Criblage de revêtements pour une batterie entièrement à semi-conducteurs utilisant la microscopie électronique à transmission in situ

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07:20 min

20 janvier 2023

10.3791/64316-v

20 janvier 2023

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En utilisant le changement de volume des nanoparticules de Si pendant la (dé)lithiation, le présent protocole décrit une méthode de criblage des revêtements potentiels pour les batteries entièrement à semi-conducteurs utilisant la microscopie électronique à transmission in situ .

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TEM in situ

Chapters in this video

0:04

Introduction

1:00

Preparation of Half‐Cut TEM Grids with Coated Si Nanoparticles for Checking the Suitability of ALD‐Deposited Titanium Dioxide Coatings

1:53

Preparing the Tungsten Needle

2:37

Loading the Drop‐Casted TEM Grid and Lithium Loaded Tungsten Needle into the In Situ TEM Holder

3:15

Inserting the Assembled In Situ Holder into the TEM

4:02

Performing the In Situ Biasing Experiment in the TEM and Analyzing the TEM Images

5:37

Results: Screening Method of Potential Coatings for All‐Solid‐State Batteries Using In Situ Transmission Electron Microscopy

6:28

Conclusion

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