여기에서는 소형 금속 의료 기기의 공식 부식을 분석하기 위해 체외 전위차역학적 부식 시스템을 설정하고 실행하는 프로토콜을 제시합니다.
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여기에서는 소형 금속 의료 기기의 공식 부식을 분석하기 위해 체외 전위차역학적 부식 시스템을 설정하고 실행하는 프로토콜을 제시합니다.
다른 금속 재료는 재료의 개방 회로 전위, 파괴 전위 및 부동태화 전위에 의해 결정되는 서로 다른 편광 특성을 가지고 있습니다. 이러한 전기화학적 매개변수의 검출은 재료의 부식 요인을 식별합니다. 이를 위해서는 신뢰할 수 있고 잘 작동하는 부식 시스템이 필요합니다. 샘플의 부식은 기준전극, 계수전극 및 작동 전극으로 구성된 3전극 구성을 사용하는 전위차역학적 분극 기술을 통해
부식되었습니다. 시작하기 전에 기준선 전위를 얻습니다. 부식 전위(Ecorr)의 안정화에 따라 적용된 전위는 기준 전극에 비해 양의 방향으로 느린 속도로 증가합니다. 작동 전극은 스테인리스 스틸 나사였습니다. 기준 전극은 표준 Ag/AgCl이었습니다. 사용된 카운터 전극은 백금 메쉬였습니다. 생체 재료를 테스트하기 위한 신뢰할 수 있고 잘 작동하는 체외 부식 시스템을 갖추면 파괴 가능성을 결정하여 재료의 체계적인 특성화를 가능하게 하는 저렴한 기술을 제공하여 부식에 대한 재료의 반응을 더 잘 이해할 수 있습니다. 이 프로토콜의 목표는 소형 금속 의료 기기의 공식 부식을 분석하기 위해 체외 전위차역학적 부식 시스템을 설정하고 실행하는 것입니다.
전기 화학적 방법은 재료의 전기 화학적 특성을 얻을 수있는 신속하고 비교적 저렴한 방법을 제공한다. 이들 기술은 제어 된 전기 잡음 1-5 전하 전송 프로세스의 반응을 관찰함으로써, 금속의 부식을 검출 할 수있는 능력에 주로 기초한다. 신체 환경에서 금속 임플란트의 부식으로 인해 생체 적합성 및 자료의 무결성 6에 불리한 영향에 매우 중요하다. 체내 이식의 부식에 기여하는 주요 요인은 금속 이온 7-11의 증가 된 방출로 이어지는 표면 산화물의 용해이다. 이것은 로컬,하지만 임플란트 10,12-28의 조기 실패로 이어지는 잠재적으로 전신 효과를 볼 수 있습니다 불리한 생물학적 반응을 초래한다.
시험편의 부식 특성을 생성 편광 스캔으로부터 예측되고텐쇼에 의해. 편광 스캔은 금속 기판의 운동 부식 파라미터의 추정을 허용한다. 스캔하는 동안, 산화 또는 전기 활성 종의 환원은 전하 전송과 반응물 또는 생성물의 이동에 의해 한정 될 수있다. 이러한 요소는 모두 편광 스캔에 의해 캡슐화된다 따라서, 다수의 사이클에 걸쳐 신뢰성 있고 반복 가능한 편광 스캔을 생성하는 시스템의 중요성은 매우 중요하다. 이 논문의 주요 초점은 잘 작동하는 동전 위 부식 시스템을 획득하는데 걸리는 근거 및 단계를 식별하는 프로토콜을 제공하는 것이다.
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샘플 홀더 1. 건설
유리 2. 청소
장치 3. 설정
4. 부식 테스트 실행
부식 실행 종료 후에 제
주 : 부식 완성 편광 스캔 소프트웨어의 분석 뷰 내에 도시되어 실행 한 후. 각 편광를 들어 발표자보기는 OCP, 로그 (I) 대 E의 플롯이다 t 대 E의 음모와 CV 계단을 나열 실행합니다.
6. 전극 홀더에서 샘플을 제거
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절차의 종료시 관내 부식 시스템의 부식 시험을 실시하는 설정이다. 이러한 부식 용기 패러데이 케이지의 세정 구체적인 절차는 잡음 성능을 개선하도록 프로토콜 내로 도입시켰다. 양호한 편광 주사의 기본 개념은 금속 재료의 부식 감수성을 이해하기 위해 유용한 정보를 제공하는 재료의 전기 물리적 조건을 식별한다. 절차 및 프로토콜은 신뢰성과 재현성있는 결과를 달성하는 데 매우 중요합니다. 최적화는 사용 중에 발생할 수있는 특정 문제를 도움이 될 수있는 정보를 취득, 확인 및 현재 프로 시저에 추가됩니다. 더 - 사전에 기존의 비 보정 시스템은 편광 스캔 (그림 1)를 생산했다. 이 검사는 직접 전기 물리적 COND의 결정을 허용하지 않는 산란 점의 집합을 나타낸다시험에서 재료의 itions. OCP의 식별은 비실용적이고 부식 repassivation 전위 판독하기 어렵다. 사전 기존 설치를 발견 오류는 최대한의 잠재력에 도달하...
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스테인레스 스틸 시료로부터 생성 된 편광 검사는 신뢰성 및 재현성 (29) 둘 다 잘 작동 부식 시스템의 문헌에 나타내는 본 검사와 상관 깨끗한 연속 플롯을 보여 주었다. 동전 위 공식 전위의 가난한 재현성은 확률 과정 (29)에 의해 특징 가능성이 존재 내공과, 몇 백 밀리 볼트의 확산으로 식별됩니다. 이것은 온도, 할라이드 함량 및 전위 (V)를 변수로 인해 일반적이며; 따라서 실제 설정에서 E CORR 얻어진 작은 변화는 프로토콜을 나타낸다 및 상기 조정은 시험 관내 셋업을 향상시킨.
과정에서 중요한 단계는 반응 용기 내에서 안정적인 환경을 설정하고 잡음을 감소하는 것이었다. 결과 및 홍보 향상된 작성 및 각 실행하기 전에 반응 용기를 청소하기 위해 특정 단계에 따라ovided 재현하고 신뢰할 수있는 수치. 전해질 내에서 오염 물질이 결과 불일치의 원인이 부식 환경 부식 물질의 반응을 변경할 수있...
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| Name | Company | Catalog Number | Comments |
|---|---|---|---|
| Potentiostat | Metrohm | PGSTAT101 | |
| Ag/AgCl 기준 전극, 차폐 | Metrohm | 6.0729.100 | |
| 전극 샤프트 | Metrohm | 6.1241.060 | |
| Polisher Forcipol 1v | Metkon | 3602 | |
| 클린드리컬 플라스크 700ml | SciLabware | FR700F | |
| 반응 뚜껑 | SciLabware | MAF2/41 | |
| 디클로로메탄 | 시그마-알드리치 | MKBR7629V | 흄후드에서 사용하십시오. 보호복을 착용하십시오. |
| Thermo / HAAKE D 시리즈 침수 순환기 | Haake |
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