ランダム誤差と系統誤差

科学者は常に、最高の精度と精度で測定値を記録するために最善を尽くしています。 ただし、エラーが発生する場合もあります。 これらのエラーはランダムまたは系統的に発生する可能性があります。 測定プロセスの不一致や変動、または測定される量自体の変動により、ランダムな誤差が観察されます。 このような誤差は、測定を繰り返すと真の値より大きくなったり小さくなったりして変動します。 科学者が定規を使ってミミズの長さを測定しているとします。 この測定プロセスにおけるランダムな誤差は、科学者がスケールを読み取る方法が一貫していなかったり、ミミズが動いていたりした結果である可能性があります。 ランダムエラーは避けられません。 ただし、試行を繰り返すことで平均化できます。

系統的誤差は継続的な問題から発生し、測定値に一貫した不一致が生じます。 これらの誤差は、常に真の値より大きいか小さい傾向があります。 これらは予測可能であり、本質的に役立つことがほとんどです。 たとえば、不適切に校正された秤量天びんは、常に真の値よりも重い物体の重量を計量する可能性があります。 ランダム誤差とは異なり、系統誤差は繰り返しの測定で平均化することはできません。

このテキストは から編集されたものです。 Openstax, Chemistry 2e, Section 1.5: Measurement Uncertainty, Accuracy, and Precision.