בחירת חומרים
נאנו-אבקה של α-Alumina שימשה כמילא הקרמי. על פי מפרט היצרן, לאבקה גודל גרעין של כ-40 nm, שנקבע באמצעות הרחבת קו של קרני X, גודל חלקיקים ממוצע (APS) של 150 nm, שנקבע על ידי שטח פנים ספציפי של BET ו-SEM, ושטח פנים ספציפי רב-נקודתי של BET של כ-10 m2/g. על בסיס מחקרים קודמים של פיזור חלקיקים במערכות פוטופולימר ואפוקסי ממולאות32, נמצא כי ריכוזי אלומינה נמוכים מאוד (למשל, 5 vol%) גורמים לתגובה פוטולומינסנטית חלשה ולפיזור חלקיקים דל, מה שהופך אותם לבלתי מתאימים לחשיפה למאמצים אופטו-מכניים, בעוד שריכוזים גבוהים יותר (למשל, 20 vol%) גרמו לעלייה משמעותית בצמיגות שהקשתה על ההזרקה והערבוב האחיד של התערובת, למרות שסיפקו אות חזק יותר. לפיכך, נבחר ריכוז של 15 vol% אלומינה כפשרה בין יכולת הייצור, ביצועי החשיפה ואיכות הפיזור.
הסדרה הניסיונית
הקמה של מערכת פייזוספקטרוסקופיה ניידת (PPS)
ניסויי ה-PL בוצעו באמצעות מערכת פייזוספקטרוסקופיה ניידת (PPS) שפותחה בעבר, המורכבת מגשש Raman מדגם RPB של חברת .InPhotonics Inc, גשש סיב אופטי דו-כיווני קומפקטי הכולל מראה דיכרואית ועדשת objective f/3 בהתאמה אישית3,34. מערכת ה-PPS הכוללת מורכבת מרכיבי חומרה ותוכנה. החומרה כוללת ספקטרוגרף, התקן CCD (charge-coupled device), לייזר, סיבים אופטיים ומחשב3,34. מבחינת התוכנה, נעשה שימוש בשתי תוכנות עיקריות: MATLAB ו-LightField. תוכנות מבוסות MATLAB משמשות בעיקר לעיבוד נתונים לאחר הניסוי (post-processing), ו-LightField משמשת לאיסוף הנתונים מה-CCD. איור 1 מציג את מערך הניסוי המלא עבור שני תנאי הפולימריזציה לצד עקרון המדידה העומד בבסיסם, ומדגים את תצורות המגע (תבנית) והתצורה ללא מגע (לביטציה אקוסטית)(איור 1A ו- איור 1B), את מאמץ הלחץ שנוצר בחלקיקי האלומינה בעת התגבשות השרף (איור 1C), ואת הזזת שיא הפוטולומינסנציה התואמת המשמשת כאינדיקטור למאמץ זה (איור 1D). בהתקן ללא המכל, מתקן התבנית מומשם באותו מיקום שבו נמצא מרכז שדה הלביטציה האקוסטית כדי לשמור על גיאומטריה עקבית בין שתי התצורות. יחידת ה-UV LED (אורך גל 405 nm, הספק נקוב 10 W, מארז בדירוג IP6) הוצבה במרחק של 6 cm מהדגימה, והגשש הסיב האופטי הופנה אל הדגימה כדי לאסוף את אות הפוטולומינסנציה באופן רציף במהלך הפולימריזציה. ה-UV LED מומשם כך שיימנעת הקרנה ישירה על הגש הסיב האופטי, ובכך נמנע נזק לסיב. שיאי פוטולומינסנציה של אלומינה נאספו לאורך זמן במהלך הפולימריזציה ב-UV, והזות השיא נוטרו כפי שמוצג ב-איור 1D. במהלך הפוטו-פולימריזציה, השרף מתגבש סביב חלקי האלומינה המשובצים ועובר התכווצות פולימריזציה, דבר היוצר מאמץ לחץ מקומי המועבר לחלקי האלומינה (איור 1C), מה שגורם לשיא הפוטולומינסנציה לסטות ממיקומו הראשוני ללא מאמץ. מיקומי השיאים הופקו לאחר מכן מ-LightField, והזת השיא חושבה ב-MATLAB על ידי השוואת מיקום כל שיא למיקום השיא הראשוני לפני החשיפה ל-UV.
