هو الأرض ، وشكل الكريستال هو بلاطه مستطيله مع ابعاد ميكرومتر وسمك اقل من 100 نانومتر (عاده: 1,000 nm x 500 nm x 50 nm). فمن مسطح تماما ويمكن التعرف عليها في المسح المجهري الكترون (الشكل 1). يتم تشكيل الفيلم عن طريق ترسب قطره الماء التي تحتوي علي سيلادونيت علي طبقه الكربون. كما يزيد الجهد المطبق ، فانه تنبعث الكترونات بعد نظام فاولر-نوردهايم مع التشبع كثافة لاعلي الفولتية. وأظهرت دراسة باستخدام الحجاب الحاجز في نظام الإسقاط ان باعث واحد هو مصدر مثل نقطه9. ومع ذلك ، استخدام هذا الفيلم الكبير مع الحجاب الحاجز لتحديد المصدر لم تستغل إمكانات نقطه المصدر. فعلي سبيل المثال ، تسمح المصادر النقطية المستخدمة عاده في المجهر المجهري الخاص بالطاقة المنخفضة المصدر بوجود مسافة بين المصدر والكائن تبلغ حوالي 100 نانومتر. ومع ذلك ، ستكون هذه المسافة من مصدر إلى كائن خارج السؤال مع فيلم. وكان العثور علي طريقه لعزل بلوره واحده حتى تكون قادره علي نقل شيء نحو هذا المصدر الكترون تحديا. وكان الحل الأول ، لاستخدام ألياف الكربون 10 μm: إيداع قطره في قمة ألياف يحد بالضرورة من عدد بلورات celadونيتي. ثانيا ، قررنا الحد من حجم القطيرات: يتم تعبئة الماصة المجهرية مع طرف من حوالي 5 ميكرون مع المياه المحتوية علي celadونيتي ويتم تطبيق الضغط عند مدخل الماصة لإنشاء قطره صغيره لترطيب قمة ألياف. ويفصل البروتوكول عمليه اعداد المصدر الكامل.
المصدر الناتج هو نقطه محوريه مصدر السماح محاذاة جيده بين المصدر ، والكائن والكترون البصرية النظام10. لان قطرها 10 μm لا تزال أوسع من النصائح حاده جدا ، ويقتصر المسافة من مصدر إلى كائن لبعض عشرات من ميكرومتر. ومع ذلك ، فقد أظهرنا مؤخرا ان باعث المصدر celadونيتي مجتمعه مع عدسه Einzel يؤدي بالمقارنة إلى المجهر الإسقاط نقطه المصدر الكلاسيكية. التصوير بعيد المدى بذلك يجعل يتيسر حتى يحد الحشوة تاثير11 علي الشيء والصورة تشويات تضمن12,13. كما يقدم مصدر celadونيتي المزايا الرئيسية مقارنه بالنصائح المعدنية الحاده. هو قويه: ال [بوينت-سورس] تحت البلورة ولذلك حميت ضد اخرق. يمكن ان يعمل المصدر تحت ضغط عال نسبيا: تم اختباره في 10-2 ميليبار خلال بضع دقائق. الا ان عمرها واستقرارها لا يزالان يعتمدان علي الظروف الفراغية الصحيحة. نحن عاده توظيف مصدر celadونيتي في 10-8 ميليبار والحصول علي مدي الحياة من أشهر.
ويهدف هذا المقال لمساعده جميع أولئك الذين يرغبون في استخدام مصدر celadونيتي لإنتاج شعاع الكترون متماسكة.

