L’effet des paramètres d’anodisation sur la couche diélectrique d’oxyde d’aluminium des transistors minces

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12:32 min

24 mai 2020

10.3791/60798-v

24 mai 2020

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Les paramètres d’anodisation pour la croissance de la couche diélectrique d’aluminium-oxyde des transistors à couches minces de zinc-oxyde (TTET) sont variés pour déterminer les effets sur les réponses de paramètres électriques. L’analyse de la variance (ANOVA) est appliquée à une conception d’expériences Plackett-Burman (DOE) afin de déterminer les conditions de fabrication qui donnent lieu à des performances optimisées de l’appareil.

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Plan d exp riences de Plackett Burman

Chapters in this video

0:00

Introduction

2:48

Preparation of the Electrolytic Solution

3:55

Substrate Cleaning

5:24

Al Gate Electrode Evaporation

6:31

Anodization of the Al Layer

7:41

ZnO Active Layer Deposition

8:38

Drain and Source Electrodes Deposition

9:36

TFT Electrical Characterization

10:09

Results

11:22

Conclusion

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