Name: מעקב אחר אלקטרוכימיה על ננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת פני השטח ומיקרוסקופ (וידאו) | JoVE Journal
Uploaded: 2023-05-12T15:00:00.000+00:00
Duration: 10 min 59 s
Description: למד מעקב אחר תהליכים אלקטרוכימיים בננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת פני השטח. שיטה זו מאפשרת לחוקרים לקשר בין תהליכים אלקטרוכימיים לשינויים מולקולריים בקנה מידה ננומטרי.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

עבודה זו נתמכה על ידי קרנות סטארט-אפ מאוניברסיטת לואיוויל ומימון מאוניברסיטאות Oak Ridge Associated Universities באמצעות פרס שיפור הפקולטה הצעירה ע"ש ראלף א. פואו (Ralph E. Powe Junior Faculty Enhancement Award). המחברים מודים לד"ר קי-היון צ'ו על יצירת התמונה באיור 1. שיקוע המתכת וה-SEM בוצעו במרכז הטכנולוגי מיקרו/ננו באוניברסיטת לואיוויל.

ניתוח הביצועים ההטרוגניים של ננו-חלקיקים בודדים בשיטות אלקטרוכימיות

המחברים מצהירים כי אין להם אינטרסים כלכליים מתחרים.

הפקדת יריעות מתכת דקות Cu ו- Ag על כיסויים נקיים חיונית כדי להבטיח שלסרט הסופי יהיה חספוס שאינו עולה על שתיים עד ארבע שכבות אטומיות (או חספוס ריבועי ממוצע שורש קטן או שווה לכ- 0.7 ננומטר). אבק, שריטות ולכלוך הקיימים על הכיסוי לפני שקיעת המתכת הם בעיות נפוצות המונעות את ייצור הסרט החלק הדרוש לייצור דפוסי פליטה בצורת סופגנייה. לכן, מומלץ לסניק את החלקות הכיסויים בממיסים שונים לפני שקיעת המתכת, ואם אפשר, לבצע תהליך זה בחדר נקי. יתר על כן, יש להקדיש תשומת לב רבה להליך התצהיר. ייתכן שיהיה צורך לנקות את כל המשטחים בתוך תא הווא...

