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Articolo metodologico

Intrappolamento delle Micro particelle in grata ottica Nanoplasmonic

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DOI:

10.3791/56151

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5 settembre 2017

 , 

In questo articolo

Sommario

Descriviamo una procedura per intercettare otticamente micro-particelle in grata ottica nanoplasmonic.

Abstract

La pinzetta ottica plasmonica è stata sviluppata per superare i limiti di diffrazione delle pinzette ottiche convenzionali campo lontano. Plasmonica reticolo ottico è costituito da una matrice di nanostrutture, che esibiscono una varietà di intrappolamento e comportamenti di trasporto. Segnaliamo le procedure sperimentali per intrappolare micro-particelle in un reticolo ottico semplice quadrato nanoplasmonic. Descriviamo anche l'installazione di ottica e la nanofabbricazione di una matrice di nanoplasmonic. Il potenziale ottico è creato da illuminare una matrice di nanodiscs d'oro con un fascio gaussiano di 980 nm lunghezza d'onda ed eccitante risonanza plasmonica. Il moto delle particelle è monitorato da formazione immagine di fluorescenza. Uno schema per sopprimere photothermal convezione anche descritto per aumentare la potenza ottica utilizzabile per il trapping ottimale. Soppressione della convezione è realizzata il campione a bassa temperatura di raffreddamento, ed utilizzando il coefficiente di dilatazione termica quasi zero di un mezzo di acqua. Trasporto di singola particella sia più dell'intrappolamento delle particelle sono segnalati qui.

Introduzione

L'intrappolamento ottico di particelle micro-scala è stato originariamente sviluppato da Arthur Askin agli inizi del 1970. Mai fin dalla sua invenzione, la tecnica è stata sviluppata come un versatile strumento per micro - e nanomanipulation1,2. Optical trapping base lontano dal campo-principio di messa a fuoco è intrinsecamente limitato dalla diffrazione nel suo confinamento spaziale, in cui la forza di intrappolamento diminuisce drammaticamente convenzionale (seguente un ~unalegge3 per una particella di raggio un) 3. per superare tali limiti di diffrazione....

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Protocollo

1. Setup ottico

Nota: il principio dell'apparato ottico è illustrato nella Figura 1.

  1. Set up ottico pinzetta kit (vedere la Tabella materiali) e il modulo di fluorescenza (Vedi Tabella materiali) secondo i loro manuali. Collegare una fonte di 470 nm blu luce che emettono luce a diodi (LED) al modulo fluorescente.
  2. Sostituire l'alta apertura numerica (NA) (NA = 1.25, ingrandimento 100 x) obiettivo a immersione in olio tramite un funzionamento di lungo distanza obiettivo del microscopio (WD) (lunghezza focale 3,6 mm, WD = 10.6 mm, NA = 0.5).
  3. Rimuove....

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Risultati

Traiettorie di singola particella sono state registrate da una telecamera CCD nel nostro esperimento e le immagini sono state poi elaborate con un programma personalizzato per estrarre traiettoria16 di ogni particella. Risultati rappresentativi vengono visualizzati in Figura 3 e Video 1 per micro-sfere con diametro di 2 µm. più orpelli di particelle all'interno del reticolo ottico sono stati osservati. Successive immag.......

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Discussione

La procedura qui descritta consente al lettore di riprodurre in modo affidabile la registrazione dei colori su una base quotidiana. Regola empirica generale per progettare un reticolo ottico utilizzabile è quello di utilizzare una dimensione paragonabile per plasmoniche nanoarray, interdisc distanza e intrappolati dimensione delle particelle. Rispetto ad una singola, isolata Nanostrutture plasmoniche, il design di grata ottica in collaborazione con l'alto potere ottico accordato dal raffreddamento il campione a ~ 4 ° C u.......

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Dichiarazioni

Gli autori non hanno nulla a rivelare.

Ringraziamenti

Y. T. Y. desidera ringraziare finanziamento dal Ministero della scienza e della tecnologia in numeri di sovvenzione più 105-2221-E-007-MY3 e dal National Tsing Hua University sotto grant numeri 105N518CE1 e 106N518CE1.

....

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Materiali

Elenco dei materiali utilizzati in questo articolo
NomeAziendaNumero di catalogoCommenti
Elemento di raffreddamento termoelettricoThorlabsTEC 1.4-6Elemento TEC per il raffreddamento dei campioni
Termometro RTDOmegaEngineering RTD Termometro 969C
Telecamera a infrarossiFLIR Termocamera FLIR Oneper il monitoraggio della temperatura
sorgente luminosa a diodi emettitori di luceTouchbrightSorgente luminosa per l'illuminazione per l'imaging fluorescente
obiettivo a lunga distanza di lavoroOlympusLMPLFLNPer l'illuminazione del campione e l'imaging
Kit trappola otticaThorlabsOTKB/M
del vetrino coprioggetti0,17 mm
Microscopio elettronico a scansioneHitachiSEM-Hitachi S3400N
Cancellatore di fascio di elettroniDEBENSeparatore di fascio PCDIl blanker viene aggiunto al microscopio elettronico a scansione 
Evaporatore termicoTecnologia
Allineatore a mascheraKarl SussMJB 3Per la fabbricazione di marcatori
Resistenza a fascio di elettroniSigma AlrichPMMA 120KPer litografia a fascio elettronico
Resistenza a fascio di elettroniSigma AlrichPMMA 960KPer litografia a fascio elettronico
Microsfere di polistirene marcate con fluoresentPolyscience2 um di diametro
Mouser2N3904quantità 2 per circuito driver TEC
Transistor bipolareMouser2N3906quantità 2 per circuito driver TEC
Transistor di potenza MOSFETMouserIRF5305quantità 2 per circuito driver TEC
Transistor di potenza MOSFETMouserIRF131ONquantità 2 per circuito driver TEC
Resistenza da 10 kOhmMouserquantità 6 per circuito di pilotaggio TEC
Resistenza da 910 OhmMouserquantità 2 per circuito di pilotaggio TEC
Fotoresist MicrochemicalsAZ4620Per la fabbricazione di marcatori
AcetoneSigma AlrichPer la fabbricazione di marcatori
Modulo di fluorescenza per OTKB/M, filettature metricheThorlabsOTKB-FL/ M
Set di filtri fluorescentiThorlabsMDF-FITCper isotiocianato di fluoresceina (FITC)
Pulitore ad ultrasuoniDeltaDC150HPer la fase di sollevamento
, , : Spessore SYSKEY Transistor bipolare da

Riferimenti

  1. Ashkin, A., Dziedzic, J. M., Bjorkholm, J. E., Chu, S. Observation of a single-beam gradient force optical trap for dielectric particles. Opt.Lett. 11, 288-290 (1986).
  2. Grier, D. A revolution in optical manipulation. Nature. 424, 21-27 (2003).
  3. Wright, W. H., Sonek, G. J., Berns, M. W.

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Ristampe e permessi

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