XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

La spectroscopie photoélectronique à rayons X, ou XPS, est une technique non destructive qui peut être utilisée pour mesurer la chimie de surface d’un matériau. Dans XPS, un rayon X d’énergie connue frappe un atome. Un électron de la couche centrale absorbe le photon de rayons X, gagnant suffisamment d’énergie pour quitter son orbite.

L’é...