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半導体ベースの次世代シーケンシングプラットフォームにおける異数性のための移植前遺伝子検査
 
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半導体ベースの次世代シーケンシングプラットフォームにおける異数性のための移植前遺伝子検査

Article DOI: 10.3791/63493-v 09:30 min August 17th, 2022
August 17th, 2022

Kapitel

Summary

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このプロトコルは、半導体ベースの次世代シーケンシングプラットフォーム上での異数性に対する移植前遺伝子検査に必要なラボ内の全体的な手順を提示します。ここでは、全ゲノム増幅、DNA断片選択、ライブラリ構築、テンプレート調製、シーケンシング作業フローの詳細なステップを代表的な結果とともに紹介します。

Tags

遺伝学 問題 186
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