<table><tbody><tr><td>خيوط ألياف الكربون</td><td>Goodfellow</td><td>C 005711&nbsp; &nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>خيوط ألياف الكربون</td><td>ميتسوبيشي الكيميائية</td><td>DIALEAD</td><td></td></tr><tr><td>خيوط ألياف الكربون</td><td>Solvay</td><td>THORNEL P25</td><td></td></tr><tr><td>خيوط ألياف الكربون</td><td>Zoltek</td><td>PX35 سحب مستمر</td><td></td></tr><tr><td>Celadonite</td><td></td><td></td><td>فيرونا الأرض الخضراء / الصباغ</td></tr><tr><td>لوحة القناة الدقيقة ثنائية المرحلة ومجموعة الشاشة الفلورية</td><td>Hamamatsu</td><td>F2225-21S</td><td></td></tr><tr><td>وحدة التحكم في التدفق</td><td>Elveflow</td><td>OB1 &nbsp ؛</td><td></td></tr> الزجاج <tr><td>الميكانيكي السيراميك</td><td>ماكور</td><td></td><td></td></tr><tr><td>الماصة الدقيقة مجتذب</td><td>أدوات سوتر</td><td>P2000 &nbsp ؛</td><td></td></tr><tr><td>المحركات الكهربائية بيزو</td><td>Mechonics</td><td>MS30 &nbsp ؛</td><td></td></tr><tr><td>الكوارتز الشعرية</td><td>آلة Sutter Instrument&nbsp;</td><td>B100-75-15&nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>ورنيش فضي</td><td>DODUCO GmbH</td><td>AUROMAL 38&nbsp; &nbsp;</td><td></td></tr><tr><td>معالج بالموجات فوق الصوتية</td><td>Hielscher / سونوترودي MS3</td><td>UP50H&nbsp;</td><td></td></tr></tbody></table>

اعداد المصدر الكترون celadونيتي وتقدير سطوعه

Preparing a Celadonite Electron Source and Estimating Its Brightness

الكترون celadونيتي مصدر وصفها هنا ينفذ بشكل جيد في الكترون الطاقة المنخفضة نقطه المصدر المجهر الإسقاط في التصوير بعيد المدى. وهو يقدم مزايا رئيسيه مقارنه بالنصائح المعدنية الحاده. متانة لها يتيح مدي الحياة من أشهر ويمكن استخدامه تحت ضغط عال نسبيا. يتم إيداع الكريستال celadونيتي في قمة من ألياف الكربون ، والحفاظ علي نفسها في هيكل محوري ضمان شكل شعاع كرويه وسهله لتحديد المواقع الميكانيكية لمحاذاة المصدر ، والكائن ومحور الكترون-البصرية النظام. هناك ترسب بلوري واحد عبر جيل من قطرات الماء التي تحتوي علي سيلادنيت مع ماصات مجهريه. يمكن اجراء فحص المجهر المجهري الكتروني للتحقق من الترسب. ومع ذلك ، فان هذا يضيف خطوات التالي يزيد من خطر اتلاف المصدر. التالي ، بعد الاعداد ، وعاده ما يتم ادراج المصدر مباشره تحت فراغ في المجهر الإسقاط. يوفر أول الجهد العالي العرض ركله قباله اللازمة لبدء الانبعاثات الكترون. ثم تقاس عمليه الانبعاثات الميدانية المعنية: فقد لوحظ بالفعل بالنسبة لعشرات من مصادر الكترون التي أعدت بهذه الطريقة. والسطوع اقل من المقدرة من خلال تقدير مفرط لحجم المصدر ، وكثافة في واحده من الطاقة وزاوية مخروط تقاس في نظام الإسقاط.

تم الحصول علي العديد من المسح المجهري الكترون من ألياف الكربون أعدت علي النحو المفصل في البروتوكول في SEM في 15 kV. مصادر يحمل واحده, أحيانا اثنان, بلورات في قمتهم (شكل 1). ومع ذلك ، فان استخدام SEM ينطوي علي دعم آخر للألياف الكربونية ، والتي من الصعب ان جبل وانتزع شيئا دون كسر. فمن أكثر أمانا لمحاولة البث الكترون المباشر. تم اختبارها في مجهر الإسقاط (الشكل 2) ، كل مصدر أعد بهذه الطريقة المنبعثة. الانطلاق مطلوب مره واحده فقط. مع ...

