Name: In Situ Misurazione della Temperatura della Superficie in un Forno a nastro Trasportatore tramite Termografia a infrarossi in linea (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2020-05-30T13:00:00.000+00:00
Duration: 7 min 3 s
Description: Scopri la termografia a infrarossi in linea per la misurazione senza contatto della temperatura superficiale delle celle solari al silicio nei forni a nastro trasportatore. Questo metodo consente monitoraggio in tempo reale senza interrompere la produzione.

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Questo lavoro è sostenuto dal Ministero federale tedesco per gli affari economici nell'ambito del progetto "Feuerdrache" (0324205B). Gli autori ringraziano i collaboratori che hanno contribuito a questo lavoro e i partner del progetto (InfraTec, Rehm Thermal Systems, Heraeus Noblelight, Trumpf Photonic Components) per il cofinanziamento e il supporto eccezionale.

1. Installazione della telecamera a infrarossi in un forno a nastro trasportatore
<ol><li>Decidere quale parte del forno deve essere misurata dalla fotocamera a infrarossi. NOTA: Qui viene scelta la zona di picco del processo di cottura (vedere la zona arancione evidenziata nell'area di cottura della figura 1A).</li>
	<li>Definire l'intervallo di temperatura di interesse che la telecamera a infrarossi dovrebbe rilevare (ad esempio, 700-900 gradi centigradi, l'intervallo di temperatura di picco tipico del processo di cottura).</li>
	<li>Determinare, o almeno stimare (attraverso esperimenti o letteratura), la temperatura, le emissioni dipendenti spettrali e angolari degli oggetti di interesse (ad esempio, la cella solare di silicio) per identificare gli spazi di lunghezza d'onda più elevati per l'intervallo di temperatura di interesse (sotto un angolo specifico della telecamera). NOTA: Qui, l'emissione è stimata sulla base della letteraturaprecedente 3 e di un software chiamato RadPro10, che calcola l'emissività spettrale, angolare e dipendente dalla temperatura per i materiali di interesse.</li>
	<li>Decidere il tipo di fotocamera a infrarossi NOTA: Qui viene utilizzata una telecamera a infrarossi a onde medie (MWIR) in antimonide (InSb).Table of Materials<ol>
<li>Scegli una fotocamera in grado di rilevare l'intervallo di temperatura di interesse.</li>
		<li>Selezionare una telecamera il cui intervallo di lunghezza d'onda di rilevamento corrisponde all'intervallo di lunghezza d'onda più alta dell'oggetto di interesse nell'intervallo di temperatura di interesse.</li>
		<li>Evitare il maggior numero possibile di rilevazioni parassitarie da parte della telecamera evitando oggetti che emettono o riflettono radiazioni nel campo di vista della telecamera (ad esempio, lampade a infrarossi in un forno).</li>
		<li>Decidere la necessaria risoluzione spaziale e temporale della fotocamera (ad esempio, 640 px x 512 px e 125 Hz [immagine completa] qui).</li>
	</ol>
</li>
	<li>Realizzare un percorso ottico sufficiente dalla fotocamera a infrarossi all'oggetto (vedere la figura 1B).<ol>
<li>Evitare di disturbare gli oggetti nel percorso ottico (ad esempio, lampade a IR che causano luce diretta o riflessa).</li>
		<li>Posizionare la fotocamera all'esterno della camera del forno, se possibile. NOTA: La maggior parte delle telecamere ha basse temperature di funzionamento (ad es. fino a 50 gradi centigradi). Assicurarsi in anticipo che la posizione della fotocamera può essere modificata, se lo si desidera.</li>
		<li>Rimuovere la parete del forno e l'isolamento nella posizione in cui deve essere il percorso ottico e sostituire il foro con una finestra iR isolante.<ol>
<li>Scegliere il materiale appropriato per la finestra che soddisfi le seguenti esigenze: 1) il più trasparente possibile per la gamma di lunghezza d'onda di rilevamento (λ) della telecamera (ad esempio, Finestra in vetro al quarzo per 0,2 m < λ < 3 m, finestra di zaffiro per 0,4 m < λ < 4,2 m) e 2) in grado di isolare termicamente la camera del forno. NOTA: le temperature risultanti della finestra possono influenzare la trasmissione della finestra.</li>
