XPS Surface Analysis of Materials

X-ray photoelectron spectroscopy, or XPS, is a surface analysis method for studying materials. It measures elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements in a sample. Because the signal comes from the top few nanometers, XPS is especially useful for examining surfaces.

X선 광전자 분광법(XPS)은 물질의 표면 화학을 측정하는 데 사용할 수 있는 비파괴 기술입니다. XPS에서는 알려진 에너지의 X선이 원자에 부딪힙니다. 코어 쉘 전자는 X선 광자를 흡수하여 궤도를 벗어나기에 충분한 에너지를 얻습니다.

전자에 의해 흡수된 초과 에너지는 운동 에너지로 남아 있습니다. 이러한 운동 에너지의 스펙트럼을 조립함으로써 전자의 원래 결합 에너지를 계산하고 재료의 화학적 조성과 상태를 결정하는 데 사용할 수 있습니다.

이 동영상은 X선 광전자 분광법의 원리를 설명하고 XPS 스펙트럼을 측정하고 해석하는 방법을 보여줍니다.

결합된 전자가 충분한 에너지의 광자...