Name: Cathodoluminescence בעלי אנרגיה נמוכה עבור (Oxy) ניטריד Phosphors (וידאו) | JoVE Journal
Uploaded: 2016-11-15T12:30:00.000+00:00
Duration: 7 min 3 s
Description: חקור את המבנה המיקרוסקופי של זרחוני אוקסיניטריד באמצעות ספקטרוסקופיית קתודולומינסנציה. שיטה זו מאפשרת ניתוח מקומי של תכונות הזרחה ומאפייני פאזה משנית בחומרים אופטואלקטרוניים.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

עבודה זו נתמכה בחלקה על ידי פרויקט Green Network of Excellence (GRENE) של משרד החינוך, התרבות, הספורט והטכנולוגיה (MEXT) ביפן. המחברים אסירי תודה גם לטכנאים של יחידת סיאלון על עזרתם בסינתזה של זרחנים, ל-MANA על עזרתה במדידות EDS ול-K. Nakagawa על העזרה במערכת CL.

1. דוגמאות <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> סינתזה זרחנית <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> עיצוב המוצר, לקבוע את חומרי מוצא ומשקלם מבוססים על התגובות הכימיות הצפויות. דווקא לשקלל את האבקות מוצא גלם 14-20. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> קראש ומערבבים אותם מרגמה אגת ביד. תלוי באיכות של אבקות גלם, לערבב למשך 15-30 דקות כדי לקבל תערובת הומוגנית כמו ככל האפשר. ארוז את תערובת האבקה לתוך כור היתוך ניטריד בורון. הערה: לבצע צעדים 1.1.1-1.1.2 בתוך תא הכפפות תחת גז אינרטי, עם ריכוז חמצן נמוך מאוד כמוצר הסופי או אבקות הגלם אינה יציבות באוויר. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> לפטר את תערובת אבקת בכבשן sintering גז בלחץ עם תנור גרפיט. מחמם את הדגימות ב קבוע בשיעור חימום. הצג לתוך תא גז החנקן שנקבע מראש (טוהר 99.999%), ובמקביל להעלות את הטמפרטורה לערך הרצוי. הערה: שמור באותם תנאים למשך של sinte<html> טַבַּעַת. הטמפרטורה ומשך חימום שונים בהתאם החומרים 14-20. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> לאחר הירי, לכבות את החשמל, ולתת הדגימות להתקרר בתוך הכבשן. קראש גם אבקות sintered ב מרגמה אגת ביד עד מקבל חלקיקים זעירים. </li></ol></li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> צומת <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> מערבבים 150 מ&quot;ג של phosphors עם 300 מ&quot;ג של שרף ו -30 מ&quot;ג של hardener. יוצקים לתוך תבנית סיליקון ואופים ב 60 מעלות צלזיוס במשך 30 דקות בתוך ואקום מתאדים חמצן מן התערובת. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> שים לתוך תבנית סיליקון אפוי שוב ב 100 מעלות צלזיוס למשך 60 דקות באוויר לפברק שבב מוטבע אבקה. במהלך חימום, רוב האבקות מופקדות בתחתית עקב צפיפות חומר גבוהה. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> לפולנית את הפן של התחתון של השבב באמצעות ברכיים שימושיות לטש חתך Ar-יון כדי לייצר משטח מראה. הסכום גבוה יותר של אבקות יצוקות מאפשר תצפית טובה יותר של המבנה הפנימי של אבקות. </li></ol></li></ol>jove_title &quot;&gt; 2. cathodoluminescence <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> הכנת מדגם ההגדרה הערה: כפי CL היא טכניקה ללא מגע, אין דרישות מיוחדות עבור המדידה עצמה. ההכנה תהיה תלוי מטרות המדידה. לכן, עבור מדידות כמותיות, עשוי להיות מועדף זה לשים כמות גדולה של אבקות בקלטת פחמן, או עושה סרט. עבור מדידות איכותיות, חקירה של חלקיקים בודדים עשויה להיות מועדפת על ידי צבת כמות קטנה של פודר על קלטת פחמן, או לפזר את האבקה באתנול immerging רשת מייקרו נחושת קונבנציונלית אחד עבור TEM בתמיסה. <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> התאם את הגובה של הבמה המדגמת ליישר העליון של המדגם עם שלב ההפניה (12 מ&quot;מ). </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> הכנס את הבמה מדגם לתוך התא. הכנס את המראה אליפסואידי בין אלקטרון האקדח ואת הדגימות. ודא כי הדגימות אינן נוגעות במראה אליפסואידי למנוע זיהום במראה או לשבור אותו. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> מלא את המגניבing מאגר של הגלאי עם הנוזלים N 2. הפעל את הגלאי. המתן עד אורוות הטמפרטורה גלאי להתחיל מדידות CL. הטמפרטורה האידיאלית עבור מדידה היא 110 הערת ק: טמפרטורה ניתן לבדוק על התוכנה. </li></ol></li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> מדידות CL הערה: תנאי אלומת האלקטרונים, בפרט אנרגית אלומת אלקטרונים ואת הקרן הנוכחית, נבחרו. תנאים אלה צריכים להיבחר בתפקוד של עוצמת ההארה הצפויה של הדגימות, חיובים ציינו, שפלת ההארה ואת האינטרסים בניתוח המעמיק. <ol style=";text-align:right;direction:rtl"><li style=";text-align:right;direction:rtl"> מקם את קרן האלקטרונים שבו אתה רוצה לקחת SEM ו / או קשת CL. למקד את התמונה על מנת להדגיש את החיטוב למוגדר אסטיגמציה הנכון כדי לקבל תמונה ברורה וחדה. התאם גובה הבמה ומרחק עבודה. תקן את אסטיגמציה באמצעות x, y stigmators על התמונה המוגדלת. הפעל את התוכנה עבור רכישת CL. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> מטב את עמדת המראה ואתגובה מדגם כדי לקבל את העוצמת החזקה עבור ספקטרום CL. כדי לבצע זאת, לחץ על &quot;מדידה בזמן אמת&quot; ובחר &quot;מצב מתמשך&quot; על התוכנה. הגדר את מראה monochromator כמו &quot;צד קדמי&quot; כדי לשלוח את האור התפזר CCD ולקחת את ספקטרום CL המהיר. לאט לשנות את מיקום המראה וגובה המדגם תוך שמירה על תמונת SE ממוקדת הגדלת עוצמת CL. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> עבור ספקטרום CL של שטח גדול, לחץ על הסמל &quot;בזמן אמת מדידה&quot; ובחר &quot;מצב אחד ירה&quot; על התוכנה. הגדר את מערכת זיהוי האור כדי לשלוח את האור הנפלט אל CCD. בהתאם המדגם, לבחור את זמן איסוף רוחב ומדידה הצורם, חריץ על מנת לקבל את הרזולוציה עוצמת / ספקטרלי המתאים ביותר. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> עבור הדמית מונוכרומטי CL, לחץ על הסמל &quot;תמונת המדידה&quot; ובחר את &quot;גלאי PMT&quot; על התוכנה. הגדר את המראה סמוך להר הזיתים monochromators &quot;צד אחורי&quot; כדי לשלוח את האור התפזר גלאי PMT, וכנס לסדק. בהתאם המדגם, לבחור את הרזולוציה, גדלה, אורך הגל וזמן אוסף רצוי. להקפיא את התמונה ולשלוח אותה לתוכנה. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> לניתוח CL המקומי, לקחת תמונה SE או CL הראשון. לחץ על הסמל &quot;מדידה&quot;, בחר את המיקום את הספקטרום על התמונה. הגדר את מערכת זיהוי האור כדי לשלוח את האור הנפלט אל CCD, ולאחר מכן את הספקטרום CL. </li><li style=";text-align:right;direction:rtl"> עבור התפתחות בזמן CL, לחץ על הסמל &quot;זמן תלות מדידה&quot; ובחר את &quot;CCD&quot; על התוכנה. הגדר את מערכת זיהוי האור כדי לשלוח את האור הנפלט אל גלאי CCD. בהתאם לתוכנה, בחר את המספרים של ספקטרה ואת הזמן בין 2 מדידות, למשל 360 ספקטרה כל 10 שניות. </li></ol></li></ol>

