تحليل الموقع الذري الكمي لعيوب Dopants / نقطة وظيفية في المواد البلورية عن طريق التحليل الدقيق المعزز لتوجيه الإلكترون

6.1K مشاهدات

تم الاستشهاد 2 مرة

07:24 د

مايو 10, 2021

10.3791/62015-v

مايو 10, 2021

6.1K مشاهدات

نحن نقدم مخططا عاما لطرق التحليل الدقيق الكمية لتقدير إشغالات الموقع للشوائب وحالاتها الكيميائية من خلال الاستفادة من ظواهر توجيه الإلكترونات في ظل ظروف اهتزاز شعاع الإلكترون الحادث ، والتي تستخرج معلومات موثوقة من أنواع الأقليات ، وعناصر الضوء ، والشواغر الأكسجين ، وغيرها من عيوب النقطة / الخط / الخط.

استكشف المزيد من الفيديوهات

Chapters in this video

0:04

Introduction

0:59

Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking

2:36

Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup

3:47

Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition

4:30

Energy-Dispersive X-Ray Analysis

5:10

Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging

6:46

Conclusion

Related Videos