בחירת חומרים
ננאופודרה של α-Alumina שימשה כמילאה הקרמית. על פי מפרט היצרן, לאבקה גודל גרגיר של כ-40 nm, שנקבע על ידי הרחבת קווי קרני X, גודל חלקיקים ממוצע (APS) של 150 nm, שנקבע על ידי שטח פנים ספציפי של BET ו-SEM, ושטח פנים ספציפי רב-נקודתי של BET של כ-10 m2/g. בהתבסס על מחקרים קודמים של פיזור חלקיקים במערכות פוטו-פולימר ואפוקסי ממולאות32, נמצא כי ריכוזי אלומינה נמוכים מאוד (למשל, 5 vol%) גורמים לתגובה פוטולומניסצנטית חלשה ולפיזור חלקיקים דל, מה שהופך אותם לבלתי מתאימים לחשיפה למאמצים אופטו-מכניים, בעוד שריכוזים גבוהים יותר (למשל, 20 vol%) גרמו לעלייה משמעותית בצמיגות שהקשתה על הזרקה וערבוב אחיד של התערובת, למרות שסיפקו אות חזק יותר. לפיכך, נבחר ריכוז של 15 vol% אלומינה כפשרה בין יכולת הייצור, ביצועי החשיפה ואיכות הפיזור.
הסדרה ניסיונית
הקמה של מערכת פייזו-ספקטרוסקופיה ניידת (PPS)
בניסויי הפוטו-לומיניסנציה (PL) נעשה שימוש במערכת פייזוספקטרוסקופיה ניידת (PPS) שפותחה בעבר, המורכבת מגש Raman מדגם RPB של חברת InPhotonics Inc, גש סיב אופטי דו-כיווני קומפקטי הכולל מראה דיכרואית ועדשת אובייקטיב מותאמת אישית בעלת מספר צמצם f/3.33,34מערכת ה-PPS הכוללת כוללת רכיבי חומרה ותוכנה כאחד. החומרה מורכבת מספקטרוגרף, התקן CCD (charge-coupled device), לייזר, סיבים אופטיים ומחשב.33,34עבור התוכנה, נעשה שימוש בשתי תוכניות עיקריות: MATLAB ו-LightField. תוכניות מבוססות MATLAB משמשות בעיקר לעיבוד נתונים לאחר הבדיקה (post-processing), ו-LightField משמשת לאיסוף הנתונים מה-CCD. איור 1 מציג את מערך הניסוי המלא עבור שני תנאי ההקשיה לצד עקרון המדידה העומד בבסיסם, תוך הדגמת התצורות במגע (תבנית) וללא מגע (לביטציה אקוסטית)איור 1A ו- איור 1B), המאמץ המעיך הנוצר בחלקיקי האלומינה עם הת굳דות השרף (איור 1C), והסטה של שיא הפוטולומינסנציה המתאימה שימשה כאינדיקטור למאמץ זה (איור 1D). בהגדרת המכל, מתקן התבנית מוקם באותו מיקום של מרכז שדה הלביטציה האקוסטית כדי לשמור על גאומטריה עקבית בין שתי התצורות. יחידת ה-UV LED (אורך גל של 405 ננומטר, הספק נקוב של 10 וואט, מארז בדירוג IP66) הונחה במרחק של 6 ס"מ מהדגימה, והגשושית הסיבית הופנתה אל הדגימה כדי לאסוף את אות הפוטולומינצנציה באופן רציף במהלך הפולימריזציה. ה-UV LED מוקם כך שיימנעת הארה ישירה של הגשושית הסיבית, ובכך נמנע נזק לסיב. שיאי פוטולומינצנציה של אלומינה נאספו לאורך זמן במהלך הפולימריזציה ב-UV, והסטות בשיאים נוטרו כפי שמוצג ב- איור 1Dבמהלך הפוטו-פולימריזציה, השרף מתמצק סביב חלקיקי אלומינה משובצים ועובר התכווצות פולימריזציה, המייצרת מאמץ לחיצה מקומי המועבר לחלקיקי האלומינה (איור 1C), דבר הגורם להסטה של שיא הפוטולומינצנציה ממיקומו הראשוני ללא מאמץ. מיקומי השיאים הופקו לאחר מכן מ-LightField, והסטה בשיא חושבה ב-MATLAB על ידי השוואת מיקום כל שיא למיקום השיא הראשוני לפני החשיפה ל-UV.
