形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法

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2023年6月30日

10.3791/64823-v

2023年6月30日

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ここでは、細菌の特性評価のための簡単で迅速な方法としての原子間力顕微鏡(AFM)の応用を紹介し、細菌のサイズと形状、細菌培養バイオフィルム、殺菌剤としてのナノ粒子の活性などの詳細を分析します。

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Atomic Force Microscopy

Chapters in this video

0:04

Introduction

0:31

Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements

3:10

Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence

4:46

Conclusion

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