SEM Imaging of Conductive Samples

Scanning electron microscopy, or SEM, uses electrons to create detailed images of conductive samples. It is a powerful tool for seeing surface features at magnifications that are much higher than a traditional light microscope can reach. Modern light microscopes can reach about 1,000X, while a typical SEM can reach more than...

扫描电子显微镜（SEM）是一种在化学和材料分析中广泛应用的强大技术，它利用扫描的电子束来分析样品的表面结构和化学成分。

现代光学显微镜受限于可见光波与物体之间的相互作用，即衍射现象。两个物体之间可分辨的最小距离，或称横向分辨率，取决于衍射图样的大小相对于物体尺寸的变化。因此，在理想情况下，光学显微镜的最大放大倍数可达1,000倍，横向分辨率最高可达200 nm。

扫描电子显微镜（SEM）不受衍射效应的限制，因为它使用的是电子束而非光线。因此，SEM 可实现高达一百万倍的放大倍数，并具有亚纳米级的横向分辨率。此外，与光学显微镜仅能对焦平面内的结构成像不同，SEM 不受此限制。因此，在焦平面外的物体也能被清晰分辨，而在光学显微镜下这些物体会呈现模糊状态。这使得 SE...