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JoVE Journal Engineering
Medições de tensão de campo integral para fadiga Microstructurally pequena rachadura propagação usando o método de correlação de imagem Digital
Investigation of Early Plasma Evolution Induced by Ultrashort Laser Pulses
Journal (Engineering)
Investigation of Early Plasma Evolution Induced by Ultrashort Laser Pulses
Creating Sub-50 Nm Nanofluidic Junctions in PDMS Microfluidic Chip via Self-Assembly Process of Colloidal Particles
Journal (Engineering)
Creating Sub-50 Nm Nanofluidic Junctions in PDMS Microfluidic Chip via Self-Assembly Process of Colloidal Particles
 
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Medições de tensão de campo integral para fadiga Microstructurally pequena rachadura propagação usando o método de correlação de imagem Digital

Article DOI: 10.3791/59134-v • 07:37 min • January 16th, 2019
January 16th, 2019 •
1, 1, 1, 1
1Department of Mechanical Engineering, Aalto University School of Engineering

Chapitres

résumé
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Comportamento de crescimento fadiga microstructurally pequena rachadura é investigado usando uma nova abordagem metodológica combinando rachadura crescimento taxa análise medição e estirpe-campo para revelar o campo de deformação cumulativa a nível sub grão.

Tags

Engenharia edição 143 correlação de imagem Digital fadiga pequena fenda rachadura atraso de taxa de crescimento sub grão nível localização de tensão de cisalhamento tensão de homogeneidade.
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