교차 빔 광학 쌍극자 트랩에서 초저온 페르미 가스를 냉각하는 파라메트릭 구동 방법을 제시합니다. 이 방법은 트랩 전위의 무조화 성분과 공명하는 주파수로 트랩 깊이를 주기적으로 변조하여 트랩에서 고 에너지 원자를 선택적으로 제거합니다.
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교차 빔 광학 쌍극자 트랩에서 초저온 페르미 가스를 냉각하는 파라메트릭 구동 방법을 제시합니다. 이 방법은 트랩 전위의 무조화 성분과 공명하는 주파수로 트랩 깊이를 주기적으로 변조하여 트랩에서 고 에너지 원자를 선택적으로 제거합니다.
우리는 교차 빔 광학 쌍극자 트랩(ODT)에서 원자 운동을 파라메트릭으로 구동하여 차가운 페르미 가스의 냉각 방법을 제시합니다. 우리의 방법은 ODT의 비조화도를 사용하는데, 트랩 가장자리에 있는 더 뜨거운 원자는 트랩 전위의 고조파 성분을 느끼고 트랩 중앙에 있는 더 차가운 원자는 고조파 성분을 느낍니다. 무고조파 성분과 공명하는 주파수로 트랩 깊이를 조절함으로써, 더 차가운 원자를 트랩 안에 유지하면서 더 뜨거운 원자를 트랩 밖으로 선택적으로 여기시켜 파라메트릭 냉각을 생성합니다. 이 실험적 프로토콜은 Zeeman 더 느린 속도에 의해 로드되는 MOT(Magneto-Optical Trap)로 시작합니다. 그런 다음 MOT의 예냉각된 원자는 ODT로 전달되고 바이어스 자기장이 적용되어 상호 작용하는 페르미 가스를 생성합니다. 그런 다음 포집 가능성을 낮추어 퇴화 온도 근처에서 차가운 페르미 가스를 준비합니다. 그 후, 우리는 자기장을 페르미 가스의 비상호 작용 체제로 스윕하며, 여기서 파라메트릭 냉각은 광학 트래핑 빔의 강도를 조절하여 나타날 수 있습니다. 우리는 파라메트릭 냉각 효과가 변조 주파수와 진폭에 크게 의존한다는 것을 발견했습니다. 최적화된 주파수와 진폭을 사용하여 변조 시간에 대한 구름 에너지의 의존성을 측정합니다. 우리는 구름 에너지가 비등방성 방식으로 변경되는 것을 관찰하며, 여기서 축 방향의 에너지는 파라메트릭 구동에 의해 크게 감소합니다. 냉각 효과는 축 방향으로 제한되는데, 그 이유는 교차 빔 ODT의 지배적인 무조화가 축 방향을 따르기 때문입니다. 마지막으로, 우리는 모든 방향에서 큰 무조화의 포획 전위에 대해 이 프로토콜을 확장할 것을 제안하며, 이는 외부 구동을 사용하여 양자 가스를 냉각하기 위한 유망한 계획을 제공합니다.
지난 20 년 동안, 다양한 냉각 기술 보스 - 아인슈타인 응축 (BEC)을 생성하기 위해 개발 된 뜨거운 증기 원자 1, 2, 3, 4, 5에서 페르미 가스 (DFG)를 퇴화. BEC 및 DFG 훨씬 일반적으로 지구 또는 공간에서 발견 이하 극저온 존재 물질의 새로운 상을, 절대 영도 온도보다 높은 정도의 통상 백만이다. 낮은 온도를 얻기 위해, 대부분의 냉각 방법은 증발로 원자를 냉각 할 수있는 트래핑 가능성을 낮추는에 의존하고 있습니다. 그러나 낮추는 방식은 가스 양자 체제 (6)에 도달 할 때 냉각 효율을 제한하는 원자의 충돌 속도를 감소시킨다. 이 글에서, 우리는 증발로하지 않고 ODT에서 초저온 페르미 가스를 냉각하는 "추방"방법을 제시한다트랩 깊이 저하. 이 방법은 파라미터를 낮추는 방식 7, 8, 9에 비해 여러 가지 장점을 보여주는,도 7의 냉각 최근의 연구에 기초한다.
파라 메트릭 기법의 핵심 아이디어는 트래핑 잠재력의 가장자리 근처의 뜨거운 원자는 중심에있는 차가운 원자보다 낮은 트래핑 주파수를 느끼게 크로스 빔 ODT의 anharmonicity을 사용하는 것이다. 이 anharmonicity은 고 에너지 원자 공진 주파수에서 포착 전위를 변조 할 때 뜨거워 원자가 선택적으로 트랩으로부터 배출 될 수있다.