אלקטרוכימיה היא מדע מדידה חשוב לחקר העברת מטען, אחסון מטען, תחבורה המונית וכו ', עם יישומים בתחומים מגוונים, כולל ביולוגיה, כימיה, פיזיקה והנדסה 1,2,3,4,5,6,7 . באופן קונבנציונלי, אלקטרוכימיה כוללת מדידות על פני אנסמבל – אוסף גדול של ישויות בודדות כגון מולקולות, תחומים גבישיים, ננו-חלקיקים ואתרי פני שטח. עם זאת, הבנת האופן שבו ישויות בודדות כאלה תורמות לתגובות ממוצעות היא המפתח להבאת הבנות בסיסיות ומכניסטיות חדשות בכימיה ובתחומים קשורים בגלל ההטרוגניות של משטחי אלקטרודות בסביבות אלקטרוכימיות מורכבות 8,9. לדוגמה, הפחתת אנסמבל חשפה פוטנציאלי חיזור/חמצון ספציפיים לאתר 10, היווצרות תוצרי ביניים וקטליזה מינורית 11, קינטיקה של תגובה ספציפית לאתר 12,13 ודינמיקה של נשא מטען 14,15. הפחתת ממוצע האנסמבל חשובה במיוחד לשיפור ההבנה שלנו מעבר למערכות מודל למערכות יישומיות, כגון תאים ביולוגיים, אלקטרוקטליזה וסוללות, שבהן הטרוגניות נרחבת נמצאת לעתים קרובות 16,17,18,19,20,21,22.
בעשור האחרון לערך, חלה הופעה של טכניקות לחקר אלקטרוכימיה של ישות אחת 1,2,9,10,11,12. מדידות אלקטרוכימיות אלה סיפקו את היכולות למדוד זרמים חשמליים ויונים קטנים במספר מערכות וחשפו תכונות כימיות ופיזיקליות בסיסיות חדשות 23,24,25,26,27,28. עם זאת, מדידות אלקטרוכימיות אינן מספקות מידע על הזהות או המבנה של מולקולות או מתווכים על פני האלקטרודה 29,30,31,32. מידע כימי בממשק אלקטרודה-אלקטרוליט הוא מרכזי להבנת תגובות אלקטרוכימיות. ידע כימי בין-פנים מתקבל בדרך כלל על ידי צימוד אלקטרוכימיה עם ספקטרוסקופיה31,32. ספקטרוסקופיית רטט, כגון פיזור ראמאן, מתאימה היטב לספק מידע כימי משלים על העברת מטען ואירועים קשורים במערכות אלקטרוכימיות המשתמשות בעיקר, אך אינן מוגבלות, לממסים מימיים30. בשילוב עם מיקרוסקופיה, ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן מספקת רזולוציה מרחבית עד לגבול העקיפה של אור33,34. עקיפה מהווה מגבלה, עם זאת, מכיוון שננו-חלקיקים ואתרי פני שטח פעילים קטנים באורכם ממגבלות עקיפה אופטיות, מה שמונע את המחקר של ישויות בודדות35.
פיזור ראמאן משופר פני השטח (SERS) הוכח ככלי רב עוצמה בחקר כימיה בין-פנים בתגובות אלקטרוכימיות 20,30,36,37,38. בנוסף לאספקת מצבי הרטט של מולקולות מגיבות, מולקולות ממס, תוספים וכימיות פני השטח של אלקטרודות, SERS מספק אות הממוקם לפני השטח של חומרים התומכים בתנודות אלקטרונים קולקטיביות על פני השטח, הידועות כתהודה פלסמונית פני שטח מקומית. העירור של תהודה פלסמונית מוביל לריכוז של קרינה אלקטרומגנטית על פני השטח של המתכת, ובכך להגדיל הן את שטף האור אל ואת פיזור ראמאן מן פני השטח adsorbates. מתכות אצילות ננו-מובנות כגון Ag ו- Au הן חומרים פלסמוניים נפוצים מכיוון שהן תומכות בתהודה פלסמונית של אור נראה, הרצויה לגילוי פליטה עם התקנים מצומדים למטען רגישים ויעילים במיוחד. למרות שהשיפורים הגדולים ביותר ב-SERS מגיעים מצברים של ננו-חלקיקים39,40, פותח מצע SERS חדש המאפשר מדידות SERS מננו-חלקיקים בודדים: מצע SERS במצב פער (איור 1)41,42. במצעי SERS במצב רווח, מראה מתכתית מיוצרת ומצופה באנליט. לאחר מכן, ננו-חלקיקים מתפזרים על המצע. כאשר מקרינים אור לייזר מקוטב בצורה מעגלית, מעוררת תהודה פלסמונית דיפולרית הנוצרת על ידי צימוד הננו-חלקיק והמצע, המאפשרת מדידות SERS על ננו-חלקיקים בודדים. פליטת SERS מצומדת לתהודה פלסמונית דיפולרית43,44,45, המכוונת לאורך הציר האופטי. עם היישור המקביל של הדיפול החשמלי המקרין ואופטיקת האיסוף, נאסף רק פליטה בזווית גבוהה, וכך נוצרות תבניות פליטה נפרדות בצורת סופגנייה46,47,48,49 ומאפשרות זיהוי של ננו-חלקיקים בודדים. צברים של ננו-חלקיקים על המצע מכילים דיפולים מקרינים שאינם מקבילים לציר האופטי50. במקרה אחרון זה, נאספות פליטות בזווית נמוכה ובזווית גבוהה ויוצרות דפוסי פליטה מוצקים46.
כאן, אנו מתארים פרוטוקול לייצור מצעי SERS במצב פער והליך להשתמש בהם כאלקטרודות עבודה לניטור אירועי חמצון-חיזור אלקטרוכימיים על ננו-חלקיקים Ag בודדים באמצעות SERS. חשוב לציין, הפרוטוקול המשתמש במצעי SERS במצב פער מאפשר זיהוי חד משמעי של ננו-חלקיקים בודדים על ידי הדמיית SERS, המהווה אתגר מרכזי עבור המתודולוגיות הנוכחיות באלקטרוכימיה של ננו-חלקיקים בודדים. כמערכת מודל, אנו מדגימים את השימוש ב-SERS כדי לספק קריאה של ההפחתה והחמצון האלקטרוכימיים של Nile Blue A (NB) על ננו-חלקיק Ag יחיד המונע על ידי סריקה או פוטנציאל מדורג (כלומר, וולטמטריה מחזורית, כרונואמפרומטריה). NB עובר תגובת חיזור/חמצון מרובת פרוטון, מרובת אלקטרונים, שבה המבנה האלקטרוני שלו מווסת מתוך / בתהודה עם מקור העירור, מה שמספק ניגוד בספקטרום SERSהמתאים 10,51,52. הפרוטוקול המתואר כאן ישים גם למולקולות פעילות חמצון-חיזור שאינן מהדהדות ולטכניקות אלקטרוכימיות, אשר עשויות להיות רלוונטיות ליישומים כגון אלקטרוקטליזה.

