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La quantification des rayons x, microscopie à fluorescence (XRF) cartes en ajustant les spectres crus à une norme connue est cruciale pour évaluer la composition chimique et la distribution élémentaire dans un matériau. XRF axés sur le rayonnement synchrotron est devenue une technique de caractérisation intégrale pour une variété de sujets de recherche, notamment en raison de son caractère non destructif et sa grande sensibilité. Aujourd'hui, synchrotrons peuvent acquérir des données de fluorescence à résolution spatiale bien inférieure à un micron, ce qui permet l’évaluation des variations de compositions à l’échelle nanométrique. Par le biais de quantification appropriée, il est alors possible d’obtenir une compréhension approfondie et à haute résolution de ségrégation élémentaire, relations stœchiométriques et le comportement de regroupement.
Cet article explique comment utiliser les cartes de montage logiciel développé par l’Argonne National Laboratory, pour la quantification des cartes XRF complet 2-D. Nous utilisons comme exemple résulte d’un Cu (In, Ga) Se2 cellules solaires, prise à l’Advanced Photon Source beamline 2-ID-D Argonne National Laboratory. Nous montrons la procédure standard pour les données brutes de raccord, montrent comment évaluer la qualité d’un ajustement et présenter les produits typiques générés par le programme. En outre, nous discutons dans ce manuscrit, certain limitations de logiciel et de présenter des propositions pour savoir comment corriger davantage les données à être numériquement exactes et représentatives des spatialement résolue, concentrations élémentaires.