XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

X線光電子分光法(XPS)は、材料の表面化学を測定するために使用できる非破壊技術です。XPS では、既知のエネルギーの X 線が原子に当たります。コアシェル電子はX線光子を吸収し、その軌道を離れるのに十分なエネルギーを獲得します。

電子が吸収した過剰なエネルギーは、その運動エネルギーとして残ります。これらの運動エネルギーのスペクトルを組み立てることにより、電子の元の結合エネルギーを計算し、材料の化学組成と状態を決定するために使用できます。

このビデオでは、X線光電子分光法の原理を説明し、XPSスペクトルの測定方法と解釈方法を示します。

束縛された電子が十分なエネルギーの光子を吸収すると、その軌道から放出されます。しっかりと結合したコアシェル電子を放出...