<ol><li>Spindt, C. A., Holland, C. E., Brodie, I., Mooney, J. B., Westerberg, E. R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Field-emitter+arrays+applied+to+vacuum+fluorescent+display%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+Trans.+Electron+Devices%22%5BJournal%5D)">Field-emitter arrays applied to vacuum fluorescent display.</a> IEEE Trans. Electron Devices. 36 (1), 225-228 (1989).</li>
<li>Holloway, P. H., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Advances+in+field+emission+displays+phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Vac.+Sci.+Technol.+B%22%5BJournal%5D)">Advances in field emission displays phosphors.</a> J. Vac. Sci. Technol. B. 17 (2), 758-764 (1999).</li>
<li>Itoh, S., Tanaka, M., Tonegawa, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Development+of+field+emission+displays%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Vac.+Sci.+Technol%22%5BJournal%5D)">Development of field emission displays.</a> J. Vac. Sci. Technol. 22 (3), 1362-1366 (2004).</li>
<li>Schubert, E. F., Kim, J. K., Luo, H., Xi, J. Q. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Solid-state+lighting+-+a+benevolent+technology%5BTitle%5D)+AND+%22Rep.+Prog.+Phys%22%5BJournal%5D)">Solid-state lighting - a benevolent technology.</a> Rep. Prog. Phys. 69 (12), 3069-3099 (2006).</li>
<li>McKittrick, J., Shea-Rohwer, L. E. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Review%3A+Down+Conversion+Materials+for+Solid-State+Lighting%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Am.+Ceram.+Soc%22%5BJournal%5D)">Review: Down Conversion Materials for Solid-State Lighting.</a> J. Am. Ceram. Soc. 97 (5), 1327-1352 (2014).</li>
<li>Smet, P. F., Parmentier, A. B., Poelman, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Selecting+Conversion+Phosphors+for+White+Light-Emitting+Diodes%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Electrochem.+Soc%22%5BJournal%5D)">Selecting Conversion Phosphors for White Light-Emitting Diodes.</a> J. Electrochem. Soc. 158 (6), 37-54 (2011).</li>
<li>Xie, R. J., Hirosaki, N., Sakuma, K., Kimura, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((White+light-emitting+diodes+%28LEDs%29+using+%28oxy%29nitride+phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Phys.+D%3A+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">White light-emitting diodes (LEDs) using (oxy)nitride phosphors.</a> J. Phys. D: Appl. Phys. 41 (14), 144013(2008).</li>
<li>Xie, R. J., Hirosaki, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Silicon-based+oxynitride+and+nitride+phosphors+for+white+LEDs+-+A+review%5BTitle%5D)+AND+%22Sci.+Technol.+Adv.+Mater%22%5BJournal%5D)">Silicon-based oxynitride and nitride phosphors for white LEDs - A review.</a> Sci. Technol. Adv. Mater. 8 (7-8), 588-600 (2013).</li>
<li>George, N. C., Denault, K. A., Seshadri, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Phosphors+for+Solid-State+White+Lighting%5BTitle%5D)+AND+%22Annu.+Rev.+Mater.+Res%22%5BJournal%5D)">Phosphors for Solid-State White Lighting.</a> Annu. Rev. Mater. Res. 43, 481-501 (2013).</li>
<li>Gustafsson, A., Pistol, M. E., Montelius, L., Samuelson, L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Local+probe+techniques+for+luminescence+studies+of+low-dimensional+semiconductor+structures%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Local probe techniques for luminescence studies of low-dimensional semiconductor structures.</a> J. Appl. Phys. 84 (4), 1715-1775 (1998).</li>
<li>Dierre, B., Yuan, X. L., Sekiguchi, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Low-energy+cathodoluminescence+microscopy+for+the+characterization+of+nanostructures%5BTitle%5D)+AND+%22Sci.+Technol.+Adv.+Mater%22%5BJournal%5D)">Low-energy cathodoluminescence microscopy for the characterization of nanostructures.</a> Sci. Technol. Adv. Mater. 11 (4), 043001(2010).</li>
<li>García de Abajo, F. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Optical+excitations+in+electron+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Rev.+Mod.+Phys%22%5BJournal%5D)">Optical excitations in electron microscopy.</a> Rev. Mod. Phys. 82 (1), 208-275 (2010).</li>
<li>Yacobi, B. G., Holt, D. B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Cathodoluminescence+scanning+electron-microscopy+of+semiconductors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Cathodoluminescence scanning electron-microscopy of semiconductors.</a> J. Appl. Phys. 59 (4), 1-24 (1986).</li>
<li>Cho, Y., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Influence+of+Si+on+the+particle+growth+of+AlN+ceramics%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Express%22%5BJournal%5D)">Influence of Si on the particle growth of AlN ceramics.</a> Appl. Phys. Express. 7 (11), 115503(2014).</li>
<li>Takahashi, T., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Luminescence+properties+of+blue+La1-xCexAl%28Si6-zAlz%29%28N10-zOz%29+%28z.%7E1%29+oxynitride+phosphors+and+their+application+in+white+light-emitting+diode%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Luminescence properties of blue La1-xCexAl(Si6-zAlz)(N10-zOz) (z.~1) oxynitride phosphors and their application in white light-emitting diode.</a> Appl. Phys. Lett. 91 (9), 091923(2007).</li>
<li>Hirosaki, N., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Blue-emitting+AlN+%3A+Eu2%2B+nitride+phosphor+for+field+emission+displays%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Phys.+Lett%22%5BJournal%5D)">Blue-emitting AlN : Eu2+ nitride phosphor for field emission displays.</a> Appl. Phys. Lett. 91 (6), 061101(2007).</li>
<li>Dierre, B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Role+of+Si+in+the+Luminescence+of+AlN+%3AEu%2CSi+Phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Am.+Ceram.+Soc%22%5BJournal%5D)">Role of Si in the Luminescence of AlN :Eu,Si Phosphors.</a> J. Am. Ceram. Soc. 92 (6), 1272-1275 (2009).</li>
<li>Dierre, B., Xie, R. J., Hirosaki, N., Sekiguchi, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Blue+emission+of+Ce3%2B+in+lanthanide+silicon+oxynitride+phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Mater.+Res%22%5BJournal%5D)">Blue emission of Ce3+ in lanthanide silicon oxynitride phosphors.</a> J. Mater. Res. 22 (7), 1933-1941 (2007).</li>
