Afin d'obtenir une vue globale sur les différentes méthodes de fabrication des films perovskite, il est important de combiner structurelle, électronique, et la caractérisation de l'appareil. La microscopie électronique à balayage (MEB) donne une bonne impression de la morphologie. Par conséquent, tous les films produits par les différentes méthodes de fabrication ont été étudiés. Un sous - ensemble représentatif de films minces de perovskite est représentée sur la figure 1, qui permet de visualiser l'influence notable de la méthode de préparation de la morphologie du film.
Idéalement, un film lisse et sans trou d'épingle est souhaitée pour les appareils. Comme on le voit, ceci est le cas pour les films déposés en phase vapeur (F, G), les plongeurs revêtu ceux (d, e), et les films préparés à partir de co-solution avec l'additif de NH4CI et de l' atmosphère du toluène (a1 à a5) en faisant varier le rapport R de PbI 2 à AMI de 0,6 à 1,4. En revanche, les films witho ut additif (h), ainsi que le dip-enduit (d, e) et les déposer revêtues (b, c) montrent de grands vides, aiguille comme des structures, ou grande rugosité de surface et ne sont donc pas utiles pour les applications de l'appareil.

Figure 1: les images MEB de films perovskite préparés par les différentes méthodes de traitement. (A1 - a5) Co-solution avec additif et atmosphère de toluène avec un rapport différent du PBI 2 à MAI (R), (b) déposer le revêtement avec le temps de chargement de 40, (c) déposer le revêtement avec le temps de chargement de 120, ( d) le revêtement par immersion (le temps de chargement de 10), (e) le revêtement par immersion (le temps de chargement de 3.600), (f) co-évaporation, (g) d'évaporation séquentielle, (h) co-solution sans additif. Les barres d'échelle indiquent une longueur de 1 um.tp_upload / 55084 / 55084fig1large.jpg "target =" _ blank "> S'il vous plaît cliquer ici pour voir une version plus grande de cette figure.
Enfin, la figure 1 a1-a5 montrent des variations dans le rapport de mélange R du PBI 2 à AMI de 0,6 à 1,4 en utilisant la préparation co-solution avec additif et atmosphère de toluène. Les variations de la couverture de surface et la taille des cristaux montrent que ici aussi différentes morphologies de films apparaissent.
Bien que SEM est un bon outil pour visualiser la morphologie et la couverture des films minces et d'obtenir une impression sur le film rugosité, cependant aucune information structurelle est donnée.
Par conséquent, afin de mieux caractériser les films de perovskite, la diffraction des rayons X (XRD) a été utilisé. Avec cette technique en utilisant une anode en Cu K α (λ = 1,54056 Å) , les phases cristallines dans la plage de 2θ entre 10 6; et 40 (la taille de l'étape de 0,00836 °) ° ont été surveillés et caractérisés. Dans de nombreuses publications XRD est utilisée pour déterminer la qualité des films perovskite.
La figure 2 montre des mesures de diffraction des rayons X d'un sous - ensemble d'échantillons ayant six rapports de PbI 2 de mélange différents AMI, et correspond aux images MEB de la figure 1a1-a5 donc. En outre, le spectre pur PbI 2 est représentée. De là, l'influence de la stoechiométrie dans la solution de précurseur sur la qualité des couches de perovskite, tel que par exemple l'apparition de phases différentes, à savoir l'incorporation de phases additionnelles de PbI2 et AMI, est étudiée. Les spectres montrent une structure cristalline tétragonale et les reflets sont indexés avec leurs plans cristallins correspondants. De manière surprenante, aucune des phases supplémentaires de l' AMI ou PbI 2 ont été observées dans les films hors-stoechiométrique.
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Figure 2: diagramme de XRD de pur PbI 2 ainsi que des
échantillons perovskite préparés par le procédé de
co-solution (avec NH 4 Cl et de l'
atmosphère de toluène) en
utilisant différents rapports molaires des précurseurs (rapports donnés par les chiffres sur la droite). Pour assurer la comparabilité, les courbes sont normalisées à pic à 14.11 ° et décalés verticalement. Reproduit avec la permission de la référence
16. Droit d'auteur 2015 Wiley-VCH.
S'il vous plaît cliquer ici pour voir une version plus grande de cette figure. Comme XRD n'a pas fourni d'informations sur la composition du film, la spectroscopie de photoélectrons X (XPS) est utilisé, qui est capable de mesurer directement le film stoechiométrie. Pour cette mesure une α source d'excitation Mg K (hv = 1252,6 eV) Avec une énergie de passage de 10 eV (résolution énergétique = 800 meV) est utilisé. Les facteurs de sensibilité relative (RSF) doivent être prises en compte pour chaque élément mesuré individuellement. En tant que tel, il est important de calibrer les FSR pour le système de mesure (source de Mg K α, l' angle entre la source de rayons X et un analyseur 50,0 °). Nous avons utilisé un certain nombre de petites molécules pour calibrer le pic de l' iode avec Tris- (4-iodphenyl) -amine (C 18 H 12 I 3 N), et calibré Pb via PbI 2. Le carbone est utilisé en tant que référence, en tant que telle avec un SR (C1s) = 1, par conséquent, les facteurs de RSF pour les différents éléments sont: RSF (N1s) = 1,8, RSF (i3D 5/2) = 32,8, et RSF (Pb4f 7/2) = 16,5.
La figure 3 montre un spectre XPS représentatif d'un film déposé en phase vapeur, avec les pics caractéristiques du niveau de base indiqué dans le sous-chiffre supérieur. Dans les sous - figures inférieures i3D 5/2 (619,6 eV), N1S (402,7 eV), C1s (286.6eV), et Pb4f 7/2 (138,6 eV) pics sont présentés. Tous les signaux peuvent être équipés d'un seul pic mixte gaussien / Lorentzienne, seulement dans le cas de l'iode une petite fonctionnalité à des énergies de liaison supérieures est généralement observée, qui est cependant un pic de shake-up et donc pas liée à un état de liaison supplémentaire réelle. Nous sommes en mesure d'extraire la composition de film relatif de toutes les couches de perovskite préparées en intégrant sur l'intensité du signal et la normalisation par leur RSF respective 16. Dans certains des films, des écarts importants ont été trouvés à l'idéal film de stoechiométrie C: N: Pb: I de 1: 1: 1: 3; par exemple , le plomb ratio d'azote a varié entre 0,4 an d 1,5. Cela est particulièrement vrai pour les films déposées en phase vapeur, où la co-évaporation est difficile à contrôler et à reproduire. Pour les échantillons de la solution traitée, d'autre part, la valeur réelle et destinée rapports de mélange du précurseur conviennent très bien à la composition de film finale déterminéede XPS.

