Criblage de revêtements pour une batterie entièrement à semi-conducteurs utilisant la microscopie électronique à transmission in situ

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20 janvier 2023

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Shibarata Basak¹^,² , Junbeom Park¹ , Janghyun Jo² , Osmane Camara¹ , Amir H. Tavabi² , Hermann Tempel¹ , Hans Kungl¹ , Chandramohan George³ , Rafal E. Dunin-Borkowski² , Joachim Mayer²^,⁴ , Rüdiger-A. Eichel¹^,⁵

¹Institute of Energy and Climate Research - Fundamental Electrochemistry (IEK-9), Forschungszentrum Jülich GmbH, ²Ernst Ruska-Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons, Forschungszentrum Jülich GmbH, ³Dyson School of Design Engineering, Imperial College London, ⁴Central Facility for Electron Microscopy (GFE), RWTH Aachen University, ⁵Institute of Physical Chemistry, RWTH Aachen University

En utilisant le changement de volume des nanoparticules de Si pendant la (dé)lithiation, le présent protocole décrit une méthode de criblage des revêtements potentiels pour les batteries entièrement à semi-conducteurs utilisant la microscopie électronique à transmission in situ .