<li>Dierre, B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Luminescence+distribution+of+Yb-doped+Ca-alpha-SiAlON+phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Mater.+Res%22%5BJournal%5D)">Luminescence distribution of Yb-doped Ca-alpha-SiAlON phosphors.</a> J. Mater. Res. 23 (6), 1701-1705 (2008).</li>
<li>Dierre, B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Local+analysis+of+Eu2%2B+emission+in+CaAlSiN3%5BTitle%5D)+AND+%22Sci.+Technol.+Adv.+Mater%22%5BJournal%5D)">Local analysis of Eu2+ emission in CaAlSiN3.</a> Sci. Technol. Adv. Mater. 14 (6), 064201(2013).</li>
<li>Brillson, L. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Applications+of+depth-resolved+cathodoluminescence+spectroscopy%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Phys.+D%3A+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Applications of depth-resolved cathodoluminescence spectroscopy.</a> J. Phys. D: Appl. Phys. 45 (18), 183001(2012).</li>
<li>Liu, L., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Optical+Properties+of+Blue-Emitting+CexSi6-zAlz-xOz%2B1.5xM8-z-x+for+White+Light-Emitting+Diodes%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Electrochem.+Soc%22%5BJournal%5D)">Optical Properties of Blue-Emitting CexSi6-zAlz-xOz+1.5xM8-z-x for White Light-Emitting Diodes.</a> J. Electrochem. Soc. 157 (1), 50-54 (2010).</li>
<li>Xie, R. -J., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Photoluminescence+of+Cerium-Doped+a-SiAlON+Materials%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Am.+Ceram.+Soc%22%5BJournal%5D)">Photoluminescence of Cerium-Doped a-SiAlON Materials.</a> J. Am. Ceram. Soc. 87 (7), 1368-1370 (2004).</li>
<li>Cho, Y., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Defects+and+luminescence+control+of+AlN+ceramic+by+Si-doping%5BTitle%5D)+AND+%22Scripta+Materialia%22%5BJournal%5D)">Defects and luminescence control of AlN ceramic by Si-doping.</a> Scripta Materialia. 110 (1), 109-112 (2016).</li>
<li>Itoh, S., Kimizuka, T., Tonegawa, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Degradation+mechanism+for+low-voltage+cathodoluminescence+of+sulfide+phosphors%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Electrochem.+Soc%22%5BJournal%5D)">Degradation mechanism for low-voltage cathodoluminescence of sulfide phosphors.</a> J. Electrochem. Soc. 136 (6), 1819-1823 (1989).</li>
<li>Swart, H. C., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Review+on+electron+stimulated+surface+chemical+reaction+mechanism+for+phosphor+degradation%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Vac.+Sci.+Technol.+A%22%5BJournal%5D)">Review on electron stimulated surface chemical reaction mechanism for phosphor degradation.</a> J. Vac. Sci. Technol. A. 25 (4), 917-921 (2007).</li>
<li>Dierre, B., Yuan, X. L., Ueda, K., Sekiguchi, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Hydrogen+released+from+bulk+ZnO+single+crystals+investigated+by+time-of-flight+electron-stimulated+desorption%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Hydrogen released from bulk ZnO single crystals investigated by time-of-flight electron-stimulated desorption.</a> J. Appl. Phys. 108 (10), 104902(2010).</li>
<li>Dierre, B., Yuan, X. L., Ohashi, N., Sekiguchi, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Effects+of+specimen+preparation+on+the+cathodoluminescence+properties+of+ZnO+nanoparticles%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Appl.+Phys%22%5BJournal%5D)">Effects of specimen preparation on the cathodoluminescence properties of ZnO nanoparticles.</a> J. Appl. Phys. 103 (8), 083551(2008).</li>
<li>Xie, R. J., Hintzen, H. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Optical+Properties+of+%28Oxy%29Nitride+Materials%3A+A+Review%5BTitle%5D)+AND+%22J.+Am.+Ceram.+Soc%22%5BJournal%5D)">Optical Properties of (Oxy)Nitride Materials: A Review.</a> J. Am. Ceram. Soc. 96 (3), 665-687 (2013).</li>
<li>Swart, H. C., Nagpure, I. M., Ntwaeaborwa, O. M., Fisher, G. L., Terblans, J. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Identification+of+Eu+oxidation+states+in+a+doped+Sr5%28PO4%293F+phosphor+by+TOF-SIMS+imaging%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Express%22%5BJournal%5D)">Identification of Eu oxidation states in a doped Sr5(PO4)3F phosphor by TOF-SIMS imaging.</a> Opt. Express. 20 (15), 17119-17125 (2012).</li>
<li>Hirosaki, N., Takeda, T., Funahashi, S., Xie, R. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Discovery+of+New+Nitridosilicate+Phosphors+for+Solid+State+Lighting+by+the+Single-Particle-Diagnosis+Approach%5BTitle%5D)+AND+%22Chem.+Mater%22%5BJournal%5D)">Discovery of New Nitridosilicate Phosphors for Solid State Lighting by the Single-Particle-Diagnosis Approach.</a> Chem. Mater. 26 (14), 4280-4288 (2014).</li>
<li>Lim, S. K., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Direct+Correlation+between+Structural+and+Optical+Properties+of+III-V+Nitride+Nanowire+Heterostructures+with+Nanoscale+Resolution%5BTitle%5D)+AND+%22Nano+Lett%22%5BJournal%5D)">Direct Correlation between Structural and Optical Properties of III-V Nitride Nanowire Heterostructures with Nanoscale Resolution.</a> Nano Lett. 9 (11), 3940-3944 (2009).</li>
<li>Zagonel, L. F., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nanometer+Scale+Spectral+Imaging+of+Quantum+Emitters+in+Nanowires+and+its+Correlation+to+Their+Atomically+Resolved+Structure%5BTitle%5D)+AND+%22Nano+Lett%22%5BJournal%5D)">Nanometer Scale Spectral Imaging of Quantum Emitters in Nanowires and its Correlation to Their Atomically Resolved Structure.</a> Nano Lett. 11 (2), 568-573 (2011).</li>
<li>Furamoto, K., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Development+of+Novel+Optical+Fiber+System+for+Cathodoluminescence+Detection+in+High+Voltage+Transmission+Electron+Microscope%5BTitle%5D)+AND+%22Materials+Transactions%22%5BJournal%5D)">Development of Novel Optical Fiber System for Cathodoluminescence Detection in High Voltage Transmission Electron Microscope.</a> Materials Transactions. 54 (5), 854-856 (2013).</li>
<li>Poelman, D., Smet, P. F. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Time+resolved+microscopic+cathodoluminescence+spectroscopy+for+phosphor+research%5BTitle%5D)+AND+%22Physica+B%22%5BJournal%5D)">Time resolved microscopic cathodoluminescence spectroscopy for phosphor research.</a> Physica B. 439, 35-40 (2014).</li>
</ol>