הגדרת מערך לדיפרקציית קרני X בסינכרוטרון
מדידות עקיפת קרני X בסינכטרון (XRD) בוצעו in situ במהלך תהליך ההקשייה בקו קרן 6-ID-D של ה-Advanced Photon Source במעבדה הלאומית ארגון (Argonne National Laboratory) בארה"ב. איור 2 מציג את מערך ה-XRD הסינכרוטרוני הן לתנאי מגע והן לתנאים ללא מכל, יחד עם עקרון המדידה המראה כיצד מאמץ המושרה מהקשייה משנה את המרווחים בסבכה של האלומינה כדי להפיק הסטה ניתנת לזיהוי של השיא (איור 2A–C).

איור 2. מערך עקיפת קרני X סינכרוטרוני ועקרון מדידה עבור פתיקה במגע וללא מכל. (A) תנאי מגע שבהם השרף ממוקם בתבנית במהלך פתיקה ב-UV ואיסוף נתוני XRD. (B) תנאי ללא מכל שבהם טיפת השרף תלויה בשדה לביטציה אקוסטית במהלך פתיקה ב-UV ואיסוף נתוני XRD. (C) מאמץ המושרה מהפתיקה משנה את המרווחים בסבכה של האלומינה, מה שגורם להסטה בשיא ה-XRD המשמשת לחישוב המאמץ במהלך ההתמצקות. אנא לחצו כאן כדי להציג גרסה גדולה יותר של איור זה.
הדגימה הוקרנה באמצעות אלומה מקבילה של פוטונים בעוצמה של 90.5 keV (המתאימה לאורך גל של λ = 0.137 ˚A) בעלת ממדים מקורבים של 0.5 × 0.5 mm, שמוקמה בקירוב במרכז הדגימה, כפי שמוצג ב-איור 2A,B. המרחק בין הדגימה לגלאי נקבע לכ-1.5 m כדי ללכוד את שיאי האלומינה הרלוונטיים. תבניות עקיפה דמויות טבעת נרשמו על גבי גלאי לוח שטוח Varex XRD 4343RF (מטריצה של 2880 × 2880 פיקסלים, גודל פיקסל של 150 µm) המסוגל לדימות בזמן אמת במהירות גבוהה של עד 15 fps. הנתונים נאספו לזמן רכישה כולל של 600 s לכל ניסוי.
בדומה להגדרת ה-PPS, המדידות בוצעו הן בתנאי מגע והן בתנאים ללא מגע עם מיכל (איור 2A,B). נורת ה-UV LED הוצבה במרחק של 6 cm מהדגימה, בהתאם לתצורת ה-PPS, ומתקן התבנית והדגימה המרחפת מוקמו באותה נקודת מדידה כדי לשמור על עקביות גיאומטרית. מכלול המתקן המלא הורכב על במה ליניארית כדי לאפשר יישור של הדגימה במגע או של החרוץ המרחף עם קו הקרינה לפי הצורך. לאחר מכן, נבחנו הסטות בשיאי ה-XRD לאורך זמן במהלך הפבעה ב-UV (איור 2C), כיוון שמאמצים המושרים מהפבעה המועברים לחלקיקי האלומינה המוטמעים יוצרים שינוי מדיד במרווחי הסריג.
הכנת דגימה
אבקת אלומינה עורבבה בריכוז של 15 vol% עם שרף נוזלי בתוך כלי ערבוב/ביקר, וערבבה באמצעות מוט ערבוב כדי להבטיח פיזור הומוגני של חלקיקי האלומינה, כפי שמוצג ב-איור 3A.

איור 3. זרימת העבודה של הכנת דגימות, חלוקה ומדידה in situ. (A) אבקת אלומינה ושרף נוזלי מעורבבים להכנת ת сусפנזיה (slurry) הומוגנית של ננו-composite. (B) הת сусפנזיה שהוכנה מחולקת למרחב של לביטציה אקוסטית ליצירת חרוז ללא מכל, או לתבנית סיליקון עבור תנאי מגע. (C) מדידות PL ו-synchrotron XRD מבוצעות הן עבור תנאי הפקרה ללא מכל והן עבור תנאי מגע, כדי להשוות שינויים ספקטרליים המשקפים מאמץ שיורי ואבולוציה מבנית. אנא לחצו כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של איור זה.
