XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) ist eine zerstörungsfreie Technik, mit der die Oberflächenchemie eines Materials gemessen werden kann. Bei XPS trifft ein Röntgenstrahl bekannter Energie auf ein Atom. Ein Elektron der Kernschale absorbiert das Röntgenphoton und gewinnt so viel Energie, dass es seine Umlaufbahn verlassen kann.