			<li>Evitare danni alla finestra a IR. Non stringere la finestra per evitare la rottura durante l'espansione del calore. NOTA: Il materiale della finestra deve avere una quantità sufficiente di spazio per espandersi quando viene riscaldato.</li>
		</ol>
</li>
	</ol>
</li>
	<li>Controllare il campo di visualizzazione risultante (FOV) della fotocamera a infrarossi esaminando l'immagine termografia tramite il software della fotocamera a infrarossi. Identificare l'oggetto di destinazione e la sua temperatura nell'immagine termografia. Regolare il FOV, se necessario.</li>
</ol>2. Correzione globale della temperatura del cliente di una telecamera a infrarossi calibrata per la fabbricazione
CAUTION: Si presuppone che la fabbricazione della telecamera a infrarossi includa una calibrazione radiometrica.
<ol><li>Individuare artefatti ottici locali, come la riflessione e la radiazione di fondo.</li>
	<li>Eseguire misurazioni termocoppia classiche dell'oggetto mentre contemporaneamente la registrazione del wafer compreso thermocouple con la fotocamera a infrarossi.<ol>
<li>Verificare la validità dei termocopple usati. Ricerca di punti di temperatura caratteristici noti nel profilo di temperatura dell'oggetto elaborato che possono essere chiaramente rilevati (ad esempio, interruzione in una linea liscia). Se il termocoppia misura correttamente questi punti di temperatura, il termocoppia è molto probabilmente calibrato correttamente.</li>
		<li>Esempio di utilizzo di celle solari in silicio<ol>
<li>Posizionare il termocopo sul lato posteriore in alluminio del wafer. Prendere un profilo di temperatura per un processo di cottura standard11.</li>
			<li>Convalidare i termocopple determinando se vi è un'interruzione del profilo di temperatura dal punto 2.2.2.1 intorno alla temperatura eutetica di Al-Si di 577 gradi centigradi sotto forma di curva più piatta (come nel caso della figura 2D). NOTA: Se l'interruzione si verifica a una temperatura di circa 577 gradi centigradi, è un segno che la misurazione della temperatura da parte del termocoppia è accurata. Utilizzare solo termocoppie convalidate per i seguenti passaggi.</li>
		</ol>
</li>
		<li>Eseguire misurazioni termocoppia nell'intervallo di temperatura di interesse nello stesso punto oggetto (più volte per motivi statistici), quindi a vari punti casuali spaziali (per motivi statistici) per ottenere profili di temperatura del tempo.</li>
	</ol></li>
	<li>Determinare la temperatura dell'oggetto termografico locale non corretto sotto le termocoppie dalle misurazioni del termocoppia del punto 2.2.3 posizionando il termocopo sul lato superiore dell'oggetto.<ol>
<li>Verificare la presenza di un possibile calo della temperatura locale intorno al termocoppia a contatto (a causa della dissipazione e dell'ombreggiatura del calore). Si supponga che la temperatura in prossimità del termocoppia come la temperatura dell'oggetto direttamente sotto il termocoppia, se non è presente un calo di temperatura locale.</li>
		<li>Se è presente un calo di temperatura locale, effettuare le seguenti operazioni.<ol>
<li>Determinare il gradiente di temperatura spaziale del calo di temperatura attuale nella parte che non è coperto dal termocoppia. NOTA: Si consiglia di determinare il gradiente in più punti intorno al calo di temperatura (radialmente) e determinare un gradiente medio.</li>
			<li>Stimare il contributo di possibili artefatti ottici indotti dal termocoppia (protocollo di esempio per un caso in cui si assume una temperatura omogenea lungo la direzione della profondità cellulare, come nelle celle solari Si).<ol>