Figure 3: spectres XPS représentant. Au-dessus d'une analyse complète du XPS est affiché, en dessous du gros plan XPS mesures des pics intégrés sont présentés. S'il vous plaît cliquer ici pour voir une version plus grande de cette figure.
Afin d'étudier comment ces variations dans la composition du film influencent la densité d'états, nous avons tourné à la spectroscopie photoélectronique UV (UPS). Pour effectuer des mesures de l'onduleur, une lampe à décharge de l'hélium (He I à 21,22 eV, le biais de l'échantillon -8 V) est utilisé, avec une énergie de passage 2 eV, et une résolution de l'énergie 110 MeV (tel que déterminé à partir de la largeur du bord de Fermi). Pour tous les échantillons, une gamme complète a été mesurée, puis en utilisant une ouverture de l'analyseur plus élevé pour augmenter le rapport signal sur bruit, une analyse détaillée plus de balayage de résolution la région VB a été réalisée. Dans les spectres de l'onduleur, en particulier la région de balayage VB, pics satellites résultant du rayonnement polychromatique He I ont été corrigées pour tenir compte lors de l'analyse numérique des données.
La figure 4 montre les courbes UPS de l'ensemble de données complète de tous les échantillons étudiés, couvrant les deux méthodes (rouge foncé) co-évaporation et séquentielle (lumière rouge), ainsi que les différents traitements de solution. Nous voulons seulement souligner que des variations importantes dans les énergies d'ionisation (IE) sont observées, notable des variations de la position de liaison élevée de coupure d'énergie dans la parcelle de la main gauche de la figure 4. Ces changements sont provoqués par des variations dans la composition de traitement et le film et mènent à une accordabilité de IE entre 5,67 et 6,4 eV. Pour une discussion plus détaillée, se reporter à la référence 16.
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Figure 4: scans UPS d'un sous - ensemble représentatif des échantillons étudiés. Les panneaux de gauche montrent la coupure de liaison élevée d'énergie (HBEC) et la région de la bande de valence, tandis que le côté droit montre la haute résolution rapprochée du début VB pour (lignes rouges claires) déposées en phase vapeur et de la solution-traitée (rouge foncé lignes) des films perovskite. Toutes les courbes ont été déplacées le long de la x -axis afin d'être aligné à la fonction à environ 3 eV. Reproduit avec la permission de la référence 16. Droit d'auteur 2015 Wiley-VCH. S'il vous plaît cliquer ici pour voir une version plus grande de cette figure.
Comme nous l'avons appris de nos expériences précédentes que perovskite films préparés à partir de précurseurs différents rapports de mélange conduire à des variations de la structure électronique, sans perturber la structure cristalline du film, nous voulionspour étudier l'effet du rapport de précurseur sur les performances des cellules solaires. Par conséquent, ITO / PEDOT: PSS cellules solaires / pérovskite PC / BM 60 / Al ont été préparés en utilisant des couches de perovskite solution de co-traitée (avec additif et de l' atmosphère dans le toluène) en utilisant des rapports de PbI 2 de l' AMI de 0,7 à 1,2. La figure 5 montre l'impact de la stoechiométrie de film (destiné ratio R) sur les caractéristiques des cellules de conversion de puissance d' efficacité solaire (PCE), courant de court-circuit (J SC), tension en circuit ouvert (V OC) et facteur de remplissage (FF). Le rendement le plus élevé de 9,6% est constaté pour un rapport molaire de 1,02 prévu, soit près de la composition de perovskite idéale.

Figure 5: Valeurs caractéristiques de PCE, J SC, V OC, et FF. Ces valeurs ont été extraites à partir des mesures de l'énergie solaire dispositifs cellulaires indépendent du rapport de mélange R int destiné PBI 2 à AMI utilisé pour la préparation du film. Reproduit avec la permission de la référence 16. Droit d'auteur 2015 Wiley-VCH. S'il vous plaît cliquer ici pour voir une version plus grande de cette figure.