सूक्ष्म / नैनो पैमाने पर उच्च-सटीकता तनाव वितरण मापन के लिए 2-पिक्सेल और बहु-पिक्सेल नमूनाकरण विधियों की एक सैंपलिंग मोइर तकनीक यहां प्रस्तुत की गई है।