למחברים אין מה לחשוף.

באמצעות דוגמאות המייצגות אלה של אפיון CL אנרגיה נמוכה על phosphors sialon, הראינו כיצד טכניקה חזקה ומהירה לחקירת phosphors יכולה להיות. באמצעות מדידת מדידות CL המקומית ומיפוי, מנצל את הגמישות בהכנת המדגם ושילוב CL עם טכניקות אחרות, אנו יכולים לייחס באופן מדויק יותר את מקורותיה של ההארה, להבהיר את מנגנוני הצמיחה ולקבוע את phosphors המתאים ביותר עבור יישומים. תוצאות אלו נובעות בעיקר השגה בשל השיפורים של מיקרוסקופים אלקטרונים ואת גלאי אור, אשר משפרים את זמן איסוף המדידה, הרגישות ואת ברזולוציה מרחבית. שניהם phosphors sialon ושדות CL אינם מוגבלים באופן טבעי להיבטים המוצג במאמר זה. בחלק הבא, על מנת להרחיב את הדיון, אנחנו הולכים לדון קצת יותר על אותם בנפרד. במקרה ophosphors f sialon, עם נכסי ההארה ויציבות המעולים שלהם, הם להיות יותר ויותר נפוצים עבור יישומי תאורה. עם זאת, הם גם להציג מכנים מעניינות מאוד, תרמית, מגנטיות, מוליכות חשמל ואלקטרוניקה, תכונות אופטיות, אשר יכול להיות מכוונת על ידי שינוי המבנה שלהם. לפיכך, הם מצויים גם מגוון רחב של יישומים כגון ציפוי antireflection, בולמי שמש, מראות חומים, פיגמנטים צבעוניים, photocatalysts באור הנראה מונחה, חלונות השקופות שריונות, או בדיקות ניאון הדמיה ביו-רפואית 29. אנו יכולים לצפות כי הם הולכים לשחק תפקידים מכריעים בהיבטי אנרגיה סביבתיים רבים, כגון קצירת אנרגיה סולארית ביעילות, במימוש כלכלת המימן, הפחתת הזיהומים הסביבתיים, תוך חיסכון במשאבים הטבעיים, וכו &#39;עם זאת, הרבה עבודה נדרש עדיין להמשיך ולשפר את תכונותיהם, תוך הפחתת עלויות הייצור שלהם, כגון decreasing הטמפרטורה sintering או להגביל את השימוש של יונים נדיר הארץ. זה יכול להיות מושגת על ידי מציאת phosphors sialon רומן, והבהרת התפקיד של תנאי הרכב וצמיחה על הנכסים. ראינו כי CL יכול לשחק תפקיד חשוב בהשגת היעדים הללו. אבל, גישות חדשות אחרונות גם חשפו אפשרויות מבטיחות מאוד. שתי הגישות הללו הם הזמן של טיסה ספקטרומטריית משני יון המוני (TOF-SIMS) ואבחון חד חלקיקים. TOF-SIMS הוא מסוגל לפתור את הספקטרום מונית כולו מרחבית עם רגישות גבוהה, המאפשר לא רק זיהוי של מינים בגובה עקבות אלא גם את ההבדלים במצב חמצון 31. האבחנה חד החלקיקים מורכבים בטיפול חלקיק זורח בודדי תערובת מורכבת כמו גביש יחיד זעיר, וכדי לחקור את התכונות האופטיות ומבניות באמצעות דיפרקציה יחיד קריסטל סופר-רזולוצית רנטגן קרינה חד חלקיקים 31. <pclass = &quot;jove_content&quot;&gt; באשר אפיון CL אנרגיה נמוכה, במאמר זה, אנו שקד בעיקר על השימוש CL עבור phosphors sialon, בעוד CL יכול גם לשמש עבור חומרים אחרים, כגון מוליכים למחצה, ננו, חומרים אורגניים, וקרמיקה. מצד השני, למרות CL היא טכניקה לא תסולא בפז לאפיון איכותי של חומרים אופטו, זה גם גורם מזהיר כמה עבור מדידות כמותיות. ואכן, תוצאות CL תלוי לא רק על תנאי עירור, קרן האנרגיה הנוכחית אלקטרונים, אלא גם על כמות חומרים נחקרו 25. לפיכך, וריאציה קצרה של פרמטרים אלה עשויים לשנות באופן משמעותי את עוצמת CL. בנוסף, הקרנת אלומת אלקטרונים עשויה להגדיל את האפשרות לפגוע דגימות. זה עלול לגרום לשינוי דרסטי את העצמה, או לגרום ליצירה / הפעלה של מרכזי הארה חדשים, אשר עשוי להשפיע על האמינות של מדידות CL כמותית. התפתחות CL בצ&#39;ה חומריםracterization היה ויהיה כקשור השיפורים מיקרוסקופים-אלומת אלקטרונים ואת גלאי אור. לפיכך, ניתן כיום לבצע TEM. היא מאפשרת רזולוציה מרחבית גבוהות יותר תצפית ישירה של שינוי הארת התצפית באתרו של שינוי ההארה מלווה שינוי מייקרו הנגרם על ידי עקירה אטומית מושרה אלומת אלקטרונים, למשל 32-34. יתר על כן, עם התוספת של שמיכת קורה-הטור מסונכרן עם הגלאי האופטי, זה זמין כעת לשימוש קרן אלקטרונים במצב דופק, אשר מאפשרת ביצוע מדידות פרופיל ריקבון לתוך מיקרוסקופ אלקטרונים 35. זה גם יכול להיחשב כי השימוש הקרנה אלומת אלקטרונים פעמו עשויה להפחית את קרן-אלקטרונים המושרה נזקים, אשר ישפר את האמינות של מדידות כמותיות ולעזור באפיון של חומרים רגישים-אלומת אלקטרונים. דוגמאות 2 אלה ממחישים כיצד CL ניתוח עשוי לשפר בעתיד. &lt;/ P&gt;