<table><tbody><tr><td>אצטון, דרגה מיקרואלקטרונית</td><td>J. T. Baker</td><td>9005-05</td><td></td></tr><tr><td>פיפטה מתכווננת, Eppendorf Reference 2 5000 מ"ל</td><td>Eppendorf</td><td>4924000100</td><td></td></tr><tr><td>איזון אנליטי, AB54-S/FACT</td><td>Metter Toledo</td><td>N.A.</td><td></td></tr><tr><td>מיקרוסקופ כוח אטומי, סריקה קלה 2</td><td>Nanosurf</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>מערכת תצהיר סרט דק של קרן אלקטרונים AXXIS</td><td>קורט ג'יי לסקר</td><td>נ.א.</td><td></td></tr><tr><td>Cary 60 UV-Vis ספקטרופוטומטר</td><td>Agilent</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>אפוקסי מוליך, שני חלקים</td><td>מדעי מיקרוסקופיה אלקטרונית</td><td>12642-14</td><td></td></tr><tr><td>כדורי נחושת, 99.99% טהור</td><td>קורט ג'יי לסקר</td><td>EVMCU40EXE</td><td></td></tr><tr><td>חוט נחושת, חשוף, 18 AWG</td><td>VWR</td><td>66248-040</td><td></td></tr><tr><td>כור היתוך, גרפיט E-Beam</td><td>קורט ג'יי לסקר</td><td>EVCEB-23</td><td></td></tr><tr><td>יהלום סופר</td><td>טד פלה</td><td>54484</td><td></td></tr><tr><td>מצלמת EMCCD, ProEM HS: 1024BX3</td><td>Teledyne Princeton Instruments</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>אפוקסי,</td><td>דבק גורילה</td> שקוף <td>N.A.</td><td></td></tr><tr><td>חותך צינורות זכוכית</td><td>Wheeler-Rex</td><td>69012</td><td></td></tr><tr><td>צינור זכוכית, בורוסיליקט (OD 0.75 אינץ', מזהה 0.62 אינץ', L 12 אינץ')</td> <td>McMaster-Carr</td><td>8729K45</td><td></td></tr><tr><td>שמן טבילה, מיקרוסקופ הפוך מסוג F</td><td>Olympus</td><td>IMMOIL-F30CC</td><td></td></tr><tr><td>, IX73</td><td>Olympus</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>לייזר, אקסלסיור אחד 642 ננומטר שטח פנוי</td><td>ספקטרה-פיזיקה</td><td>נ.א.</td><td></td></tr><tr><td>לייטפילד</td><td>טלדין פרינסטון אינסטרומנטס</td><td>נ.א.</td><td></td></tr><tr><td>MATLAB 2022b</td><td>MathWorks</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>זכוכית כיסוי מיקרו (כיסויים), 24 פעמים; 60 מ"מ מס' 1</td><td>VWR</td><td>48404-455</td><td></td></tr><tr><td>מיקרוסקופ מתאם מצלמת סמארטפון</td><td></td><td>QHMC017A-S01</td><td></td></tr><tr><td>Nile Blue A, Acros</td><td>Organics</td> טהור <td>415690100</td><td></td></tr><tr><td>חנקן, גזים מיוחדים טהורים ודחוסים</td><td></td><td>במיוחד N.A.</td><td></td></tr><tr><td>אובייקטיבי, UPLanXApo 100&; טבילת שמן</td><td>אולימפוס</td><td>14-910</td><td></td></tr><tr><td>סרט פולימיד, קפטון</td><td>3M</td><td>16089-4</td><td></td></tr><tr><td>אשלגן פוספט מונו-בסיסי</td><td>VWR</td><td>P285</td><td></td></tr><tr><td>פוטנציוסטט, 660E&nbsp;</td><td>CH אינסטרומנטס</td><td>נ.א.</td><td></td></tr><tr><td>חוט Pt</td><td>Alfa Aesar</td><td>10956-BS</td><td></td></tr><tr><td>מיקרוסקופ אלקטרונים סורק, Apreo C SEM</td><td>Thermo Fischer Scientific</td><td>N.A.</td><td></td></tr><tr><td>Si wafer</td><td>Ted Pella</td><td>16006</td><td></td></tr><tr><td>ננו-חלקיקי כסף (ננו-כדורים), NanoXact 0.02 מ"ג/מ"ל ב-2 מ"מ ציטראט</td><td>nanoComposix</td><td>AGCN60</td><td></td></tr><tr><td>כדורי כסף, 99.99% טהור</td><td>קורט ג'יי לסקר</td><td>EVMAG40EXE-A</td><td></td></tr><tr><td>מתלה שקופיות, Wash-N-Dry</td> מגוון <td>ביוטק</td><td>WSDR-2000</td><td></td></tr><tr><td>סמארטפון, אייפון 13 מיני</td><td>אפל</td><td>N.A. </td><td></td></tr><tr><td>נתרן פוספט דו-בסיסי Heptahydrate</td><td>VWR</td><td>0348</td><td></td></tr><tr><td>ספקטרומטר, IsoPlane SCT320</td><td>Teledyne Princeton Instruments</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>מגבי טישו, עומס קל&nbsp;</td><td>פינצטה VWR</td><td>82003-820</td><td></td></tr>, <tr><td>KS-04</td><td>Kaisi Hardware</td><td>NA</td><td></td></tr><tr><td>מחולל אוטרסוני, מטהר</td> מים <td>809379</td><td></td>SONIK <td>Blackstone-NEY Ultrasonics</td></tr><tr><td>, Sartorius Arium mini</td><td>Sartorius</td><td>NA</td><td></td></tr></tbody></table>

