XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

ספקטרוסקופיה פוטו-אלקטרונית של קרני רנטגן, או XPS, היא טכניקה לא הרסנית שניתן להשתמש בה כדי למדוד את כימיית פני השטח של חומר. ב-XPS, קרני רנטגן של אנרגיה ידועה פוגעות באטום. אלקטרון מעטפת ליבה סופג את פוטון קרני הרנטגן, וצובר מספיק אנרגיה כדי לעזוב את מסלולו.

עודף אנרגיה הנספגת על ידי האלקטרון נשאר כאנרגיה הקינטית שלו. על ידי הרכבת ספקטרו...