תמיסת הננו-קומפוזיט נשמרה על בוחש מגנטי לאורך כל הניסוי כדי להבטיח פיזור טוב של חלקיקי האלומינה. לאחר הפיזור, התמיסה הועברה למזרק הזרקה כהכנה למסירת הדגימה, כפי שמוצג ב-איור 3A. לפני כל ניסוי, התמיסה שהוכנה הועברה למזרק לצורך הזרקה למערך הלביטציה האקוסטית או לתבנית הסיליקון.
חלוקת דגימות וריחוף מבוקר
עבור תנאי הלביטציה האקוסטית (ללא מכל), אזור הצומת האקוסטי נקבע לפני ההזרקה. המזרק הטעון הוחזק בזווית של כ-45° ביחס למישור הקרקע (איור 3B), והסלרי הוזרק לאט לתוך הלביטטור עד להשגת צורה יציבה של טיפה אליפטית בתוך השדה האקוסטי, עם נפח טיפה ראשוני של כ-5–7 µL, אשר הותאם במידת הצורך בהתאם לתנאי השדה האקוסטי הנדרשים לשמירה על טיפה יציבה. לאחר הזרקה מוצלחת, הותאמה האמפליטודה בתוכנת הלביטציה כדי לייצב את הטיפה.
שני תצרויות שונות של מרחף אקוסטי בעל ציר יחיד ובעל שני צירים מאותו יצרן שימשו למחקר, בהתאם לאופן המדידה. שתי התצרויות פעלו בתדר תהודה מכויל אוטומטית של כ-22,400–22,450 Hz עם ההפעלה, כאשר תדר העבודה נקבע על ידי הכיול האוטומטי של המכשיר ולא הוגדר ידנית. עבור ניסויי synchrotron XRD במעבדה הלאומית של ארגון ארגון (ANL), נעשה שימוש בתצורת ציר יחיד, המורכבת ממתמר אולטרסוני אחד הממוקם מעל מחזיר אחד, כאשר המרחק בין המתמר למחזיר נקבע בהתאם להגדרת היצרן הסטנדרטית של המרחף. עבור ניסויי PPS, נעשה שימוש בתצורת שני צירים, המורכבת משני מתמרים אולטרסוניים נגדיים (עליון ותחתון), כאשר המרחק בין המתמרים נקבע באופן דומה לפי הגדרת היצרן הסטנדרטית.
בשתי התצורות, מיקום הצומת האקוסטית ומיקום הדגימה בתוך השדה נשמרו עקביים בין דגימות חוזרות בתוך אותו סשן: מיקומה של הדגימה הראשונה שהוגשה נקבע באמצעות מדריך הלייזר ליישור, ודגימות עוקבות הוגשו באותה נקודת ייחוס, כך שלא היה צורך להגדיר מחדש את מיקוד הקרן והפרובה עבור כל דגימה חדשה.
עבור מערכת ה-XRD בעלת הציר הבודד, הוגברה האמפליטודה עד שהטון האקוסטי הנפלט מהלביטטור הפך לשמיע, ובנקודה זו הוזרק תרחיף באמצעות מזרק אל הצומת (node). לאחר מכן, כווננה האמפליטודה כדי לתמוך בריחוף יציב.
עבור מערכת ה-PPS בעלת שני הצירים, משרעות המתמר העליון והתחתון כווננו באופן עצמאי באמצעות התוכנה עד שהחריזה נלכדה באופן יציב, ולא כוונו מחדש במהלך שאר מהלך הפילול.
בשני התצורים, תנאי הריחוף נחשב לקביל כאשר תנועת החרוץ סביב הצומת לא הוציאה את הדגימה מהמיקוד של קרן המדידה: עבור XRD, נדרש שהחרוץ יישאר מיושר בתוך טביעת הרגל של קרן ה-X-ray שגודלה כ-500 µm במיקום המדידה (ראו Synchrotron X-ray Diffraction Setup); עבור PPS, נדרש שהחרוץ יישאר בתוך נקודת המיקוד של הפרוב הסיב-אופטי, דבר שאושר על ידי זיהוי מתמשך של שיא פוטולומינסנציה של alumina ברור ומוגדר בתוכנת הרכישה בזמן אמת.