לאחרונה, יותר ויותר תשומת לב מוקדשת לנושאים סביבתיים, במיוחד ייצור וצריכת אנרגיה. כדי לענות לצרכי החברה האלה, ייצור אנרגיה חייב להיות &quot;ירוק&quot; זה אומר, הפחתת צריכת האנרגיה ממקורות מסורתיים או בפיתוח חומרי סביבה ידידותי חדשים. דיודות פולטות אור (LEDs) ומציג פליטת שדה (בולשת) יש לי תשומת לב משמעותית עקב הקומפקטיות שלהם, ביצועים משופרים וצריכת חשמל נמוכה יותר לעומת התצוגות בפועל, כגון תאורת פלורסנט הפריקה גז כספי או מציג פלזמה 1-5. הגורם המרכזי עבור מקור אור של LED ו FED הוא זרחן גבוה ויעיל. phosphors מסומם נדיר- Earth הם חומרים אורגניים המורכבים של סריג מארח dopants נדיר הארץ, אשר יכול לפלוט אור תחת עירור של פוטונים (אולטרה הסגול (UV), אור כחול), אלקטרונים (קרן אלקטרונים) או שדה חשמלי. הדרישות לקבלת phosphors הגבוהה ויעילה הן: 1) המרה גבוההיעיל שיאון עם מקורות עירור השונים; 2) יציבות טובה עם מרווה תרמית נמוכה; 3) טוהר צבע גבוה עם שחזור מלא צבע. עם זאת, רק מספר מצומצם מאוד של phosphors יכול כיום לעמוד בדרישות המינימליות הבאות. נכון לעכשיו phosphors המשומש מבוסס תחמוצת יש קליטה נמוכה בספקטרום באור הנראה, בעוד אלה מבוססים גפרו יש כימיים נמוכים יציבות תרמית. יתר על כן, הם מראים שפלה תחת אלקטרונים או אווירת סביבה, אשר מגבילה את החיים המכשירים. מאז טוהר ויעילות צבעם מוגבלות, זה גורם להם קשה לשמש למימוש טיוח מדד צבע גבוה התקנים זורחים (CRI). כתוצאה מכך, חקירת phosphors החדשה נדרשת. ניטריד oxynitride מסומם נדיר- Earth (sialon) phosphors נחשבים מועמדים טובים עם מצטייני יציבות תרמית וכימית מבוססת על מבני הקשר כימי יציב שלהם. משמרת סטוקס הופכת להיות קטנה יותר ב-לה חזקttice וזה מוביל יעילות המרה גבוהה מרווה תרמית קטנה של phosphors 6-9. באופן כללי, ההארה של יונים נדיר ארץ divalent, כגון איחוד אירופאי 2+ או Yb 2 +, ו &#39;לסה&quot;נ 3+ מיוחסת מעברי 5D-4F אלקטרוניים, והוא מורכב הצגת פס רחב עם מיקום שיא משתנה עם סריג המארח בשל אל האינטראקציה החזקה בין אורביטלים 5D ושדה קריסטל. בשל תכונותיהם, הארה גל-מתכונן מתקבלת על ידי שינוי האופי הכימי של יונים נדיר ארץ וריכוזם הסריג המארח (איור. 1). לפיכך, phosphors sialon יכול לשמש למימוש גבוה CRI לבן-LED באמצעות מערכת phosphors כחול-ירוק-אדום ויישומים-הבולשת UV. למרות phosphors sialon הם חומרים מבטיחים, הרבה עבודה כגון מציאת מבנים חדשים והפחתת עלות ההפקות עדיין נדרש. יתר על כן, בשל הקשיים מבחינת אופטימיזציה של חטאתנאי tering, phosphors sialon בדרך כלל מכילים שלבים משניים 18-20. חקירת המבנים מקומיים כגון חשובה להבין את מנגנון sintering לייעל את תנאי sintering, וכך לשפר את התכונות האופטיות של phosphors sialon. ניתן להשיג מטרות אלה על ידי טכניקת האנרגיה נמוכה cathodoluminescence (CL). CL היא תופעה שבה אלקטרוני irradiating על חומר זורח גורמים לפליטת פוטונים. בניגוד photoluminescence (PL), אשר נגרם על ידי עירור פוטון, באזור העירור הוא בדרך כלל בסדר גודל של מילימטר ריגושים סלקטיבית לשפר תהליכי פליטה מסוימים, שמרגשים-אלומת אלקטרונים ב בקנה המידה ננומטרי ומפעיל כל מנגנוני הארת נוכח החומר , אשר עשוי לאפשר זיהוי של שלבים שונים עם מאפייני הארה שונים 10-12. בנוסף, אלקטרוני האירוע יכולים ליצור לא רק את אות CLאלא גם אותות שונים, כגון האלקטרון, אוז או רנטגן משתקף, המספקים מידע שונה על החומרים. לפיכך, המבני, כימי או תכונות חשמליות יכול גם להיות מושגת. השילוב של טכניקות אלה עם תוצאות CL ב הבנה טובה יותר של מוצא המבנים המקומיים של phosphors sialon 14-20. ניתן לבצע חקירות CL באמצעות סוגים שונים של מקורות-אלומת אלקטרונים 13. כיום, מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) היא מערכת הנפוצה ביותר לביצוע מדידות CL. בחלק הבא, אנו הולכים לדון בעיקר במערכת זו. כפי שניתן לראות באיור. 2, מדידות CL מבוצעות באמצעות מקור אלקטרונים (SEM), אספן אור (סיבים אופטיים monochromator) ומערכת זיהוי. מערכת איתור מורכבת מכשיר תשלום מצמיד (CCD) ואת צינור מכפיל (PMT), המיועדת להעלאת מצב מקביל איתור ומצב איתור סדרתי, בהתאמה.באופן כללי, את האור שנאסף במדגם מותאם על ידי שסע ואז התפזר על ידי צורמת monochromator. כשהאור שנאספו מהמדגם מתפזר על CCD (מצב מקביל-זיהוי), כל אורך גל הפליטה מזוהה בו זמנית. כאשר אורך גל מסוים של אור מפוזר נבחר על-ידי חתך (מצב סדרתי-זיהוי), עוצמתו נרשם על ידי PMT כדי ליצור תמונות מונוכרומטי. במאמר זה, אנחנו בעיקר להדגיש את השימוש של CL אנרגיה נמוכה לאפיון של phosphors sialon, representatively, Si מסוממים 14 AlN, 22, Ca מסוממים (La, Ce) אל (Si 6-z אל z) ( N 10-z O z) (z ~ 1) (JEM) 15, Si / Eu מסוממים 16 AlN, 17 ו- CE מסוממים La 5 Si 3 O 12 N חומרים. שיטת ליטוש חתך באמצעות ארגון אלומת יונים (שיטת CP) היא שיטה שימושית לבחון מבנים שכבתיים, עקב שטח הליטוש הרחב שלה עם ניזק משטח פחות. זהשבוצע חקירה של מבנה מקומי של phosphors. המתאם של CL עם טכניקות אלקטרונים אחרות מבוסס ואת חקירת יציבות הארה שיודגם גם.

