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AAS測定では、スペクトル、化学的、または物理的な干渉に遭遇し、検出された分析物信号の大きさを不明瞭にしたり、変化させたりすることがあります。
スペクトル干渉は、干渉物質または霧化炎からの信号が分析物の信号と重なり、分析物の吸光度が誤って上昇またはマスキングされる場合に発生します。
これは、Zeeman、Smith–Hieftje、または重水素バックグラウンド補正技術を使用して対処できます。さらに、高分解能分光器は、重なり合うスペクトル線によるスペクトル干渉を最小限に抑えることができます。
化学的干渉の原因には、分析種とマトリックス成分との相互作用があり、不揮発性塩が生成され、霧化効率が低下します。
このような干渉は、高い霧化温度を使用するか、錯体化剤または離型剤を添加することで回避できます。
さらに、一部の原子分析物は分析中にイオン化し、吸収が低下する可能性があります。しかし、よりイオン化しやすい元素を添加することで、分析物のイオン化が抑制されます。
ガスの流量や火炎温度の変動など、化学的要因以外の要因から生じる物理的干渉は、頻繁なキャリブレーション、内部標準、またはサンプルへの既知の量の分析物の添加によって最小限に抑えられます。
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