XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, o XPS, es una técnica no destructiva que se puede utilizar para medir la química de la superficie de un material. En XPS, un rayo X de energía conocida incide sobre un átomo. Un electrón de la capa central absorbe el fotón de rayos X, ganando suficiente energía para abandonar su órbita.

El e...