وتقدم هذه المادة بروتوكولا لاعداد مصدر سيلادونيت وتقدير سطوعه للاستخدام في التصوير طويل المدى الكترون منخفضه الطاقة المجهر الإسقاط المصدر نقطه.

اعداد المصدر الكترون Celadونيتي وتقدير سطوعه

The electron celadonite source described here performs well in a low-energy electron point-source projection microscope in long-range imaging. It presents ...

يهدف هذا البروتوكول إلى شرح كيفية جعل مصدر إلكترون سيلادونيت. وقد أظهرت هذه المصادر عمراً طويلاً وسطوعها يعادل ذلك النصائح المعدنية المعبأة. باستخدام هذا المصدر الإلكترون سيلادونيت في مجهر الإسقاط، المرتبطة عدسة الكهربائية الساكنة، يجعل من الممكن للعمل مع مسافة كائن مصدر كبير.يمنع هذا خطر تعطل المصدر و تشويه الصورة عن طريق تقليل تأثير الحقل المحلي على الكائن. لبدء هذا الإجراء، أدخل المصدر في أنبوب الفولاذ المقاوم للصدأ مع قطر داخلي من 90 ميكرومتر. أدخل سلك التنغستن بقطر 50 ميكرومتر في الأنبوب ولف الأنبوب تحت شفرة سكين لقطعه إلى الطول المطلوب.إصلاح مصدر الدعم تحت المجهر البصري. أدخل ألياف كربونية 10 ميكرومتر في أنبوب الفولاذ المقاوم للصدأ. ولصق الألياف الكربونية إلى أنبوب مع ورنيش الفضة.تحت مجهر منظار، واستخدام قطع ملاقط لقطع الألياف بحيث يتم ترك ما بين 100 ميكرومتر وثلاثة ملليمترات خارج أنبوب الفولاذ المقاوم للصدأ. بعد ذلك ، طحن السيلادونيت مع هاون وحشرات. تزن 0.2 ملليغرام من مسحوق سيلادونيت، وتمييع في 10 ملليلتر من المياه الأيونية.ضع تلميح الموجات فوق الصوتية مباشرة في المياه التي تحتوي على celadonite ، واستخدم ترددًا بالموجات فوق الصوتية يبلغ 30 كيلوهيرتز وقوة 50 واط لمدة 30 ثانية لتفريق المجاميع. لتحضير بيئة الترسب، قم بتوصيل حامل الشعيرات الدموية بوحدة تحكم الضغط. الحفاظ على حامل الشعرية تحت المجهر البصري مع المتلاعبة الصغرى متعددة الاتجاهات.ضع الدعم تحت المجهر مع ألياف الكربون التي تواجه حامل الشعيرات الدموية. بعد ذلك، إصلاح الشعرية الزجاجية في الفك القطبي. باستخدام جدول واحد من بروتوكول النص، وضمان أن يتم تعيين المعلمات القطبية بشكل صحيح وفقا لحجم الأنابيب التصحيح، وسحب الأنابيب الصغيرة مع قطر نهاية داخلية بين اثنين إلى عشرة ميكرومتر، للسماح سيلادونيت مشتتة للتدفق دون عرقلة.ثم، ملء الأنابيب الصغيرة مع المياه التي تحتوي على celadonite. تحت المجهر، تحميل الأنابيب الصغيرة على حامل الشعرية، ومحاذاة الأنابيب الصغيرة مع ألياف الكربون. زيادة الضغط على نهاية واسعة من الأنابيب الصغيرة، بحيث أشكال قطرة في مخرجها دون السقوط.نقل ألياف الكربون إلى أعلى للمس قطرة، والتي سوف الرطب قمة من الألياف الكربون. بعد هذا، تراجع عن ألياف الكربون. تحت المجهر، أدخل المصدر في مصدر الدعم.تثبيت حامل المصدر تحت فراغ. توصيل ألياف الكربون وكائن لاثنين من الجهد العالي الكهربائية تغذية من خلال. تحقق من الاستمرارية الكهربائية لكل جهة اتصال، وتثبيت شفة على الإعداد التجريبي.بعد هذا، بدوره على ضخ فراغ. توصيل مقياس النانو من عيار في نطاق microampere بين الكائن والأرض الكهربائية. زيادة الجهد التحيز السلبي المطبقة على مصدر ببطء في ما يقرب من فولت واحد في الثانية الواحدة.