Cooling Rate Dependent Ellipsometry Measurements to Determine the Dynamics of Thin Glassy Films

Ethan C. Glor; Zahra Fakhraai

doi:10.3791/53499

JoVE Journal
Chemistry

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Cooling Rate Dependent Ellipsometry Measurements to Determine the Dynamics of Thin Glassy Films

薄いガラス質膜のダイナミクスを決定するレート依存エリプソメトリー測定を冷却

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09:32 min

January 26, 2016

DOI: 10.3791/53499-v

Ethan C. Glor¹, Zahra Fakhraai¹

¹Department of Chemistry,University of Pennsylvania

Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.

ここでは、ガラス状材料の様々な割合のガラス転移温度_（T g）を決定することができ依存エリプソメトリー実験の、平均力学、もろさ及び過冷却液体の膨張係数とガラスを冷却するためのプロトコルを提示します。

この手順の全体的な目標は、超薄型ガラス膜のガラス転移温度、見かけの膨張係数、および平均ダイナミクスを迅速かつ正確に測定する簡単な方法を提供することです。この方法は、薄膜のダイナミクスがバルクのダイナミクスとどのように関連しているかなど、ポリマーガラス分野の重要な質問に答えるのに役立ちます。この手法の主な利点は、1回のハイスループット実験で、ポリマー超薄膜のガラス転移温度、見かけの活性化係数、および脆弱性を計算できることです。

ここで紹介する例は主にポリマーガラスに焦点を当てていますが、この方法は、有機分子ガラスやナノ複合材料など、他のタイプのガラスの厚膜や薄膜の特性を研究するために、より広く適用することができます。ガラス転移温度測定に必要になる前日にフィルムの準備を開始してください。フィルムの材料を正確に計量するためのスケールを用意してください。

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