<li>Posizionare il termocopo sulla superficie opposta alla superficie misurata e ripetere la misurazione termocoppia e termografica in questa configurazione (come mostrato nella Figura 3A). Ruotare l'oggetto, compreso il termocoppia, in modo che il termocoppia non si trova nel percorso ottico tra la fotocamera e l'oggetto. NOTA: Se il gradiente del calo di temperatura locale è lo stesso per il termocoppia all'interno e all'esterno del percorso ottico (cioè, attaccato alla superficie misurata o opposta), è un segno che il termocoppia molto probabilmente non induce artefatti ottici.</li>
				<li>Estrapolare il gradiente del calo di temperatura nel caso del termocoppia che contatta la superficie misurata (cioè, percorso ottico interno) all'area coperta dal termocoppia per ottenere la temperatura dell'oggetto sotto il termocoppia.</li>
				<li>Ripetere il punto 2.3.2.2.2 per ogni misura del punto 2.2.3.</li>
			</ol>
</li>
		</ol>
</li>
	</ol></li>
	<li>Alternativa alla 2.3: Determinare la temperatura dell'oggetto termografico locale non corretto sotto le termocoppie dalle misurazioni termocoppia del punto 2.2.3 posizionando il termocopo sul lato inferiore dell'oggetto. Per determinare la termografia locale termografia temperatura della cella solare sotto il termocoppia, estrarre la temperatura locale nella posizione del termocoppia. NOTA: Mantenere il termocopo sul lato posteriore impedisce al termocoppia di bloccare la vista sull'oggetto da parte della fotocamera. Pertanto, da un lato, la correzione della temperatura è significativamente più semplice. D'altra parte, i termocoppie di solito non sono posizionati sul lato inferiore dell'oggetto durante il processo di cottura, quindi potrebbero portare a complicazioni operative, motivo per cui questa alternativa deve essere effettuata con maggiore attenzione.</li>
	<li>Correggere l'immagine termografia non corretta rispetto alle temperature misurate termocoppia con i dati generati dai punti 2.3 o 2.4.<ol>
<li>Tracciare le temperature misurate tramite termocoppie rispetto alle temperature determinate tramite termografia a IR non corretta. Condurre un raccordo a curva.</li>
		<li>Applicare l'adattamento della curva ottenuta come formula di correzione globale uniforme generale per l'immagine termografia non corretta.</li>
	</ol></li>
	<li>Ripetere la correzione della temperatura per ogni nuovo tipo di oggetto o configurazione, soprattutto quando i parametri ottici differiscono.</li>
</ol>3. Valutazione della distribuzione della temperatura superficiale spaziale tramite termografia iR
NOTA: si presuppone che le condizioni di cottura siano identiche per questa sezione.
<ol><li>Creazione di una mappa di distribuzione della temperatura di picco bidimensionale (vedere la Figura 4A)<ol>
<li>Scrivere uno script con un linguaggio di programmazione appropriato per monitorare la temperatura dell'oggetto di superficie per ogni punto della superficie dell'oggetto lungo l'intera fotocamera FOV, cioè agendo come un "termocoppia virtuale" posizionato in tutti gli spot dell'oggetto contemporaneamente. NOTA: Qui, lo script è scritto in MATLAB.</li>
		<li>Estrarre il valore massimo, cioè la temperatura di picco, per ogni punto oggetto e tracciare queste temperature in una mappa di distribuzione 2D corrispondente.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Distribuzione della temperatura media in e perpendicolare alla direzione della velocità effettiva dell'oggetto (vedere la figura 4B)<ol>
<li>In direzione velocità effettiva: media la distribuzione della temperatura 2D nella dimensione che è opposta alla direzione della velocità effettiva. Ciò che rimane, è la distribuzione media della temperatura 1D in direzione della produttività.</li>
		<li>Perpendicolare alla direzione della velocità effettiva: media la distribuzione della temperatura 2D nella dimensione che è in direzione della velocità effettiva. Ciò che rimane, è la distribuzione media della temperatura 1D perpendicolare alla direzione della velocità effettiva. NOTA: Si consiglia di tralasciare l'ultimo centimetro (almeno) del bordo per la media poiché gli artefatti ottici sul bordo dell'oggetto potrebbero falsificare la media di temperatura risultante.</li>
	</ol>
</li>
</ol>