הסדרה של מערך עקיפת קרני X בסינכרוטרון
מדידות עקיפת קרני רנטגן (XRD) מסנכרוטרון בוצעו in situ במהלך תהליך הפתיקה בקו קרן 6-ID-D של ה-Advanced Photon Source במעבדה הלאומית ארגון (Argonne National Laboratory), ארה"ב. איור 2 מציג את מערך ה-XRD של הסינכרוטרון הן עבור תנאי מגע והן עבור תנאים ללא מכל, יחד עם עקרון המדידה המראה כיצד מאמץ המושרה על ידי הפתיקה משנה את המרווחים בסבכה של האלומינה כדי להפיק הסטה ניתנת לזיהוי של השיא (איור 2A–C).

איור 2הסדרה של מערכת עקיפת קרני רנטגן מסנכרוטרון ועקרון המדידה עבור הקשיה במגע ובלילוי ממיכל. (A) תנאי מגע כאשר שרף נמצא בתוך תבנית במהלך הקשיה בעזרת UV ואיסוף נתוני XRD. (B) תנאי ללא מכל, כאשר חרוז שרף מושעה בשדה לביטציה אקוסטית במהלך פUpdateTime ב-UV ואיסוף נתוני XRD. (Cמאמצים המושרים מהקשיה משנים את המרווח הסבכתי של האלומינה, מה שגורם להזזה בשיא ה-XRD המשמשת לחישוב המאמץ במהלך ההתמצקות. אנא לחצו כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של איור זה.
הדגימה הוקרנה באמצעות אלומת פוטונים מקבילה של 90.5 keV (המתאימה לאורך גל של λ = 0.137 ˚A) בעלת ממדים מקורבים של 0.5 × 0.5 mm, שהוצבה בקירוב במרכז הדגימה, כפי שמוצג ב-איור 2A,B. המרחק בין הדגימה לגלאי נקבע לכ-1.5 m כדי ללכוד את שיאי האלומינה הרלוונטיים. תבניות עקיפה דמויות טבעת תועדו באמצעות גלאי פאנל שטוח Varex XRD 4343RF (מטריצת פיקסלים של 280 × 280, מרווח פיקסלים של 150 µm) המסוגל לביצוע דימוי בזמן אמת במהירות גבוהה של עד 15 fps. הנתונים נאספו למשך זמן רכישה כולל של 60 s לכל ניסוי.
בדומה להגדרת ה-PPS, המדידות בוצעו הן בתנאים של מגע והן בתנאים ללא מכל (איור 2A,B). נורית ה-UV LED הוצבה במרחק של 6 cm מהדגימה, בהתאם לתצורת ה-PPS, ומתקן התבנית והדגימה המרחפת מוקמו באותה נקודת מדידה כדי לשמור על עקביות גיאומטרית. כל מכלול המערך הותקן על במה ליניארית כדי לאפשר יישור של הדגימה במגע או של החרוז המרחף עם קו הקרן לפי הצורך. לאחר מכן, נבחנו הסטות בשיאי ה-XRD לאורך זמן במהלך הפעולה של UV curing (איור 2C), שכן מאמץ המושרה מההקשיה המועבר לחלקי האלומינה המוטמעים יוצר שינוי מדיד במרווחי הסריג.
הכנת דגימות
אבקת אלומינה עורבבה בריכוז של 15 vol% עם שרף נוזלי בכלי ערבוב/ביקר, ונערבבה בעזרת מוט ערבוב כדי לעודד פיזור הומוגני של חלקיקי האלומינה, כפי שמוצג ב-איור 3A.

איור 3הכנת דגימות, חלוקה ו במקום (in situ) תהליך העבודה של המדידה. (Aמערבבים אבקת אלומינה ושרף נוזלי כדי להכין תמיסת ננו-composite הומוגנית.Bאת התסביב שהוכן מחלקים, או אל שדה לביטציה אקוסטית ליצירת חרוז ללא מכל, או אל תבנית סיליקון עבור תנאי המגע.Cמדידות PL ו-XRD בסינכרוטרון מבוצעות הן בתנאי פתיקה ללא מגע (containerless) והן בתנאי פתיקה במגע, כדי להשוות שינויים ספקטרליים המשקפים מאמץ שיורי ואבולוציה מבנית. אנא לחץ כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של איור זה.