إذا كان الأنود على بعد ملليمتر واحد من المصدر ، فإن الانطلاقة تجري عند حوالي كيلوفولت عند زيادة الكثافة فجأة. ثم، على الفور تقليل الجهد لتحقيق الاستقرار في كثافة بعض مائة نانومبير. في البداية، يمكن أن تتقلب شدة أكثر من عدة أوامر من حجم.قد تتقلب الشدة لعدة ساعات. انتظر حتى تقل التقلبات. قطع الجهد عندما تكون التقلبات أقل من 10٪ للبدء، واستخدام شفة الدورية لتحويل المصدر نحو الإعداد الإسقاط بسيطة لمراقبة شعاع الإلكترون.استخدم المتلاعب الصغير لتقليل المسافة من المصدر إلى الشاشة، والحصول على البقعة بأكملها على الشاشة. قياس المسافة من المصدر إلى الشاشة. التقاط صور للشاشة باستخدام شفة دوارة لتغيير الزاوية بين شعاع الإلكترون والشاشة العادية.رسم التشكيل الجانبي كثافة مستوى رمادي على طول محور واحد، وتحديد نصف قطر الانبعاثات في مصدر معين إلى مسافة الشاشة. حساب زاوية المخروط كما هو موضح في بروتوكول النص. بعد ذلك، قياس كثافة الانبعاثات مقابل الجهد المطبق على المصدر مع كثافة قياس في الأنود، والجهد المطبقة في ألياف الكربون.إنشاء مؤامرة فاولر نوردهايم إلى المصدر celadonite كما هو موضح في بروتوكول النص. سوف تظهر منحنى خط مستقيم متناقص مع التشبع لأعلى الجهد. أطول خط مستقيم هو توقيع عملية الانبعاثات الميدانية.لقياس حجم المصدر، استخدم شفة الدورية لتحويل المصدر نحو العدسة الكهروستاتيكية. ضبط كثافة لا تزال لديها إشارة في أعلى التكبير. قم بإجراء تكبير أول باستخدام L1، ثم اقترب من الكائن تجاه المصدر.وأخيراً، قم بتنشيط L2 لإنتاج صورة إسقاط تحتوي على نمط فرينل كبير على طول حافة كائن. قم بقياس أدق التفاصيل المرئية على الصورة على الشاشة، ثم احسب حجم المصدر كما هو موضح في بروتوكول النص. تم الحصول على عدة صور مسح إلكترونية دقيقة من سيلادونيت المودعة على ألياف الكربون، في 15 كيلوفولت أو ثلاثة كيلوفولت.المصادر تظهر واحدة، وأحياناً بلورتان في ذروتها. ومع ذلك، فإن استخدام SEM ينطوي على دعم آخر لألياف الكربون، والتي من الصعب تحميل و de-mount دون كسر. فمن أكثر أمانا لمحاولة الانبعاثات الإلكترون المباشر.وتبين الاختبارات في مجهر الإسقاط أن كل مصدر أعد بهذه الطريقة تنبعث منه. مطلوب ضربة البداية مرة واحدة فقط. وتظهر معظم هذه المصادر مصدر نقطة واحدة.يشير ملف تعريف الانبعاثات إلى صورة واحدة فقط متواصلة دون أي بقعة أخرى. مؤامرة فاولر نوردهايم معارض 10 أوامر من حجم مستقيم والتشبع في الجهد العالي. يعتمد نظام التشبع الذي تم الحصول عليه لجهد معين على الهيكل ، ولكن المنحدر ينخفض بشكل منهجي لكثافات التيار الأعلى من حوالي 10 ميكرومبيرات.ثم يتم تقدير حجم المصدر من خلال قياس أصغر التفاصيل على الصورة المنتجة. هذه الصورة هي نمط إنعراج فريسنل للكائن. هنا، يُعزى فقدان هامش التداخل إلى حجم المصدر.في هذا البروتوكول ، فإن الأهم هو الحصول على بلورة واحدة من السيلادونيت في قمة موصل على شكل طرف ، لتكون قادرة على الاقتراب من كائن نحو المصدر لتصوير هذا الموضوع. من المرجح أن تكون الخطوة الحاسمة هي حيث يتم إيداع قطرة صغيرة من المياه المحتوية على السيلدونيت المُدَوَّلة جيداً في قمة الألياف. باستخدام هذا المصدر الإلكترون سيلادونيت في مجهر الإسقاط مجهزة عدسة الكهربائية يسمح العمل مع مسافة كائن مصدر كبير.وهذا يجعل من الممكن تطوير تقنيات رسم تلقائي خارج المحور، لاستكشاف المجالات المغناطيسية والكهربائية حول الأجسام النانوية.

