33.13
透射电子显微镜(TEM)用于研究样品的内部结构和组成。
该仪器由一个发射电子束的电子枪组成。然后使用两个或多个电磁聚光镜将电子束聚焦到样品上。
穿过样品的电子由物镜收集并聚焦,形成中间像。该中间像再通过额外的中间镜和投影镜进一步放大。
最终图像可使用对电子敏感的成像设备捕获,例如磷光屏或CCD相机。
透射电子显微镜(TEM)可形成样品的二维黑白图像。较暗的区域代表密度较高的部分,这些区域透过的电子很少或完全不透过;而较亮的区域则表示有较多电子透过的区域。
透射电子显微镜(TEM)还可用于分析样品的成分。电子束与样品相互作用会产生特征X射线,可用于鉴定和定量样品中存在的不同元素。