תמיסת הננו-קומפוזיט נשמרה על מעב מגנטי לאורך כל הניסוי כדי לשמור על פיזור טוב של חלקי האלומינה. לאחר הפיזור, התמיסה הועברה למזרק הגשה כהכנה להעברת הדגימה, כפי שמוצג ב-איור 3A. לפני כל ניסוי, התמיסה שהוכנה הועברה למזרק לצורך הגשה לתוך שדה הלביטציה האקוסטית או לתבנית הסיליקון.
חלוקת דגימות וריחוף מבוקר
עבור תנאי הלביטציה האקוסטית (ללא מכל), מיקום אזור הצומת האקוסטית נקבע לפני ההזרקה. המזרק הטעון הוחזק בזווית של כ-45° ביחס למישור הקרקע (איור 3B), והסלרי הוזרק באיטיות לתוך הלביטטור עד להשגת צורת חרוץ אליפטית יציבה בתוך השדה האקוסטית, כאשר נפח הטיפה הראשוני שהוזרק היה כ-5–7 µL, אשר הותאם במידת הצורך בהתאם לתנאי השדה האקוסטית הנדרשים לשמירה על חרוץ יציב. לאחר הזרקה מוצלחת, נעשתה התאמה של האמפליטודה בתוכנת הלביטציה כדי לייצב את החרוץ.
שני תצורות שונות של מרחף אקוסטי בעל ציר בודד ובעל שני צירים מאותו יצרן שימשו במחקר, בהתאם למודליות המדידה. שתי התצורות פעלו בתדר תהודה שעבר כיול אוטומטי של כ-22,40–2,450 Hz עם ההפעלה, כאשר תדר העבודה נקבע על ידי הכיול האוטומטי של המכשיר ולא הוגדר ידנית. עבור ניסויי synchrotron XRD במעבדה הלאומית של ארגון ארגון (ANL), נעשה שימוש בתצורת ציר בודד, המורכבת ממתמר אולטרסוני אחד הממוקם מעל מחזיר אחד, כאשר המרחק בין המתמר למחזיר נקבע בהתאם להגדרת היצרן הסטנדרטית של המרחף. עבור ניסויי PPS, נעשה שימוש בתצורת שני צירים, המורכבת משני מתמרים אולטרסוניים נגדיים (עליון ותחתון), כאשר המרחק בין המתמרים נקבע באופן דומה לפי הגדרת היצרן הסטנדרטית.
בשתי התצורות, מיקום הצומת האקוסטית ומיקום הדגימה בתוך השדה נשמרו באופן עקבי בין דגימות חוזרות בתוך אותה סשן: מיקומו של הדגימה הראשונה שהוגשה נקבע באמצעות מדריך לייזר ליישור, ודגימות עוקבות הוגשו באותו מיקום ייחוס, כך שלא היה צורך להגדיר מחדש את מיקוד הקרן והפרוב עבור כל דגימה חדשה.
עבור מערכת ה-XRD בעלת הציר הבודד, האמפליטודה הוגברה עד שהצליל האקוסטי שנפלט מהלביטטור היה נשמע, ובשלב זה הוזרק התסמין (slurry) באמצעות מזרק אל הצומת (node). לאחר מכן, האמפליטודה כווננה כדי לתמוך בריחוף יציב.
עבור מערכת ה-PPS בעלת שני הצירים, אמפליטודות המתמר העליון והתחתון כווננו באופן עצמאי באמצעות התוכנה עד שהחרוז נלכד באופן יציב, ולא כווננו מחדש באופן פעיל במהלך שאר הרצת הפעולה של תהליך הפולימריזציה המוגדר.
בשני התצורים, תנאי הריחוף נחשב לקביל כאשר תנועת החרוץ סביב הצומת לא הזיזה את הדגימה מחוץ למיקוד של קרן המדידה: עבור XRD, נדרש שהחרוץ יישאר מיושר בתוך טביעת הרגל של קרן רנטגן ברוחב של ~50 µm במיקום המדידה (ראה Synchrotron X-ray Diffraction Setup); עבור PPS, נדרש שהחרוץ יישאר בתוך נקודת המיקוד של הגשש הסיב-אופטי, דבר שאומת על ידי גילוי מתמשך של שיא פוטולומינסנציה ברור ומוגדר של אלומינה בתוכנת הרכישה בזמן אמת.
