توصيف المقياس النانوي للواجهات السائلة الصلبة عن طريق اقتران طحن الحزمة الأيونية المركزة على التبريد مع المجهر الإلكتروني الماسح والتحليل الطيفي

0:29

Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation

1:31

Sample Vitrification

2:51

Sample Surface Imaging and Feature Location

4:19

Cross-Section Preparation

6:52

Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping

8:12

Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization

10:24

Conclusion