<ol><li>Xu, J., Zhang, J., Kuang, K. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aXu%2C+J+%22Conveyor+Belt+Furnace+Thermal+Processing%22">Conveyor Belt Furnace Thermal Processing</a>. , Springer. Heidelberg, Germany. (2018).</li>
<li>Breitenstein, O., Warta, M. W. <a target="_blank" href="http://scholar.google.com/scholar?hl=en&safe=off&q=author%3aBreitenstein%2C+O+%22Langenkamp+Lock-in+Thermography%3A+Basics+and+Use+for+Evaluating+Electronic+Devices+and+Materials%22">Langenkamp Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials</a>. , Springer. Heidelberg, Germany. (2010).</li>
<li>Ravindra, N. M., Ravindra, K., Mahendra, S., Sopori, B., Fiory, A. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Modeling+and+Simulation+of+Emissivity+of+Silicon-Related+Materials+and+Structures%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Electronic+Materials%22%5BJournal%5D)">Modeling and Simulation of Emissivity of Silicon-Related Materials and Structures.</a> Journal of Electronic Materials. 32 (10), 1052-1058 (2003).</li>
<li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((In+Situ+Solar+Wafer+Temperature+Measurement+during+Firing+Process+via+Inline+IR+Thermography%5BTitle%5D)+AND+%22Physica+Status+Solidi+%28RRL%29+-+Rapid+Research+Letters%22%5BJournal%5D)">In Situ Solar Wafer Temperature Measurement during Firing Process via Inline IR Thermography.</a> Physica Status Solidi (RRL) - Rapid Research Letters. 13 (10), 1900270(2019).</li>
<li>Ourinson, D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((In-situ+wafer+temperature+measurement+during+firing+process+via+inline+infrared+thermography%5BTitle%5D)+AND+%22AIP+Conference+Proceedings%22%5BJournal%5D)">In-situ wafer temperature measurement during firing process via inline infrared thermography.</a> AIP Conference Proceedings. 2156, 020013(2019).</li>
<li>Cooper, I. B., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Understanding+and+Use+of+IR+Belt+Furnace+for+Rapid+Thermal+Firing+of+Screen-Printed+Contacts+to+Si+Solar+Cells%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+Electron+Device+Letters%22%5BJournal%5D)">Understanding and Use of IR Belt Furnace for Rapid Thermal Firing of Screen-Printed Contacts to Si Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 31 (5), 461-463 (2010).</li>
<li>Schubert, G., Huster, F., Fath, P. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Physical+understanding+of+printed+thick-film+front+contacts+of+crystalline+Si+solar+cells-Review+of+existing+models+and+recent+developments%5BTitle%5D)+AND+%22Solar+Energy+Materials+and+Solar+Cells%22%5BJournal%5D)">Physical understanding of printed thick-film front contacts of crystalline Si solar cells-Review of existing models and recent developments.</a> Solar Energy Materials and Solar Cells. 90 (18-19), 3399-3406 (2006).</li>
<li>Rauer, M., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Aluminum+Alloying+in+Local+Contact+Areas+on+Dielectrically+Passivated+Rear+Surfaces+of+Silicon+Solar+Cells%5BTitle%5D)+AND+%22IEEE+Electron+Device+Letters%22%5BJournal%5D)">Aluminum Alloying in Local Contact Areas on Dielectrically Passivated Rear Surfaces of Silicon Solar Cells.</a> IEEE Electron Device Letters. 32 (7), 916-918 (2011).</li>
<li>Pawlik, M., Vilcot, J. -P., Halbwax, M., Gauthier, M., Le Quang, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Impact+of+the+firing+step+on+Al+2+O+3+passivation+on+p-type+Czochralski+Si+wafers%3A+Electrical+and+chemical+approaches%5BTitle%5D)+AND+%22Japanese+Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">Impact of the firing step on Al 2 O 3 passivation on p-type Czochralski Si wafers: Electrical and chemical approaches.</a> Japanese Journal of Applied Physics. 54 (8), 21(2015).</li>
<li>Lee, B. J., Zhang, Z. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((RAD-PRO%3A+Effective+Software+for+Modeling+Radiative+Properties+in+Rapid+Thermal+Processing%5BTitle%5D)+AND+%222005+13th+International+Conference+on+Advanced+Thermal+Processing+of+Semiconductors%22%5BJournal%5D)">RAD-PRO: Effective Software for Modeling Radiative Properties in Rapid Thermal Processing.</a> 2005 13th International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors. , Santa Barbara, CA. (2005).</li>
<li>Temperature Measurements. , Available from: 
 <a target="_blank" href="https://meettechniek.info/measuring/temperature.html">https://meettechniek.info/measuring/temperature.html</a> (2020).</li>
<li>Blakers, A. W., Wang, A., Milne, A. M., Zhao, J., Green, M. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((22.8%25+efficient+silicon+solar+cell%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">22.8% efficient silicon solar cell.</a> Applied Physics Letters. 55 (13), 1363-1365 (1989).</li>
<li>Dullweber, T., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((PERC%2B%3A+industrial+PERC+solar+cells+with+rear+Al+grid+enabling+bifaciality+and+reduced+Al+paste+consumption%5BTitle%5D)+AND+%22Progress+in+Photovoltaics%3A+Research+and+Applications%22%5BJournal%5D)">PERC+: industrial PERC solar cells with rear Al grid enabling bifaciality and reduced Al paste consumption.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 24 (12), 1487-1498 (2016).</li>
<li>Ourinson, D., Emanuel, G., Lorenz, A., Clement, F., Glunz, S. W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Evaluation+of+the+burnout+phase+of+the+contact+firing+process+for+industrial+PERC%5BTitle%5D)+AND+%22AIP+Conference+Proceedings%22%5BJournal%5D)">Evaluation of the burnout phase of the contact firing process for industrial PERC.</a> AIP Conference Proceedings. 2147 (1), 040015(2019).</li>
</ol>

