תהליכי עבודה של עקיפת ננו-קרן במיקרוסקופ אלקטרונים סורק בקריוגניה לאפיון מבני של ממשקי סוללה הרגישים לקרן

פרוטוקול זה מתאר תהליך עבודה של עקיפה בננו-אלומת אלקטרונים בקריו-סריקה (cryo-SEND) בבקרת מינון, לצורך אפיון של ממשקי סוללה הרגישים לאלומה. הוא משמר ממשקי אלקטרוליט-מוצק (SEI) טבעיים על ידי שילוב של טיפול בקריוגניקה ללא קרח, בקרת מינון אלקטרונים ודימות מבוסס עקיפה. תהליך העבודה כולל הנחיות להכנת דגימות, העברה קריוגנית, יישור אלומה ואיסוף נתונים.