Mesures de corrélations électroniques à longue portée au cours d’expériences de Diffraction femtoseconde effectuées sur les nanocristaux de fullerène

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22 août 2017

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Les auteurs décrivent une expérience conçue pour sonder les dommages électroniques induit chez des nanocristaux de buckminsterfullerène (C60) par des impulsions femtoseconde intense, des rayons x. L’expérience trouva que, étonnamment, plutôt que d’être stochastique, les rayons x induite par électron dynamique en C60 est fortement corrélée, s’étendant sur des centaines de cellules unitaires dans les cristaux1.

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Diffraction des rayons X femtoseconde

Chapters in this video

0:05

Title

0:52

C60 Powder Sample Preparation

2:53

Scans at the Linac Coherent Light Source, Coherent X-ray Imaging Beamline

4:12

Peak Analysis

6:09

Results: Evidence of Forbidden Reflections in FCC Nanaocrystals of C60 Subjected to X-ray Free Electron Laser Pulses

7:28

Conclusion

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