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Organici fotovoltaici (OPV) i materiali sono per loro natura non omogenea su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV influisce sulle prestazioni dei dispositivi fotovoltaici. Pertanto, la comprensione delle variazioni spaziali nella composizione e proprietà elettriche dei materiali OPV è di fondamentale importanza per lo spostamento in avanti della tecnologia fotovoltaica. 1,2 In questo lavoro, si descrive un protocollo per la misurazione quantitativa di proprietà elettriche e meccaniche dei materiali OPV con sub -100 nm risoluzione. Attualmente, le proprietà dei materiali misurazioni effettuate utilizzando disponibili in commercio a base di tecniche di AFM (PeakForce, AFM conduttivo) generalmente forniscono solo informazioni di tipo qualitativo. I valori di resistenza e modulo di Young misurato con il nostro metodo sul prototipo ITO / PEDOT: PSS/P3HT: PC 61 sistema BM corrispondono bene con i dati della letteratura. Il P3HT: PC 61 miscela BM separa sul PC 61 BM-ricchi e P3HT ricco di domains. Proprietà meccaniche del PC 61 domini ricchi e BM-P3HT-ricchi sono diversi, che consente di attribuzione dominio sulla superficie della pellicola. Soprattutto, combinando i dati meccanici ed elettrici consente per la correlazione della struttura dei domini sulla superficie del film con proprietà elettriche variazione misurata attraverso lo spessore del film.