파라 냉각 실험 프로토콜 축퇴 온도 근처에서 미리 냉각 비 간섭 페르미 기체를 필요로한다. 이 프로토콜을 구현하기 위해, 음향 광학 변조기 (AOM)은 controllin 의해 트래핑 빔의 강도를 변조하는데 사용g 변조 주파수, 깊이 및 시간. 냉각 효과를 확인하기 위해, 원자 구름은 공진 레이저 광은 전하 결합 소자 (CCD) 카메라에 포착되는 원자 구름과 흡수 그림자를 조명 비행 시간 (TOF)의 흡수 촬상 의해 프로빙된다. 예컨대 원자 번호, 에너지, 및 온도와 같은 구름 특성은, 열 밀도에 의해 결정된다. 냉각 효과를 특성화하기 위해, 우리는 다양한 변조 시간에 구름 에너지의 의존도를 측정한다.
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주 :이 프로토콜은 다음과 같은 장치를 포함하는 조립식 초저온 원자 장치 필요 개의 외부 공동 다이오드 레이저 (ECDL)에서, ECDL 대한 잠금 설정하는 단계 (10)를 고정 주파수 오프셋 ODT위한 광섬유 레이저, 레이저 강도를 변조하는 AOM , 소스 발생기와 전력 증폭기를 갖는 무선 주파수 (RF) 안테나 시스템, CCD 카메라로 흡수 이미징 시스템 순서 및 데이터 획득 (DAQ), 화상 데이터 처리 및 분석을위한 컴퓨터 프로그램을 타이밍하기위한 컴퓨터 프로그램, MOT 및 바이어스 자계 용 전자석의 쌍 느린 (도 1에 도시 한) 6 리튬 증기 오븐 및 제만 포함하는 초고 진공실.
주의 : 다른 권한과 파장의 세 가지 레이저가 사용된다. 관련 레이저 안전 데이터 시트를 참조하고 적절한 레이저 안전 고글을 선택하십시오.
1. 타이밍 계속ROL
참고 : 모든 타이밍 시퀀스는 타이밍 제어 프로그램을 통해 128 채널 PCI DAQ 카드에 의해 제어됩니다. 타이밍 시퀀스의 해상도는 100 μS이다. 여러 기기 제어 프로그램 등과 파이버 레이저 임의 함수 발생기 (AFG) ODT AFG 임의 펄스 생성기 (APG), 파라 변조 AFG, MOT 멀티플렉서, RF 발생기와 같은기구의 설정을 제어하는 데 사용된다.
CCD 카메라 (2)의 제조
참고 : CCD 카메라는 차가운 원자의 주요 진단 도구입니다 차가운 원자의 흡수 영상을 기록하는 데 사용됩니다.
3. 671 nm의 레이저 제조
주 : 500 mW의 출력 전력을 갖는 671 nm의 단일 주파수 ECDL는 MOT 냉각 및 트래핑 빔을 생성하는데 사용된다. 35 mW의 또 671 nm의 흡수를 ECDL 이미징에 사용된다. 디지털 레이저 현재 변조 방식 (DLCM)레이저 주파수 안정화 10에 적용된다. 종래 6 리튬 에너지 준위는도 3a에 도시된다. 20 ± 1 ℃의 실내 온도 안정성 레이저 주파수 로크 최적의 안정성이 요구된다.
4. 이미징 흡수 제조
주 : 원자 개의 영상 프레임을 필요 흡수 이미징 프로브로되어있다. 원자와 함께 첫 번째 신호 프레임이고, 원자없이 두 번째 참조 프레임이다.
MOT 5. 냉각 원자
주 : MOT는 극저온 원자 실험에 광범위하게 사용되는 냉각 방법이다. 이 섹션은 약 300에서 약 μK 억 6 리튬 원자의 MOT를 생성한다.
6. ODT와 함께 초저온 페르미 가스 준비
7. 파라 냉각
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이 프로토콜을 사용하여, 우리는 우리의 이전에 게시 7 결정된 둘 다 최적화 된 변조 주파수 및 진폭과 변조 시간에 파라 메트릭 냉각의 의존성을 연구한다. 먼저 T / T F ≈ 1.2 온도 개의 미세 낮은 상태에서 리튬 6 개 원자의 비 간섭 페르미 기체를 준비한다. 여기서, T F = (6N) 1/3 H ω / K B = 5.2 μK은 원자 번호 N = 회전 당 1.7 × 10 5 기하 평균 포착 주파수 ω = (ω X ω Y ω z) 1 판정 / 3 ...