עבור תנאי המגע (תבנית סיליקון), התמיסה הוכנסה ישירות לתבנית באמצעות המזרק הטעון, כפי שמוצג גם ב-איור 3B. מידות חל התבנית היו 3 × 3 × 2 mm, והתמיסה הוכנסה עד למילוי מלא של נפח התבנית (~10.5 μL). עודפי תמיסה הוסרו מפני השטח של התבנית, והתבנית כוסתה במכסה זכוכית. לאחר מכן בוצעו ניסויי PL ו-XRD עבור תנאי ההיעדר-מכל ותנאי המגע, כפי שמוצג ב-איור 3C. כל ניסוי חזר על עצמו כדי להבטיח השוואתיות והשחזרות.
In situ איסוף נתונים
ספקטרוסקופיה של פוטולומינסנציה
לאחר שהדגימה הוכנסה לשדה הלביטציה האקוסטית או לתבנית, הופעל הלייזר; במהלך כל פעולות הלייזר נעשה שימוש במשקפי מגן. נקודת המוקד עברה אופטימיזציה באמצעות תוכנת LightField כדי לזהות את האות החזק ביותר, דבר שאושר ויזואלית כנקודת הלייזר הקטנה והבהירה ביותר על הדגימה. איסוף שיאי הפוטו-לומינצנציה של האלומינה החל לפני החשיפה ל-UV, כאשר שיאים נרכשו בכל 0.5 s. לאחר 5 s של איסוף קו בסיס טרום-UV, הופעלה נורת ה-UV LED, ואיסוף הנתונים נמשך במשך 5 min כדי להבטיח פולימריזציה מלאה של הדגימה. לאחר הפולימריזציה, כובתה נורת ה-UV LED. עבור תנאי חוסר המגע, חרוז הפולימריזציה הועבר למכל; עבור תנאי המגע, דגימת הפולימריזציה הוצאה מתבנית הסיליקון באמצעות פינצטה. לאורך כל התהליך נמנעה מגע ישיר עם הדגימות כדי למנוע זיהום וגירוי של העור.
עקיפת קרני X בסינכרוטרון
לאחר מיקום הדגימה, קרן ה-X-ray כווננה למרכז הדגימה: מרכז החרוץ המרחף עבור תנאי ללא מכל (containerless) ומרכז הדגימה בתוך התבנית עבור תנאי המגע (contacted). תא הניסוי נסגר לפני הפעלת קרן ה-X-ray. קרן ה-X-ray ונורת ה-UV LED הופעלו בו-זמנית, ונתוני עקיפה נאספו לאורך תהליך הפולימריזציה ב-UV. איסוף הנתונים נמשך עד שהדגימה התקשחה לחלוטין; במחקר זה, נתונים נאספו במשך 10 min כדי לתעד את מלוא טווח העניין. לאחר הפולימריזציה, נורת ה-UV LED וקרן ה-X-ray כובו, והדגימות נאספו כפי שמתואר עבור מערך הספקטרוסקופיה, תוך הימנעות ממגע ישיר כדי למנוע זיהום וגירוי של העור.
ניתוח נתונים
שיטה להתאמת שיאי פוטולומינסצנציה
ספקטרומי פוטולומינסנציה גולמיים הכוללים את שיאי האלומינה R1 ו-R2 (איור 4A) הופקו מכל מערך הנתונים של תהליך הפיהוק ויובאו ל-MATLAB לצורך עיבוד נתונים.

איור 4תהליך ניתוח נתונים עבור מדידות PL ו-XRD בסינכרוטרון. (A) ספקטרי PL מעובדים באמצעות הסרת רקע והתאמה של פונקציית pseudo-Voigt לשיאי ה-R1 וה-R2 של האלומינה, כדי להפיק את מיקומי השיאים במהלך הפתיקה.Bטבעות עקיפה של XRD מסנכרוטרון מעובדות ומאוגדות לפרופיל עקיפה חד-מדי, ולאחר מכן מבוצע התאמת pseudo-Voigt של שיא האלומינה (16) כדי להוציא את מיקום השיא ולחשב את המאמץ המושרה מההקשיה. אנא לחצו כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של איור זה.