preparing-a-celadonite-electron-source-and-estimating-its-brightness

Research

JoVE Journal

Engineering

الهندسة

تم إنتاج جهاز متكامل، ودمج خلية والثلاثي، الثلاثي الشمسي إبادة يصل التحويل حدة صباغة توعية، وتكفل تعزيز حصاد الضوء، من باب أوسع من الطيف الشمسي. تحت مستويات متواضعة التشعيع وقد أظهرت استجابة معززة إلى حد كبير في فوتونات الطاقة منخفضة، مما أسفر عن رقم قياسي الجدارة للخلايا الشمسية توعية صباغة.

دمج ثلاثية-ثلاثية الابادة نظام يصل التحويل إلى تعزيز صبغ توعية للاستجابة الخلايا الشمسية لذات فجوة الحزمة الفرعية الخفيفة

وأوجز سير العمل الشامل توصيف الجزئي من الأجهزة البصرية النشطة. أنه يحتوي على التحقيقات الهيكلية وكذلك الوظيفية عن طريق CT، LM ووزارة شؤون المرأة. وتتجلى طريقة لLED الأبيض الذي يمكن لا يزال يتم تشغيلها خلال التوصيف.

في تحليلات العمق من المصابيح من قبل مجموعة من الأشعة السينية التصوير المقطعي (CT) والمجهر الضوئي (LM) مربوط مع المجهر الإلكتروني الماسح (SEM)

يمكن تحديد الخصائص البصرية والكهربائية والهيكلية للخلع وحدود الحبوب في مواد أشباه الموصلات من خلال التجارب التي يتم إجراؤها في المجهر الإلكتروني الماسح. تم استخدام المجهر الإلكتروني للتحقيق في تلألؤ الكاثودولي ، والتيار المستحث بشعاع الإلكترون ، وانعواج الإلكترونات المتناثرة عكسيا.

توصيف شامل العيوب الممتدة في المواد أشباه الموصلات من خلال مجهر المسح الإلكتروني

وبثبات الكيميائية والتلألؤ ممتازة من الفسفور (أوكسي) نيتريد تقدم على أنها بديل واعد لالمستخدمة حاليا كبريتيد وأكسيد الفسفور. في هذه الورقة، نقدم طريقة لتحقيق خصائصه التلألؤ المحلية باستخدام cathodoluminescence منخفضة الطاقة (CL).

Cathodoluminescence منخفضة الطاقة ل(أوكسي) الليومينيوفورات نتريد

يقدم المؤلفون طريقة لتصنيع خلايا كهروكيميائية مستقرة باعثة للضوء الأبيض باستخدام الانبعاث من الإكسيبلكس المتكونة بين بوليمر الفلورين الباعث للصوت الأزرق والأمينات العطرية.