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우리는 크로스 빔 광 트랩 비 간섭 페르미 가스 파라 냉각 실험 프로토콜을 제시한다. 이 프로토콜의 중요한 단계를 포함한다 : 첫째로, 광학 포획 페르미 기체가 트랩 깊이를 낮추어 축퇴 온도 근처로 냉각 될 필요가있다. 둘째, 변조 주파수가 포착 전위의 부조화 성분과 공진하다 선택된다. 셋째, 트래핑 빔의 강도는 원자 구름을 냉각하고, 변조시에 구름 에너지 의존성을 측정하기 위해 변조된다.
트랩 화 방식에 비해 파라 냉각 방식 트랩 깊이를 저하시키지 않고, 광 트랩에서 고 에너지 원자를 제거하는 선택적인 방법을 제공한다. 그것은 위상 밀도를 증가 및 비 간섭 페르미 가스를 냉각하는 데 도움이됩니다. 이러한 파라미터는 보통 냉각 이방성이기 때문에, 양자는 가스 온도 이방성을 변경하는 편리한 방법을 제공한다에스.
파라 냉각을 가능하게하기 위해, 현재 프로토콜을 출발점으로 축퇴 온도에 가까운 페르미 기체를 필요로한다. 냉각 효과는...
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저자는 공개할 것이 없습니다. 특정 제품 및 회사 인용은 설명을 위한 것일 뿐이며 저자의 보증이 아닙니다.
실험 설정에 참여해 주신 Ji Liu와 Wen Xu에게 감사드립니다. Le Luo는 인디애나 대학교 시공간 대칭 센터(IUCSS)의 회원입니다. 이 작업은 IUPUI와 IUCRG의 지원을 받았습니다.
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| 이름 | 회사 | 카탈로그 번호 | 댓글 |
|---|---|---|---|
| 500 mW 671 nm ECDL | Toptica | TA Pro | 수량 : 1 |
| 35 mW 671 nm ECDL | Toptica | DL-100 | 수량 : 1 |
| 671 nm AOM | Isomet | 1206C | 수량 : 3 |
| 671 nm AOM 드라이버 | Isomet | 630C-110 | 수량 : 3 |
| 100 W 1,064 nm CW 레이저 | IPG 포토닉스 | YLR-100-1064-LP | 수량 : 1 |
| 1,064 nm AOM | 인트라액션 | ATM-804DA6B | 수량 : 1 |
| 1,064nm AOM 드라이버 | IntraAction | ME-805EH | 수량 : 1 |
| 임의 함수 생성기 | Agilent | 33120A | 수량: 3 |
| 디지털 I/O 보드 | United Electronic Industries | PD2-DIO-128 | 수량: 1 |
| 시스템 디자인 플랫폼 | National Instruments | LabVIEW | 수량: 1 |
| 아날로그 전압 출력 장치 | 측정 | USB-3104 | 수량: 1 |
| CCD 카메라 | Hamamatsu | Orca R2 | 수량: 1 |
| 임의 펄스 발생기 | Quantum Composer | 9618+ | 수량: 1 |
| 아날로그 전압 출력 장치 | 측정 컴퓨팅 | USB-3104 | 수량: 1 |
| 20A 전원 공급 장치 | 수량: 1 | ||
| 10A 전원 공급 장치 | 수량: 1 | ||
| 120A 전원 공급 장치 | 수량: 2 | ||
| 냉각 팬 | 수량 : 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 671 nm 미러 | 수량 : 장치 설계에 따라 | ||
| 다름 671 nm 반파 플레이트 | 수량 : 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 671 nm 1/4 파장 플레이트 | 수량 : 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 500 mW 빔 셔터 | 수량 : 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 671 nm 렌즈 | 수량: 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 패러데이 아이솔레이터 | 수량: 2개, ECDL | ||
| 671 nm 편광 빔 스플리터 | 각각 하나씩. 수량: 장치 설계에 따라 | ||
| 다름 광검출기 | Thorlabs | SM05PD1A | 수량: 1 |
| 멀티플렉서 | Analog Devices | ADG409 | 수량: 1 |
| 멀티플렉서 | Analog Devices | ADG408 | 수량: |
| 1,064nm 평면 오목 렌즈 | 2개 수량: 빔 리듀서 | ||
| 1,064nm 평면 볼록 렌즈 | 수량: 빔 리듀서 | ||
| 1,064nm 미러 | 수량: 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 1,064nm 반파 플레이트 | 수량: 장치 설계에 따라 다름 수량: 장치 설계 | ||
| 에 따라 다름1,064nm 렌즈 | 수량: 장치 설계에 따라 다름 | ||
| 1,064nm 박막 편광판 | 수량: 1 | ||
| 100 W, 1,064 nm 빔 덤프 | 수량: 1 | ||
| 100 W, 1,064 nm 전력계 | 수량: | ||
| 1 RF 함수 발생기 | Rigol | DG4162 | 수량: 1 |
| RF 전력 증폭기 | 미니 회로 | ZHL-100W-GAN+ | 수량: 1 |
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