<table><tbody><tr><td>SEM</td><td>Hitachi</td><td>S4300</td><td></td></tr><tr><td>מונוכרומטור משולש סורג</td><td>Horiba Jobin-Yvon</td><td>Triax 320</td><td></td></tr><tr><td>מכפיל פוטו</td><td>Hamamatsu</td><td>R943-02</td><td></td></tr><tr><td>מכשיר מצמד טעינה עם 2048 ערוצים</td><td>Horiba Jobin-Yvon&nbsp;</td>תנור סינטר <td>בלחץ גז Spectrum One</td><td></td></tr><tr><td>עם תנור גרפיט&nbsp;</td><td>פוג'ידמפה קוגיו ושות' בע"מ</td><td>תבנית סיליקון FVPHR-R-10, FRET-40</td><td></td></tr>&<tr><td>nbsp;</td><td>LADD</td><td>21780</td><td></td></tr><tr><td>מלטש חתך Ar-ion</td><td>JEOL</td><td>SM-09010</td><td></td></tr><tr><td>EDS</td><td>BRUKER</td><td>Xflash6/100</td><td></td></tr><tr><td>שרפים</td><td>JEOL</td><td>חלק מס' 780028520</td><td></td></tr></tbody></table>

cathodoluminescence בעלי אנרגיה נמוכה עבור (oxy) ניטריד phosphors

Low-energy Cathodoluminescence for (Oxy)Nitride Phosphors

ניטריד oxynitride (sialon) phosphors הם מועמדים טובים הסגול ויישומי פליטה גלויים. ביצועים גבוהים, יציבות טובה והגמישות של מאפייני הפליטה שלהם יכולים להיות מושגת על ידי שליטת רכב dopants שלהם. עם זאת, הרבה עבודה עדיין נדרש כדי לשפר את המאפיינים שלהם כדי להפחית את עלויות הייצור. גישה אפשרית היא לתאם את מאפייני ההארה של חלקיקי sialon עם הסביבה המבנית וכימית המקומית שלהם על מנת לייעל פרמטרי הצמיחה שלהם ולמצוא phosphors רומן. למטרה זו, את cathodoluminescence בעלי וולט נמוך (CL) מיקרוסקופיה היא טכניקה רבת עוצמה. שימוש אלקטרונים כמקור עירור מאפשר איתור מרבית מרכזי ההארה, חושף הפצת ההארה שלהם מרחבית לעומק, ישירות השוואת תוצאות CL עם טכניקות אלקטרונים מבוססי אחרים, חוקר את היציבות של נכסי ההארה שלהם תחת stress. יתרונות אלה לאפיון phosphors יודגשו באמצעות דוגמאות של חקירה על phosphors כמה sialon ידי CL אנרגיה נמוכה.

Stabilities כימי ההארה מעולה של phosphors ניטריד (אצטילן) ולהציגו כחלופה מבטיחה המשמש כיום phosphors גופרי והתחמוצת. במאמר זה, אנו מציגים את הדרך לחקור תכונות ההארה המקומיות שלה באמצעות cathodoluminescence אנרגיה נמוכה (CL).

Cathodoluminescence בעלי אנרגיה נמוכה עבור (Oxy) ניטריד Phosphors

Nitride and oxynitride (Sialon) phosphors are good candidates for the ultraviolet and visible emission applications. High performance, good stability and ...

