Article de méthode

Réglage des propriétés de l’oxyde par contrôle de la vacance d’oxygène pendant la croissance et le recuit

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DOI :

10.3791/58737

9 juin 2023

* These authors contributed equally

Dans cet article

Résumé

Les matériaux oxydés présentent de nombreuses propriétés exotiques qui peuvent être contrôlées en réglant la teneur en oxygène. Ici, nous démontrons l’ajustement de la teneur en oxygène dans les oxydes en faisant varier les paramètres de dépôt laser pulsé et en effectuant un post-recuit. À titre d’exemple, les propriétés électroniques des hétérostructures à base de SrTiO3 sont ajustées par des modifications de croissance et un recuit.

Résumé

Les propriétés électriques, optiques et magnétiques des matériaux oxydés peuvent souvent être contrôlées en faisant varier la teneur en oxygène. Nous décrivons ici deux approches pour faire varier la teneur en oxygène et fournissons des exemples concrets pour ajuster les propriétés électriques des hétérostructures basées sur SrTiO3. Dans la première approche, la teneur en oxygène est contrôlée en faisant varier les paramètres de dépôt lors d’un dépôt laser pulsé. Dans la deuxième approche, la teneur en oxygène est ajustée en soumettant les échantillons à un recuit dans de l’oxygène à des températures élevées après la croissance du film. Les approches peuvent être utilisées pour une large gamme d’oxydes et de matériaux non oxydés dont les propriétés sont sensibles à un changement de l’état d’oxydation.

Les approches diffèrent considérablement de la gating électrostatique, qui est souvent utilisée pour modifier les propriétés électroniques des systèmes électroniques confinés tels que ceux observés dans les hétérostructures basées sur SrTiO3. En contrôlant la concentration de vacance d’oxygène, nous sommes en mesure de contrôler la densité de la porteuse sur plusieurs ordres de grandeur, même dans des systèmes électroniques non confinés. De plus, les propriétés peuvent être contrôlées, qui ne sont pas sensibles à la densité des électrons itinérants.

Introduction

La teneur en oxygène joue un rôle essentiel dans les propriétés des matériaux oxydés. L’oxygène a une électronégativité élevée et, dans la limite entièrement ionique, attire deux électrons des cations voisins. Ces électrons sont donnés au réseau lorsqu’une vacance d’oxygène est formée. Les électrons peuvent être piégés et former un état localisé, ou ils peuvent devenir délocalisés et capables de conduire un courant de charge. Les états localisés sont généralement situés dans la bande interdite entre la bande de valence et la bande de conduction avec un moment angulaire total qui peut être non nul 1,2,3

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Protocole

1. Contrôle des propriétés en variant les conditions de croissance

  1. Préparation de surfaces de haute qualité de SrTiO3
    1. Achetez des substrats SrTiO3 à terminaison mixte (p. ex., de 5 mm x 5 mm x 0,5 mm) avec un angle de surface typique de 0,05°–0,2° par rapport aux plans cristallins (001).
      REMARQUE: L’angle de coupe erroné détermine la planéité de la surface, ce qui est important pour la croissance épitaxiale sur le substrat, ainsi que pour les propriétés résultantes à l’interface.
    2. Nettoyez le nombre souhaité de substrats par ultrasons dans de l’acétone pendant 5 min et de l’éthanol pendant 5 min à ....

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Résultats

Contrôle des propriétés en fonction de conditions de croissance variables
La variation des paramètres de dépôt pendant le dépôt d’oxydes peut entraîner une modification importante des propriétés, en particulier pour les hétérostructures à base de SrTiO3, comme le montre la figure 2.

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Discussion

Les méthodes décrites ici reposent sur l’utilisation de la teneur en oxygène pour contrôler les propriétés de l’oxyde, et la pression partielle d’oxygène et la température de fonctionnement sont donc des paramètres critiques. Si l’état d’oxydation totale du système est réglé de manière à ce que le système reste en équilibre thermodynamique avec l’atmosphère environnante (c.-à-d. pO2 modifié à haute température), les changements peuvent être réversibles. Cependant, dans le cas des hétérostructures à base de SrT.......

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Déclarations de divulgation

Les auteurs n’ont rien à divulguer.

Remerciements

Les auteurs remercient J. Geyti de l’Université technique du Danemark pour son assistance technique. F. Trèves reconnaît le soutien de la subvention de recherche VKR023371 (SPINOX) de VILLUM FONDEN. D. V. Christensen remercie le programme NERD de la Fondation Novo Nordisk : New Exploratory Research and Discovery, Superior Grant NNF21OC0068015.

....

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Matériaux

Liste des matériaux utilisés dans cet article
NomEntrepriseNuméro de catalogueCommentaires
SrTiO3CrystecMonocristallin (001) orienté, angle de coupe erroné de 0,05 à 0,2 degré
LaAlO3Shanghai Daheng Optique et mécanique fine Co.Ltd.Monocristallin
Al2O3Shanghai Daheng Optique et Mécanique Fine Co.Ltd.Monocristallin
Produits chimiques et gazFournisseurs standard Pâte
d’argentSPI Supplies, Structure Probe Inc05001-AB, Peinture argentée de haute pureté
UltrasoniseurVWRUSC500D HF45kHz / 100W
Connecteur de fil de coinShenzhen Baixiangyuan Science & Technology Co., Ltd.HS-853A Fils d’aluminium
Dépôt laser pulséTwente Solid State Technologies (TSST)PLD de TSST avec version logicielle V3.0.29, équipé d’un laser nanoseconde KrF
de 248 nm (Compex Pro 205 F) de Configuration de mesure de
résistanceSur mesureBasé sur les instruments électriques suivants et les logiciels écrits sur mesure :
Keithley 6221 Source de courant CC et AC
Keithley 2182A nanovoltmètre
Système de commutation Keithley 7001 avec une carte matricielle
Picoampèremètre Keithley 6487
Mesures à effet HallCryogénieBasé sur les instruments électriques suivants et le logiciel écrit sur mesure :
Keithley 2400 Source de courant DC
Keithley 2182A nanovoltmètre
Système de commutation Keithley 7001 avec une carte matricielle
Fourlogiciel écrit sur mesure d’un four tubulaire FTTF 500/70 de Scandia Ovnen AS et d’un régulateur de température eurotherm 2216e
cohérente Commande par

Références

  1. Pavlenko, N., Kopp, T., Tsymbal, E. Y., Sawatzky, G. A., Mannhart, J. Magnetic and superconducting phases at the LaAlO3/SrTiO3 interface: The role of interfacial Ti 3d electrons. Physical Review B. 85 (2), 020407(2012).
  2. Schütz, P., et al.

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Mots-clés

D p t par laser pulsCouches minces d oxydesProcessus de recuitH t rostructures de SrTiO3Ajustement de la densit de porteursPropri t s lectriquesPropri t s magn tiquesIng nierie des d fautsPr paration du substrat

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