光学材料学 第二部分：图像分析
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- 完成材料显微结构分析第一部分中的所有步骤。需要提醒的是，只有通过分析同一样品的多张图像，才能评估后续操作的可重复性。
- 如果具备可将像素按亮度分类并进行计数的数字分析软件，则可使用公式[1]基于<AA>估算孔隙体积。否则，当然也可以手动完成该分析。
- 现在使用<PP>估算孔隙体积。
- 在显微结构图像上叠加一个网格。网格线的交点将用作下一步的测试点。代表性结果中显示了165个点（图1）。
- 统计测试点的总数，以及位于孔隙区域内的测试点数量（图1中的深色区域）。
- 计算每张图像中落在孔隙区域内的测试点所占比例。
- 确定该点比例的平均值
，即样品中孔隙的体积分数。 - 通过在显微结构图像上叠加一组测试线，并统计测试线与晶界（相邻晶粒之间的边界）的交点数量，来测量晶粒尺寸。
- 为检测晶粒形状是否存在潜在的各向异性（择优取向），使用相对于水平方向呈0°、30°、60°和90°的直线（图2 a-d）。
- 记录单位测试线长度上测试线与晶界之间的交点数量。重复该步骤，将测试线平行于垂直轴方向放置。
- 分别计算两种情况下的平均截距晶粒尺寸G，并比较其数值。
本视频中的章节
0:08
概述
1:01
定量材料组织图像分析原理
3:07
样品制备：回顾
3:47
孔隙体积测量
5:28
晶粒尺寸测量
6:26
应用
7:18
总结
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