המטרה העיקרית של הליך זה היא לבחון את המבנה המיקרוסקופי של פוספורים של אוקסיניטריד באמצעות ספקטרוסקופיה של קתודולומינסנציה. שיטה זו יכולה לסייע במענה על שאלות מפתח בתחום החומרים הלומינסנטיים, כגון מוליכים למחצה, ננו-מבנים ופוספורים אנורגניים. היתרון המרכזי של טכניקה זו הוא היכולת להבין את המבנה המקומי של הפוספורים ואת השכיחות שלהם לצד פאזות משניות באמצעות תמונות קתודולומינסנציה.זרחני אוקסיניטריד הם מועמדים מצוינים ליישומים של פליטת UV ופליטה בלתי נראית. היעילות הגבוהה של תכונות הפליטה מושגת על ידי בקרת תנאי המירכוז. באמצעות ספקטרוסקופיה של קתודולומינסנציה, ניתן למטב תנאים אלו ולהשיג את התכונות המיטביות של זרחני אוקסיניטריד.בתוך תא כפפות, תחת אטמוספירה אינרטית דלה בחמצן, הניחו מכתש עשוי אגט עם הכמות הראשונית המתאימה של האבקות עבור הפספור אוקסינחריד הרצוי. כרסו וערבבו את האבקות באמצעות המכתש והעלי האגט עד להשגת תערובת הומוגנית. העבירו את התערובת לכלי כור של בורון ניטריד.אטמו את כור ההיתוך בתוך מכל פלסטיק והוציאו אותו מארון הכפפות. הניחו את כור ההיתוך בתנור מרכזי. צרו ואקום בתוך התא.שמרו על טמפרטורת הכבשן קבועה במהלך השריפה. עם השלמת השריפה, כבו את הכבשן והמתינו לקירור הדגימה לטמפרטורת החדר בתוך תא הדגימה. השתמשו במכתש ועלי מagate כדי לטחון את הדגימות המקוררות לאבקה דקה.בשלב הבא, ערבבו 150 milligrams של מוצר הפספור עם 300 milligrams של שרף ו-30 milligrams של מקשה. שפכו את התערובת לתוך תבנית סיליקון. אפו את התערובת בטמפרטורה של 60 °C תחת ואקום למשך 30 דקות.לאחר מכן, מזגו את התערובת לתבנית סיליקון של השבב. אפו את התערובת בטמפרטורה של 100 °C באוויר למשך 60 דקות כדי ליצור את השבב, כאשר אבקת הפספור תתרכז בתחתית. שייפו את השבב לגודל המתאים, ובעזרת מכשיר ליטוש חתך רוחבי באמצעות קרן יוני ארגון, לטשו את הצד התחתון של השבב עד לקבלת משטח מראה.כדי להתחיל את ההגדרה, כוון את מתאם משטח הדגימה של מיקרוסקופ האלקטרונים הסורק כך שראש הדגימה יהיה מיושר עם נקודת הייחוס. הכנס את הדגימה לתא. מקם בזהירות את המראה האליפסואידית בין הדגימה לבין העדשה האובייקטיבית.מלא את מאגר קירור הגלאי בחנקן נוזלי, הפעל את הגלאי ופתח את תוכנת ה-SEM. הגדר את אנרגיית קרן האלקטרונים ואת הזרם המתאימים עבור הפספור המיועד לניתוח. לאחר מכן, בצע פוקוס לקרן האלקטרונים ותקן את האסטיגמטיזם עד שהתמונה תהיה חדה וברורה.פתחו את תוכנת ה-CL, לחצו על מדידה בזמן אמת (real time measurement) ובחרו במצב רציף (continuous mode). הגדירו את מראת המונוכרומטור לצד הקדמי. תוך שמירה על מיקוד של תמונת האלקטרונים המשנית, שנו באיטיות את מיקום המראה ואת גובה הדגימה כדי להשיג את עוצמת ה-CL החזקה ביותר.כדי להתחיל את הניסוי, לחצו על מדידה בזמן אמת (real time measurement) ובחרו במצב של צילום בודד (one shot mode). הגדירו את הדירוג (grading), את רוחב החריץ ואת זמן האיסוף באופן המתאים, ולאחר מכן רכשו את הספקטרום. לאחר רכישת ספקטרום ה-CL, לחצו על מדידת תמונה (picture measurement) ובחרו בגלאי PMT.הגדירו את מראת המונוכרומטור למצב אחורי. בחרו את החריץ המתאים, הגדירו את בקרת הסריקה למצב חיצוני, וכוונו את הרזולוציה, ההגדלה, אורך הגל וזמן האיסוף עבור הדגימה. לאחר צילום התמונה המונוכרומטית בתוכנת ה-CL, הגדירו את מראת המונוכרומטור לצד הקדמי.לחצו על מדידה (measurement) וקבעו את הנקודות בתמונה לצורך ניתוח מקומי. אספו את הספקטרום המקומי. לבסוף, לחצו על מדידת תלות בזמן (time dependence measurement) ובחרו ב-CCD.הגדירו את בקרת הסריקה למצב פנימי (internal). הגדירו את מספר הספקטרה שיש לרכוש ואת הזמן בין כל מדידה, ולאחר מכן התחילו באיסוף הנתונים. תמונת ה-CL בחתך רוחב של כמות קטנה של אבקת אלומינום ניטריד מסומנת בסיליקון הראתה מידע מהימן יותר בהשוואה לתמונת ה-CL של האבקה.תמונת ה-CL בחתך רוחב מראה פליטה של 280 nanometer הממוקמת בעיקר על פני השטח של החלקיקים. פליטות ב-280 nanometer קשורות לפגמים הקשורים לסיליקון, מה שמעיד על קיומו של סיליקון על פני השטח. תמונות CL בחתך רוחב באורכי גל שונים צולמו עבור הפספור האוקסיניטרידי JEM, הן עםההוספת סידן והן ללא הוספה זו.ניתוח מקומי במרכזי לומנסנס בתוך החלקיקים העלה כי ללא ליוצם סידן מדובר בפאזה אחת של JEM, ועם ליוצם סידן, JEM גבשה יחד עם פאזות משניות של sialon. אבקת AIN עם ריכוז גבוה יותר של ליוצם סיליקון הראתה פליטה של 350 nanometer מהחלקיקים, עם פליטות חלשות מהממשקים שבין החלקיקים. ניתוח מקומי בשילוב עם EDS קשר את תכולת הסיליקון הגבוהה יותר בממשקים לפגמים שאינם לומנסנטיים, ולכתף פליטה של 460 nanometer העקבית עם פגמים המכילים סיליקון.שני פוספורים נבחנו באמצעות מיקרוסקופיית CL כדי לבחון את יציבותם להקרנה בקרן אלקטרונים. הלומניסנציה העזה של הפוספור הלגס בצריום דעכה במהירות במהלך ההקרנה. לעומת זאת, העוצמה של הפוספור הלגס בסיליקון ואירופיום פחתה ב-20% בלבד. לאחר צפייה בסרטון זה, תהיו בעלי הבנה טובה לגבי האופן שבו מסנתזים פוספורי אוקסיניטריד ומאפיינים את המיקרו-מבנה שלהם באמצעות טכניקת קתודולומניסנציה בחתך רוחבי.בעקבות פרוצדורה זו, ניתן לבצע שיטות אחרות כגון פוטולומינסנציה, דיפרקציית קרני X ומספר בדיקות אוקסיפיטלי כדי להעריך את איכות הפוספורים. לאחר פיתוח טכניקת ה-CL בחתך רוחב, נסללה הדרך עבור מדעני חומרים לחקור תכונות אופטיות הקשורות למיקרו-מבני סיליקון.