تصنيع الأبيض التي ينبعث منها ضوء الخلايا الكهروكيميائية مع الانبعاثات مستقرة من Exciplexes

يصف هذا البروتوكول تقنية تصوير جديدة أثناء الجراحة تستخدم مركب الروثينيوم كمصدر لانبعاث الضوء الكيميائي ، وبالتالي إنتاج نسب إشارة عالية إلى ضوضاء أثناء التصوير في الجسم الحي. التصوير أثناء الجراحة هو مجال آخذ في التوسع يمكن أن يحدث ثورة في طريقة إجراء العمليات الجراحية.

تقنية جديدة لتوليد ومراقبة التوهج في إعداد البيولوجي

نقدم هنا بروتوكولا لتصنيع النانو الهجين/graphene60ج بالتبخير الحراري الفعلي. وبخاصة، تسمح التلاعب السليم بالترسب وظروف انلينغ السيطرة على خلق د 1 وشبه 1 ج هياكل60 على الجرافين متموج.

إعداد وتوصيف ج60/Graphene الهجين النانو

هذه الوثيقة بالتفصيل هي بروتوكولات العملية والجمعية من منصة فحص وحدات موائع جزيئية لتوصيف منهجي لأشباه الموصلات الغروية نانوكريستال التوليفات. من خلال ترتيبات نظام قابل للتعديل تماما، قد تتم عمليات جمع الأطياف ذات كفاءة عالية عبر مقاييس زمنية رد فعل 4 من حيث الحجم ضمن مساحة كتلة تسيطر عليها نقل عينات.

وحدات تقنية موائع جزيئية لدراسات منهجية الغروية أشباه الموصلات نانوكريستالس

يصف هذا العمل عملية التصنيع الكاملة للأجهزة الفولتية السيلينيوم الكاديوم الرقيقة التيلوريد/الكادميوم التيلوريد لتحسين الكفاءة. وتستخدم هذه العملية نظاما آليا للفراغ في الخط لترسب التسامي في الفضاء القريب القابل للتطوير، من تصنيع أجهزة البحوث في المنطقة الصغيرة، فضلا عن الوحدات النمطية الكبيرة النطاق.

التسامي الفضائي القريب-ودائع فائقة رقيقة CdSeTe/CdTe الخلايا الشمسية لتعزيز الكثافة القصيرة الدائرة الحالية وPhotoluminescence

نحن نقدم مخططا عاما لطرق التحليل الدقيق الكمية لتقدير إشغالات الموقع للشوائب وحالاتها الكيميائية من خلال الاستفادة من ظواهر توجيه الإلكترونات في ظل ظروف اهتزاز شعاع الإلكترون الحادث ، والتي تستخرج معلومات موثوقة من أنواع الأقليات ، وعناصر الضوء ، والشواغر الأكسجين ، وغيرها من عيوب النقطة / الخط / الخط.

تحليل الموقع الذري الكمي لعيوب Dopants / نقطة وظيفية في المواد البلورية عن طريق التحليل الدقيق المعزز لتوجيه الإلكترون

توفر أجهزة الصمام الثنائي الباعث للضوء العضوي (OLED) جودة عرض فائقة مع تباين أفضل مع عرض الفوائد البيئية من خلال استهلاك أقل للطاقة. هنا ، يتم تقديم استراتيجية بسيطة لتصنيع جهاز OLED المعالج بالحل بطريقة متسلسلة.

دليل خطوة بخطوة لتسخير الثنائيات العضوية الباعثة للضوء عن طريق تصنيع الجهاز المعالج بالمحلول لباعث TADF

تعلم إعداد مصدر إلكتروني من السيلادونايت لتقنيات التصوير المجهري الإلكتروني منخفض الطاقة باستخدام أنابيب الفولاذ المقاوم للصدأ والألياف الكربونية. يوفر هذا البروتوكول استقرارًا عاليًا وعمرًا تشغيليًا طويلًا.

اعداد المصدر الكترون Celadونيتي وتقدير سطوعه

استكشف المزيد من الفيديوهات