עבור תנאי המגע (תבנית סיליקון), התמיחה הועברה ישירות לתוך התבנית באמצעות המזרק הטעון, כפי שמוצג גם ב-איור 3B. ממדי חלל התבנית היו 3 × 3 × 2 mm, והתמיחה הועברה כך שתמלא באופן מלא את נפח התבנית (~10.5 μL). תמיחה עודפת הוסרה מפני התבנית, והתבנית כוסתה במכסה זכוכית. לאחר מכן בוצעו ניסויי PL ו-XRD הן עבור תנאי חוסר המגע והן עבור תנאי המגע, כפי שמוצג ב-איור 3C. כל ניסוי חזר על עצמו כדי להבטיח השוואתיות ושחזוריות.
In situ איסוף נתונים
ספקטרוסקופיה של פוטולומינצנציה
לאחר שהדגימה הונחה בשדה הלביטציה האקוסטית או בתבנית, הופעל הלייזר; משקפי מגן נלבשו לאורך כל פעולות הלייזר. נקודת המוקד עובדה באמצעות תוכנת LightField כדי לזהות את האות החזק ביותר, דבר שאושר ויזואלית כנקודת הלייזר הקטנה והבהירה ביותר על הדגימה. איסוף שיאי הפוטולומינצנציה של האלומינה החל לפני החשיפה ל-UV, כאשר שיאים נרכשו בכל 0.5 s. לאחר 5 s של איסוף קו בסיס טרום-UV, הופעל נורית ה-UV LED, ואיסוף הנתונים נמשך במשך 5 min כדי להבטיח פולימריזציה מלאה של הדגימה. לאחר הפולימריזציה, נורית ה-UV LED כובתה. עבור התנאי ללא מכל, חרוז הפולימריזציה הועבר אל תוך מכל; עבור תנאי המגע, דגימת הפולימריזציה הוצאה מתבנית הסיליקון באמצעות פינצטה. מגע ישיר עם הדגימות נמנע לאורך כל התהליך כדי למנוע זיהום וגירוי של העור.
עקיפת קרני X בסינכרוטרון
לאחר הצבת הדגימה, קרן ה-X-ray כווננה למרכז הדגימה: מרכז החשכה המרחפת עבור תנאי חוסר המגע (containerless) ומרכז הדגימה בתוך התבנית עבור תנאי המגע. תא הניסוי נסגר לפני הפעלת קרן ה-X-ray. קרן ה-X-ray ונורת ה-UV LED הופעלו בו-זמנית, ונתוני עקיפה (diffraction) נאספו לאורך כל תהליך הפילוס (curing) ב-UV. איסוף הנתונים נמשך עד שהדגימה עברה פילוס מלא; במחקר זה, נתונים נאספו במשך 10 min כדי ללכוד את מלוא טווח העניין. לאחר הפילוס, נורת ה-UV LED וקרן ה-X-ray כובו, והדגימות נאספו כפי שמתואר עבור מערך הספקטרוסקופיה, תוך הימנעות ממגע ישיר כדי למנוע זיהום וגירוי של העור.
ניתוח נתונים
שיטת התאמת שיאי פוטולומינסנציה
ספקטרום פוטולומינסצנציה גולמי המכילים את שיאי האלומינה R1 ו-R2 (איור 4A) הופקו מכלל מערך הנתונים של תהליך ההקשיה ויובאו ל-MATLAB לצורך עיבוד נתונים.

איור 4. זרימת עבודת ניתוח נתונים למדידות PL ו-synchrotron XRD. (A) ספקטרי PL מעובדים על ידי הסרת רקע והתאמה של פונקציית pseudo-Voigt לשיאי ה-alumina R1 ו-R2 כדי לחלץ את מיקומי השיאים במהלך הפרוסס של הריפוי (curing). (B) טבעות עקיפה של synchrotron XRD מומרות ומאוחדות לפרופיל עקיפה חד-ממדי, ולאחריהן התאמה של פונקציית pseudo-Voigt לשיא ה-alumina (116) כדי לחלץ את מיקום השיא ולחשב את המאמץ (strain) המושרה על ידי הריפוי. אנא לחץ כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של איור זה.