Gli autori non hanno nulla da rivelare.

Comunemente, la temperatura termografia viene corretta misurando e adattando i parametri ottici dell'oggetto, la finestra e il percorso trasmissivi e la temperatura ambientale dell'oggetto e della finestra trasmissiva2. Come metodo alternativo, una tecnica di correzione della temperatura basata sulle misurazioni termocoppia è descritta in questo protocollo. Per quest'ultimo metodo, non è necessaria la conoscenza dei parametri di cui sopra. Per l'applicazione illustrata di seguito, questo metodo è ...

Il controllo del processo e la garanzia della qualità degli oggetti trattati nei fornidel nastro trasportatore 1 è importante e realizzato misurando la temperatura superficiale dell'oggetto. Attualmente, la temperatura è in genere misurata da un termocoppia1. Poiché le misurazioni termocoppia richiedono il contatto con l'oggetto, termocopples inevitabilmente danneggiare l'oggetto. Pertanto, è comune scegliere campioni rappresentativi di un lotto per le misurazioni della temperatura, che non vengono ulteriormente elaborate in quanto vengono danneggiate. Le temperature misurate di questi oggetti danneggiati vengono quindi generalizzate ai campioni rimanenti del lotto, che vengono ulteriormente elaborati. Di conseguenza, la produzione deve essere interrotta per le misurazioni termocoppia. Inoltre, il contatto è locale, deve essere riadattato dopo ogni misurazione e influenza la temperatura locale.
La termografia a infrarossi (IR)ha una serie di vantaggi rispetto alle classiche misurazioni termocoppia e rappresenta un metodo di misurazione della temperatura senza contatto, in situ, in tempo reale, risparmio di tempo e risolto spazialmente. Utilizzando questo metodo, ogni campione del lotto, compresi quelli che vengono ulteriormente elaborati, può essere misurato senza interrompere la produzione. Inoltre, è possibile misurare la distribuzione della temperatura superficiale, che fornisce informazioni sull'omogeneità della temperatura durante il processo. La funzione in tempo reale consente di correggere le impostazioni della temperatura al volo. Finora, le possibili ragioni per non utilizzare la termografia irrisorie nel nastro trasportatore sono 1) parametri ottici sconosciuti di oggetti caldi (soprattutto per i nonmetalli3) e 2) di radiazione ambientale parassita nel forno (cioè, radiazione riflessa rilevata dalla telecamera a infrarossi oltre alla radiazione emessa dall'oggetto), che porta a false uscite di temperatura2.
Qui, come esempio rappresentativo di termografia iR in un forno a nastro trasportatore, abbiamo installato con successo un sistema di termografia in linea in un forno a fuoco solare alimentato a lampada IR (Figura 1), che viene utilizzato durante il processo di cottura a contatto delle celle solari Si industriali (Figura 2A,B)4,5. Il processo di cottura è un passo cruciale alla fine della produzione industriale di celle solari6. Durante questo passaggio, i contatti della cella vengono formati7,8e la passivazione della superficie viene attivata9. Per raggiungere con successo quest'ultimo, il profilo di temperatura del tempo durante il processo di cottura (Figura 2C) deve essere realizzato con precisione. Pertanto, è necessario un controllo della temperatura sufficiente ed efficiente. Questo protocollo descrive come installare una telecamera a infrarossi in un forno a nastro trasportatore, eseguire una correzione del cliente di una telecamera a infrarossi calibrata in fabbrica e valutare la distribuzione della temperatura superficiale spaziale di un oggetto bersaglio.