מעקב אחר אלקטרוכימיה על ננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת פני השטח ומיקרוסקופ

Tracking Electrochemistry on Single Nanoparticles with Surface-Enhanced Raman Scattering Spectroscopy and Microscopy

חקר תגובות אלקטרוכימיות על ננו-חלקיקים בודדים חשוב כדי להבין את הביצועים ההטרוגניים של ננו-חלקיקים בודדים. הטרוגניות ננומטרית זו נותרת חבויה במהלך האפיון הממוצע של ננו-חלקיקים. טכניקות אלקטרוכימיות פותחו כדי למדוד זרמים מננו-חלקיקים בודדים, אך אינן מספקות מידע על המבנה והזהות של המולקולות שעוברות תגובות על פני השטח של האלקטרודה. טכניקות אופטיות כגון מיקרוסקופ פיזור ראמאן משופר פני השטח (SERS) וספקטרוסקופיה יכולות לזהות אירועים אלקטרוכימיים על ננו-חלקיקים בודדים ובו זמנית לספק מידע על מצבי הרטט של מיני פני השטח של האלקטרודות. במאמר זה מודגם פרוטוקול למעקב אחר חיזור החמצון האלקטרוכימי של כחול הנילוס (NB) על ננו-חלקיקי Ag בודדים באמצעות מיקרוסקופ SERS וספקטרוסקופיה. ראשית, מתואר פרוטוקול מפורט לייצור ננו-חלקיקי Ag על סרט Ag חלק ושקוף למחצה. מצב פלסמון דיפולרי המיושר לאורך הציר האופטי נוצר בין ננו-חלקיק Ag יחיד לבין סרט Ag. פליטת SERS מ-NB הקבועה בין הננו-חלקיק לסרט מצומדת למצב פלסמון, והפליטה בזווית גבוהה נאספת על ידי מטרת מיקרוסקופ ליצירת תבנית פליטה בצורת סופגנייה. דפוסי פליטת SERS בצורת סופגנייה אלה מאפשרים זיהוי חד משמעי של ננו-חלקיקים בודדים על המצע, שממנו ניתן לאסוף את ספקטרום SERS. בעבודה זו ניתנת שיטה לשימוש במצע SERS כאלקטרודה עובדת בתא אלקטרוכימי התואם למיקרוסקופ אופטי הפוך. לבסוף, מוצג מעקב אחר חמצון-חיזור אלקטרוכימי של מולקולות NB על ננו-חלקיק Ag בודד. ניתן לשנות את ההתקנה ואת הפרוטוקול המתואר כאן כדי לחקור תגובות אלקטרוכימיות שונות על ננו-חלקיקים בודדים.

