שיטת הדמיה אופטית התואמת למיקרוסקופיית אלקטרונים סורקת למיפוי מוח תאי מזוסקופי

701 צפיות

09:40 דק׳

20 בפברואר 2026

10.3791/68814-v

20 בפברואר 2026

701 צפיות

Zhongyang Li¹^,²^,³ , Peiyao Shi⁴ , Ruobing Zhang²^,⁴

¹School of Biomedical Engineering (Suzhou), Division of Life Sciences and Medicine, University of Science and Technology of China, ²Anhui Province Key Laboratory of Biomedical Imaging and Intelligent Processing, Institute of Artificial Intelligence, Hefei Comprehensive National Science Center, ³Department of Biomedical Engineering, City University of Hong Kong, ⁴Institute for Brain and Intelligence, Fudan University

הצגנו טכניקת הדמיה חדשנית בשם Optical Multilayer Interference Tomography (OMLIT), המאפשרת הדמיה ללא הטיה של כל התאים בדגימות מוח בקנה מידה מדום וניתן לשלבה בצורה חלקה בזרימת הדמיה של מיקרוסקופ אלקטרונים סרטורי מבוסס סרט על אותה דגימה.