<table><tbody><tr><td>Datalogger incl. Barriera termica</td><td>Datapaq Ltd.</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Termocamera IR "Image IR 8300"</td><td>InfraTec GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Software per termografia IR "IRBIS Professional 3.1"</td><td>InfraTec GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Celle solari</td><td>Fraunhofer ISE</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Forno solare "RFS 250 Plus"</td><td>Rehm Thermal Systems GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Termocoppie a guaina tipo K</td><td>TMH GmbH</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Termocoppia in quarzo</td><td>Heraeus Noblelight GmbH</td><td></td><td></td></tr></tbody></table>

in situ misurazione della temperatura della superficie in un forno a nastro trasportatore tramite termografia a infrarossi in linea

In Situ Surface Temperature Measurement in a Conveyor Belt Furnace via Inline Infrared Thermography

Misurare la temperatura superficiale degli oggetti che vengono lavorati nei forni del nastro trasportatore è uno strumento importante nel controllo del processo e nella garanzia della qualità. Attualmente, la temperatura superficiale degli oggetti lavorati nei forni del nastro trasportatore viene in genere misurata tramite termocoppie. Tuttavia, la termografia a infrarossi (IR) presenta molteplici vantaggi rispetto alle misurazioni termocoppia, in quanto è un metodo senza contatto, in tempo reale e risolto spazialmente. Qui, come esempio rappresentativo di proof-of-concept, un sistema di termografia in linea viene installato con successo in un forno a fuoco solare alimentato a lampada IR, che viene utilizzato per il processo di cottura a contatto delle celle solari Si industriali. Questo protocollo descrive come installare una telecamera a infrarossi in un forno a nastro trasportatore, eseguire una correzione da parte del cliente di una telecamera a infrarossi calibrata in fabbrica ed eseguire la valutazione della distribuzione della temperatura della superficie spaziale su un oggetto di destinazione.

Come illustrato nella Figura 3B-D, l'oggetto di esempio (qui, una cella solare in silicio; in senso stretto, un emettitore passivato e una cella posteriore [PERC]12; Figura 2A,B) può essere chiaramente rilevata dalla fotocamera a infrarossi in diverse configurazioni4. Le diverse configurazioni sono monofacially metallized (Figura 3B), bifacially metall...

Questo protocollo descrive come installare una telecamera a infrarossi in un forno a nastro trasportatore, eseguire una correzione da parte del cliente di una telecamera a infrarossi calibrata in fabbrica e valutare la distribuzione della temperatura superficiale spaziale di un oggetto di interesse. Gli oggetti di esempio sono celle solari in silicio industriale.

In Situ Misurazione della Temperatura della Superficie in un Forno a nastro Trasportatore tramite Termografia a infrarossi in linea

Measuring the surface temperature of objects that are processed in conveyor belt furnaces is an important tool in process control and quality assurance. ...

Poiché è fondamentale misurare la temperatura degli oggetti lavorati nei forni in linea, qui presentiamo la termografia in linea come una promettente alternativa alle classiche misurazioni della temperatura da parte delle termocopia. Le termocopia danneggiano l'oggetto, misurano la temperatura localmente e richiedono un'interruzione della produzione. La nostra termografia in linea, tuttavia, misura la temperatura dell'oggetto in modo contactless, in tempo reale, risolto spazialmente.Utilizziamo forni in linea per la cottura a contatto di celle solari al silicio. Pertanto, abbiamo installato una termografia in linea nel nostro forno per indagare questi vantaggi. Selezionare una fotocamera con un intervallo di lunghezze d'onda di rilevamento che corrisponda il più possibile all'intervallo di lunghezza d'onda dell'emissione più alta dell'oggetto di interesse nell'intervallo di temperatura di interesse.Per installare la telecamera all'esterno della camera del forno, rimuovere la parete del forno e l'isolamento nel punto in cui deve trovarsi il percorso ottico, evitando oggetti inquietanti, come le lampade a infrarossi, nel percorso ottico. Chiudere il foro con una finestra che isola te

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