איור 2A מראה מצעי סרט דק Ag שהוכנו באמצעות מערכת שיקוע מתכת של קרן אלקטרונים. למצע ה"טוב" שמוצג באיור 2A יש כיסוי הומוגני של מתכת Ag מעל כיסוי הזכוכית, בעוד שלמצע "הרע" יש כיסוי לא אחיד של Ag. הספקטרום האולטרה-סגול הנראה לעין של סרט Ag דק "טוב" מוצג באיור 2B, אשר מדגים שהסרט שקוף חלקית עבור החלק הנראה של הספקטרום האלקטרומגנטי. למצע הסרט הדק "הטוב" Ag יש שקיפות אופטית של 34% עבור אור לייזר 642 ננומטר המשמש לניסויים ספקטרואלקטרוכימיים...

הפרוטוקול מתאר כיצד לנטר אירועים אלקטרוכימיים על ננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת על פני השטח והדמיה.

Studying electrochemical reactions on single nanoparticles is important to understand the heterogeneous performance of individual nanoparticles. This ...

נושא משותף במחקר שלנו הוא שימוש באינטראקציות של חומר אור ואנרגיה חשמלית כדי למדוד, להניע ולשלוט בטרנספורמציות כימיות בין-פנים בקנה מידה ננומטרי. בפרט, אנו מבקשים להבין כיצד סביבות מקומיות ומתווכי תגובה משפיעים על סלקטיביות בקטליזה חשמלית. טרנספורמציות קטליטיות, מוערכות באופן מסורתי עם מדידות ממוצעות של המכפלות ותכונות הזרז.אתגרי הגבול לייצור מוצרים כימיים באופן סלקטיבי כוללים הפחתת ממוצע מדידה זה תוך שמירה על רגישות המדידה, כך שנוכל להבין טוב יותר את הפעולות של מולקולות בודדות באתרים הריאקטיביים של הזרז. טכניקות אלקטרוכימיות לבדן אינן מספקות מידע כימי על מינים הנוצרים ומשתנים על פני השטח של האלקטרודות. הפרוטוקול שלנו מאפשר מדידות אלקטרוכימיות בננו-חלקיק בודד באמצעות ספקטרוסקופיית רטט כקריאה, ומאפשר קורלציה בין תהליכים אלקטרוכימיים ושינויים מולקולריים.בהמשך, המעבדה שלנו תמשיך לדחוף את גבולות רזולוציית המדידה והמרחב והזמן כדי להבין תהליכים כימיים וחומריים ברמת המולקולה הבודדת ובסקאלת הזמן של תגובות כימיות.

tracking-electrochemistry-on-single-nanoparticles-with-surface

Research

JoVE Journal

Chemistry

כימיה

אנו מתארים את הייצור והאפיון של מערכות ננו-ביולוגיות המממשקות מצעים ננו-מובנים עם חלבונים ואפטמרים משותקים. מדווחים על השלבים הניסויים הרלוונטיים הכוללים ייצור ליטוגרפי של מצעים ננו-מבניים, ביו-פונקציונליזציה ואפיון ספקטרוסקופיה רמאן משופרת פני השטח (SERS). זיהוי SERS של חלבונים משותקים על פני השטח, ובדיקה של קשירת חלבון-ליגנד ואפטאמר-ליגנד מודגמת.

משטח משופר ראמאן ספקטרוסקופיה איתור של מולקולות ביולוגיות באמצעות EBL מצעי Nanostructured המפוברק

הליך עבור ייצור וביצוע פני השטח מבוסס-מסנן משופרת ראמאן ספקטרוסקופיות (SERS) assay לצורך זיהוי של מזהמים כימיים (כלומר, הדברה ferbam ו אמפיצילין אנטיביוטי) מוצג.

