Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

Peng Xie; Xinyu Wang; Weiqiang Wang; Wenfu Zhang; Zhizhou Lu; Yang Wang; Wei Zhao

doi:10.3791/60689

Journal

/

Engineering

/

قياس تقلبات معدل التكرار السريع لبلورات سوليتون في ميكرورسوناتور

Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.

JoVE Journal Engineering

Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator

قياس تقلبات معدل التكرار السريع لبلورات سوليتون في ميكرورسوناتور

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

3,106 Views

•

07:42 min

•

December 15, 2021

DOI:

10.3791/60689-v

DOI:

10.3791/60689-v

•

07:42 min

December 15, 2021

•

3083 Views

Peng Xie*^1,2, Xinyu Wang*^1,2, Weiqiang Wang^1,2, Wenfu Zhang^1,2, Zhizhou Lu^1,2, Yang Wang^1,2, Wei Zhao^1,2

¹State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics (XIOPM),Chinese Academy of Sciences (CAS)²University of Chinese Academy of Sciences

Summary

هنا، نقدم بروتوكول لتوليد بلورات سوليتون في جهاز رنين حلقة صغيرة معبأة الفراشة باستخدام طريقة ضبطها الحرارية. وعلاوة على ذلك، يتم قياس تقلبات معدل التكرار من الكريستال سوليتون مع شاغر واحد باستخدام طريقة تأخر الذاتي heterodyne.