רעש רקע הוסר מכל ספקטרום, וקו הבסיס השפוע תוקן כדי להתיישב בקירוב עם ציר ה-x. התאמה מסוג Pseudo-Voigt הוחלה על שיאי הפוטולומינסנציה של האלומינה כדי להתאים במדויק את שיאי R1 ו-R235. השיאים הותאמו באמצעות אלגוריתם אופטימיזציה לא-ליניארי עם אילוצים (fmincon) לפונקציית pseudo-Voigt, כאשר השטח, מיקום המרכז, FWHM וגורם צורה (0 = גאוסי טהור, 1 = לורנצייני טהור) שימשו כארבעת הפרמטרים החופשיים לכל שיא (R1 ו-R2). רקע ליניארי, שהותאם לעצימות הגולמית ב-14300 ו-14500 cm⁻1, הופחת מכל ספקטרום לפני ההתאמה. הערכות ראשוניות לפרמטרים נקבעו ישירות מכל ספקטרום שהוחלק ותוקן קו הבסיס שלו, וגבולות ההתאמה נקבעו כטווח אחוזים סביב כל הערכה ראשונית (שטח: 50–150%; FWHM: 60–180%). איכות ההתאמה הוערכה באמצעות שגיאת השורש הממוצע של הריבועים הנורמלית (NRMSE). מיקומי שיאים מותאמים הופקו בכל נקודת זמן לאורך תהליך הפבישה, והסטות השיאים חושבו על ידי השוואת כל מיקום מותאם לערך הראשוני לפני החשיפה ל-UV.
שיטת התאמת שיאים ב-XRD
תמונות עקיפה דו-ממדיות יובאו לתוכנת עיבוד ה-XRD או ל-MATLAB לצורך ניתוח. ניתן לנתח נתוני XRD כדי להפיק מידע על מאמץ בחומר36,37,38. טבעות עקיפה מחלקיקי האלומינה זוהו (איור 4B), והטבעה המתאימה לשיא האלומינה (116) נבחרה בהתבסס על בהירותה למעקב אחר שינויים במרחקי הסריג. זיהוי הטבעות ישירות בתמונת העקיפה הדו-ממדית בשלב זה שימש כבדיקה איכותית של איכות הנתונים לפני האינטגרציה, ובכך אישר טבעות מלאות ורציפות (המעידות על הארה אחידה של הדגימה והיעדר קיטוע של הקרן), יישור נכון של הגלאי ומיקום מרכז מדויק, והיעדר פיזור פראסיטי או מאפיינים שגויים שעלולים לעוות את הפרופיל המשולב. לאחר שאיכות הטבעה אושרה, הטבעה הנבחרה הומרה לתמונה עם טרנספורמציה אזימותית ושולבה על פני טווח אזימותי מלא של 360° כדי להפיק פרופיל עקיפה חד-ממדי, ששימש לאחר מכן להתאמה כמותית של מיקום השיא לצורך חילוץ המרחק d-spacing וחישוב המאמץ המושרה מההקשיה. שיא האלומינה (116) בפרופיל המשולב הותאם לפונקציית pseudo-Voigt כדי לקבוע את מיקום השיא, ו Selanjutnya חולץ בכל פרימת עקיפה במהלך ההקשיה. שיאים הותאמו באמצעות אלגוריתם ריבועים פחותים לא-ליניארי (lsqnonlin) לפונקציית pseudo-Voigt, כאשר העוצמה, מיקום המרכז, הרוחב (FWHM) והצורה (יחס Gaussian-to-Lorentzian) שימשו כפרמטרי התאמה. רקע ליניארי הופחת מכל ספקטרום לפני ההתאמה. ההתאמות הוגבלו על ידי אילוצי גבול עם סובלנות התכנסות של 10⁻4. השינוי במרחקי הסריג חושב ממיקומי השיאים המותאמים באמצעות חוק בראג:

כאשר d הוא המרחק בין המישורים בסבכה, n הוא סדר העקירה, λ הוא אורך גל של קרני הרנטגן, ו-θ היא זווית בראג. לצורך השוואה ישירה עם תבניות עקיפה סטנדרטיות של אלומינה, המקבלות באופן מוסכם אינדקסים באמצעות קרינת Cu Ka, השתמשו במרחקי ה-d שנמדדו כדי לחשב ערך 2θ שקול המתאים לקרינת Cu Ka עם λ = 1.54056 Å על פי חוק בראג. קנה מידה זה של 2θ שקול מוסכם, במקום קנה המידה של 2θ המקורי מהסינכרוטרון (λ = 0.137 Å), משמש עבור ציר זווית העקיפה. מאמץ המושרה מההקשחה חושב לאחר מכן על ידי השוואת המרחק בין המישורים בכל נקודת זמן לעד הערך הראשוני לפני החשיפה ל-UV:

כאשר dt = n s הוא המרווח הסבכתי בכל נקודת זמן במהלך הפולימריזציה ו-d0 הוא המרווח הסבכתי הראשוני לפני החשיפה ל-UV.