XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

La spettroscopia fotoelettronica a raggi X, o XPS, è una tecnica non distruttiva che può essere utilizzata per misurare la chimica della superficie di un materiale. Nell'XPS, una radiografia di energia nota colpisce un atomo. Un elettrone del guscio centrale assorbe il fotone dei raggi X, guadagnando energia sufficiente per lasciare la sua orbit...