משטח מסנן מבוססי משופר ראמאן Assay ספקטרוסקופיות עבור איתור מהיר של מזהמים כימיים

הפרוטוקול הנוכחי מתאר גישה נוחה לשילוב לכידה אופטית וספקטרוסקופיית רמאן משופרת על פני השטח (SERS) כדי לתפעל ננו-חלקיקים פלסמוניים לזיהוי מולקולרי רגיש. ללא חומרים צוברים, לייזר הלכידה מרכיב ננו-חלקיקים פלסמוניים כדי לשפר את אותות ה-SERS של אנליזות מטרה עבור מדידות ספקטרוסקופיות באתרן .

השמנה אופטית של ננו-חלקיקים פלסמוניים עבור אפיונים של ספקטרוסקופיית ראמאן משופרת בפני השטח באתרו

פרוטוקול זה מדגים מדידות פיזור ראמאן משופר פני שטח (SERS) של מולקולה אחת באמצעות ננו-אנטנת אוריגמי של DNA (DONA) בשילוב עם מיקרוסקופ כוח אטומי מקומי (AFM) ומדידות ראמאן.

מדידות פיזור ראמאן משופרות על פני השטח של מולקולה אחת המופעלות על ידי ננו-אנטנות אוריגמי DNA פלסמוני

במחקר זה, פיתחנו ננו-פרובש טביעות אצבע מבוסס פיזור ראמאן (SERS) בעלות נמוכה עם תאימות ביולוגית חיובית כדי להראות הדמיה ביולוגית של תאים חיים ללא תוויות ולזהות שני זני חיידקים, ולהראות בפירוט כיצד להשיג ספקטרום SERS של תאים חיים בשיטה לא הרסנית.

ביואנליזה של פיזור ראמאן משופרת ללא תוויות ללא תוויות המבוססת על ננו-גשושיות Au@Carbon נקודות

פרוטוקול מתואר לאפיון של הפרמטרים אלקטרוכימיים המפתח של האלקטרודה יהלומים מסוממים (BDD) בורון ויישום שלאחר מכן בניסויי דור pH האתר.

הערכה של בורון מסוממים יהלומי אלקטרודה איכות ובקשה ל<em&gt; באתר</em&gt; שינוי של pH המקומי על ידי אלקטרוליזה המים

מוצגת שיטה לפונקציונליזציה של ננו-צינורות פחמן עם שכבות אנקפסולציה פולימריות הניתנות לכוונון מבנה ואפיון מבני באמצעות פיזור נויטרונים בזווית קטנה.

Functionalization של ננו-צינורות פחמן חד-דופנות עם קופולימרים לחסום Thermo-הפיך אפיון על ידי פיזור קטן זווית ניוטרון

כאן אנו מציגים את הפרוטוקולים ניסיוני עבור הצפיה בזמן אמת תהליך הרכבה עצמית באמצעות מיקרוסקופיית אלקטרונים תאים נוזל שידור.

במיקרוסקופ אלקטרונים הילוכים נוזלי-תא לצורך מעקב הרכבה עצמית של חלקיקים

פרוטוקול זה מתאר הניתוח של מהבהב ראמאן משופרת השטח פיזור עקב ההליכה אקראי של מולקולה בודדת על משטח כסף באמצעות חוקים כוח.

התבוננות וניתוח של מהבהב פיזור ראמאן השטח משופרת

כאן, אנו מציגים פרוטוקול לחקור את המבנה ואת הדינמיקה של מים פנים את המשקל האטומי, מבחינת דימות ברזולוציה submolecular, מניפולציה מולקולרית, ספקטרוסקופיה הרטט קשר יחיד.

חיטוט את המבנה ואת הדינמיקה של מים פנים עם סריקה מיקרוסקופ מינהור וספקטרוסקופיה

למד מעקב אחר תהליכים אלקטרוכימיים בננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת פני השטח. שיטה זו מאפשרת לחוקרים לקשר בין תהליכים אלקטרוכימיים לשינויים מולקולריים בקנה מידה ננומטרי.

מעקב אחר אלקטרוכימיה על ננו-חלקיקים בודדים באמצעות ספקטרוסקופיית פיזור ראמאן משופרת פני השטח ומיקרוסקופ

גלה סרטונים נוספים