רעש רקע הוסר מכל ספקטרום, וקו הבסיס הנטוי תוקן כדי להתיישר בקירוב עם ציר ה-x. התאמה מסוג Pseudo-Voigt הוחלה על שיאי הפוטולומינצנציה של האלומינה כדי להתאים במדויק את שיאי R1 ו-R235. השיאים הותאמו לפונקציית pseudo-Voigt באמצעות אלגוריתם אופטימיזציה לא-ליניארית עם אילוצים (fmincon), כאשר השטח, מיקום המרכז, FWHM וגורם צורה (0 = גאוסי טהור, 1 = לורנצייני טהור) היו ארבעת הפרמטרים החופשיים לכל שיא (R1 ו-R2). רקע ליניארי, שהותאם לעוצמה הגולמית ב-1430 ו-1450 cm⁻1, הופחת מכל ספקטרום לפני ההתאמה. הערכות ראשוניות של הפרמטרים נקבעו ישירות מכל ספקטרום מוחלק ותוקן בקו הבסיס, וגבולות ההתאמה נקבעו כטווח אחוזים סביב כל הערכה ראשונית (שטח: 50–150%; FWHM: 60–180%). איכות ההתאמה הוערכה באמצעות שורש ממוצע הריבועים הנורמלי (NRMSE). מיקומי שיאים מותאמים הופקו בכל נקודת זמן לאורך תהליך הפיהוק, והזזות בשיאים חושבו על ידי השוואת כל מיקום מותאם לערך הראשוני לפני החשיפה ל-UV.
שיטה להתאמת שיאי XRD
תמונות עקיפה דו-מדיות יוובאו לתוכנת עיבוד ה-XRD או ל-MATLAB לצורך ניתוח. ניתן לנתח נתוני XRD כדי להפיק מידע על מאמץ בחומר36,37,38. טבעות עקיפה מחלקי האלומינה זוהו (איור 4B), והטבעת המתאימה לשיא (16) של האלומינה נבחרה על בסיס בהירותה לצורך מעקב אחר שינויים במרווחי הסריג. זיהוי הטבעות ישירות בתמונת העקיפה הדו-ממדית בשלב זה שימש כבדיקה איכותית של איכות הנתונים לפני האינטגרציה, ובכך אישר טבעות מלאות ורציפות (המעידות על הארה אחידה של הדגימה והיעדר קיטוע של קרן ה-XRD), יישור נכון של הגלאי ומיקום מרכז מדויק, והיעדר פיזור פראסיטי או מאפיינים שגויים שעלולים לעוות את הפרופיל המשולב. לאחר אישור איכות הטבעת, הטבעת הנבחרת הומרה לתמונה שעברה טרנספורמציה אזימותית ושולבה על פני טווח אזימותי מלא של 360° כדי להפיק פרופיל עקיפה חד-מדי, אשר שימש לאחר מכן להתאמה כמותית של מיקום השיא כדי לחלץ את מרחק ה-d-spacing ולחשב את המאמץ המושרה מהקשיה. שיא ה-(16) של האלומינה בפרופיל המשולב הותאם לפונקציית pseudo-Voigt כדי לקבוע את מיקום השיא, ונחלץ בכל פריים עקיפה במהלך ההקשיה. השיאים הותאמו באמצעות אלגוריתם ריבועים פחותים לא-ליניארי (lsqnonlin) לפונקציית pseudo-Voigt, כאשר העוצמה, מיקום המרכז, הרוחב (FWHM) והצורה (יחס Gaussian-to-Lorentzian) שימשו כפרמטרי התאמה. רקע ליניארי הופחת מכל ספקטרום לפני ההתאמה. ההתאמות הוגבלו על ידי אילוצי גבולות עם סובלנות התכנסות של 10⁻4. השינוי במרווחי הסריג חושב ממיקומי השיאים המותאמים באמצעות חוק בראג (Bragg’s law):

כאשר d הוא המרווח הסריגי, n הוא סדר העקיפה, λ הוא אורך הגל של קרני ה-x, ו-θ היא זווית בראג'. לצורך השוואה ישירה עם תבניות עקיפה של סטנדרט אלומינה, המאופיינות באופן מקובל באמצעות קרינת Cu Ka, השתמשו במרווחי d שנמדדו כדי לחשב ערך 2θ שווה-ערך המתאימ לקרני Cu Ka באורך גל λ = 1.54056 Å באמצעות חוק בראג'. סולם 2θ שווה-ערך קונבנציונלי זה, ולא סולם ה-2θ המקורי של הסינכרוטרון (λ = 0.137 Å), משמש לציר זווית העקיפה. מאמץ הנגרם כתוצאה מההקשיה חושב לאחר מכן על ידי השוואת המרווח הסריגי בכל נקודת זמן לערך הראשוני לפני החשיפה ל-UV:

כאשר dt = n s הוא המרווח הסבכתי בכל נקודת זמן במהלך הפולימריזציה ו-d0 הוא המרווח הסבכתי ההתחלתי לפני החשיפה ל-UV.