low-energy-cathodoluminescence-for-oxy-nitride-phosphors

Research

JoVE Journal

Chemistry

כימיה

המחברים מציגים שיטה לייצור תאים אלקטרוכימיים פולטי אור לבן יציבים תוך שימוש בפליטה מאקסיפלקסים שנוצרו בין פולימר פלואורן פולט כחול לאמינים ארומטיים.

המצאה של אור לבן פולטות תאים אלקטרוכימיים עם פליטה יציבה מ Exciplexes

פרוטוקול זה מתאר טכניקת הדמיה תוך-ניתוחית חדשה המשתמשת בקומפלקס רותניום כמקור לפליטת אור כימילומינסצנטי, ובכך מייצרת יחסי אות לרעש גבוהים במהלך הדמיה in vivo. הדמיה תוך ניתוחית היא תחום מתרחב שיכול לחולל מהפכה באופן ביצוע הליכים כירורגיים.

שיטה חדשנית עבור chemiluminescence יצירה וההתבוננות בסביבה ביולוגית

הסולם סינתזה של פולטי יעילים ביותר פלורסצנטיות מושהית תרמית מופעל מתואר במאמר שהוצגו.

הסולם סינתזה של פולטי מופעל תרמית פלורסצנטיות מושהית מבוסס על ליבת Dibenzothiophene-S, S-דו-חמצני

כאן, אנו מציגים את שיטת האפיון ספקטרוסקופיות של מולקולות אורגניות באמצעות פוטולומיניסנציה זמן לפתור ספקטרוסקופיה בציר ננו-כדי-אלפית בתנאים ללא חמצן. שיטות כדי להסיר ביעילות חמצן מן הדגימות ולהגביל, לפיכך, הפריה חוץ גופית שכבתה מתוארים גם.

זמן לפתור Photophysical אפיון של שלישיה-קציר תרכובות אורגניות ללא חמצן-הסביבה שימוש iCCD המצלמה

פרוטוקול זה הציג בדיית ביצועים גבוהים, טהור כחול מבוססת על ZnCdS/ZnS קוונטית נקודות דיודות פולטות אור על ידי העסקת קטודית אלומיניום של autoxidized.

הזרקה משופרת אלקטרון וכליאתם אקסיטון עבור טהור קוונטית-נקודה כחולה דיודות פולטות אור על ידי החדרת חלקית תחמוצת אלומיניום קטודה

כאן, אנו מציגים פרוטוקול כדי לקבל הדמיה היפרספקטראלית נתונים ולנתח את תכונות anisotropy אופטי של קריסטלים בודדים מבוססי לנתניד באמצעות מערכת הדמיה Hyperקטרלית.

הדמיה היפרספקטראלית ככלי לחקר Anisotropy אופטי ב לנתניד מבוססי גבישים בודדים מולקולריים

פרוטוקול מוצג לסינתזה של ננו-חומרים זוהרים מתמידים (PLNPs) ויישומם הפוטנציאלי בתצוגות לצריבה חוזרת ובעיבוד אמנותי תוך ניצול אפקט הזוהר שלאחר מכן תחת קרינת אור אולטרה סגול (365 ננומטר).

סינתזה של ננו-חלקיקים זוהרים מתמידים עבור תצוגות לצריבה חוזרת ויישומי תאורה

מחקר זה בוחן את המדידות האופטיות הסטנדרטיות של שני קרמיקה זוהרת מתמשכת: SAO-B (כחול) ו-SAO-G (ירוק), כגון תרמלומינסצנציה (TL) וזוהרת מתמשכת (PersL). על ידי שליטה בעומק מלכודת אלקטרונים, עבודה זו מחדשת שיטות דינמיות נגד זיופים בטמפרטורה ו'פתרון זמן'.

שליטה תלויה בפאזה בעומק המלכודת ובזוהר מתמשך בזרחן אלומינאט סטרונציום

הייצור של חשמל למיעון,-היבט יחס גבוה (&gt; 1000:1) nanowires המתכת מופרד בפערים של ננומטרים בודדים או באמצעות ההקרבה של שכבות אלומיניום וכסף או monolayers עצמית התאספו כתבניות מתואר. מבנים אלה nanogap מפוברקים בלי חדר נקי או כל תמונה או קרן האלקטרונים תהליכי יתוגרפיות על ידי צורה של הקצה המכונה ליתוגרפיה nanoskiving.

בודה Nanogaps ידי Nanoskiving

מאמר זה מתאר את ההכנה של nanofoams ניקל המסודרת באמצעות תצהיר electroless מתכת על גבי תבניות nanoporous מתקבלות מsupramolecules מבוסס קופולימר diblock העצמית התאספו.

ניקל ננו gyroid מSupramolecules קופולימר Diblock

חקור את המבנה המיקרוסקופי של זרחוני אוקסיניטריד באמצעות ספקטרוסקופיית קתודולומינסנציה. שיטה זו מאפשרת ניתוח מקומי של תכונות הזרחה ומאפייני פאזה משנית בחומרים אופטואלקטרוניים.

Cathodoluminescence בעלי אנרגיה נמוכה עבור (Oxy) ניטריד Phosphors

גלה סרטונים נוספים