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방법 논문

투과 형 Nomarski 타입 차동 간섭 콘트라스트 현미경을 사용 하 여 플라스 몬 Ic 나노 입자에 대 한 분광학 수행

6.8K 조회수

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DOI:

10.3791/59411

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2019년 6월 5일

이 논문에서

요약

이 프로토콜의 목표는 혈장 나노 입자 샘플의 제조를 위한 입증 된 접근법을 상세히 설명 하 고 차동 간섭 대비 (DIC) 현미경을 사용 하 여 단일 입자 분광학을 수행 하는 것입니다.

초록

차동 간섭 대비 (DIC) 현미경은 가시 범위 조명을 사용 하 여 마이크로 스케일 오브젝트를 이미징 하는 데 가장 일반적으로 사용 되는 강력한 이미징 도구입니다. 이 프로토콜의 목적은 플라스틱 나노 입자 샘플을 제조 하 고 DIC 현미경으로 단일 입자 분 광 법을 수행 하는 입증 된 방법을 상세히 설명 하는 것입니다. 반복 가능한 분 광 실험을 수행 하기 위해서는 몇 가지 중요 한 단계를 신중 하 게 따라야 합니다. 먼저, 랜드마크는 샘플 기판에 에칭 될 수 있으며,이는 실험 중 관심 영역을 추적 하 고 샘플 표면을 찾는데 도움을 준다. 다음으로, 기판은 샘플의 검사를 방해 하거나 모호 하 게 할 수 있는 이물질 및 오염 물질을 적절히 청소 해야 합니다. 샘플이 제대로 준비 되 면, 현미경의 광학 경로는 Kohler 조명을 사용 하 여 정렬 되어야 합니다. 표준 Nomarski 스타일 DIC 현미경, 샘플의 회전 필요할 수 있습니다., 특히 플라스 몬 ic 나노 입자 방향 의존적 광학 특성을 전시 하는 경우. DIC 현미경은 2 개의 내재 된 직교 분극 필드를가지고 있기 때문에 파장 의존적 DIC 대조 패턴은 막대 모양의 플라스 몬 나노 입자의 방향을 드러냅니다. 마지막으로 데이터 수집 및 데이터 분석을 신중 하 게 수행 해야 합니다. DIC 기반 분광학 데이터를 대조 값으로 표현 하는 것이 일반적 이지만, 강도 데이터로 제시 하는 것도 가능 합니다. 단일 입자 분 광 법에 대 한 DIC의이 데모에서는 구형 및 막대 모양의 금 나노 입자에 초점을 맞추고 있습니다.

서론

1980 년대 이후, 차동 간섭 대비 (DIC) 현미경은 주로 생물학적 과학 내에서 마이크로 스케일 개체를 위해 예약 된 중요 한 이미징 방법으로 간주 되었습니다. 그러나, 1950 년대와 1960 년대에 개발 하는 동안, 그것은 재료 과학1의 기술로 서 의도 되었다. 최근에는 플라스 몬 나노 입자와 관련 된 재료 과학의 발전과 함께 광학 현미경으로 재료의 특성화에 대 한 관심이 증가 했습니다.

많은 광학 기술은 나노 물질 특성화 (예: 어두운 분야, 명시 야, 편광, 형광 등)에 확실히 사용할 수 있습니다. 다크 필드는 나노 입자 연구에서 널리 사용 되지만 분산의 수집에만 의존 하 고 복잡 한 샘플2에 대 한 제한 된 정보를 제공 합니다. 형광은 유용할 수 있으 나 적절 하 게 염색 될 수 있는 샘플에만 사용 됩니다. DIC 현미경 검사 법은 나노 입자 분석을 위한 유용한 도구를 만드는 몇 가지 특성을가지고 있습니다. 다른 방법에 비해 및 플라즈마 나노 입자에 관해서 DIC의 가장 자주 언급 한 장점은: 아니 샘플 얼룩이 필요, 아무 후광 효과, 필드의 얕은 깊이 및 높은 측면 해상도3. DIC는 플라스 몬 나노 ....

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프로토콜

1. 표준 유리 현미경 슬라이드로 샘플 준비

  1. 샘플 증 착을 위한 유리 현미경 슬라이드를 준비 합니다.
    참고: 어떤 경우에는 에탄올 대신 초순 수에 유리를 저장 하는 것이 더 적절할 수 있다. 그러나 물 이나 공기에 저장 하는 것은 시간이 지남에 따라 유리의 소수 성을 만든다.
    1. 최상의 결과를 위해 유리 또는 석 영 현미경 슬라이드와 커버 유리를 구입 하십시오.
    2. 스크라이브 펜을 사용 하 여 각 유리 커버 슬립의 중앙에 얕 고 짧은 스크래치 마크를 놓습니다.
    3. "사전 세척"을 구입 하더라도 모든 현미경 유리를 세척 하 여 유리 파편, 먼지, 분말, 유기 잔류물 및 이미징 품질 또는 시료 침착에 영향을 주는 기타 이물질을 제거 합니다.
      참고:이 청소 방법은 아래에 설명 된 샘플 유형에 적합 하며 독한 화학 물질의 사용을 피합니다. 가혹한 화학 물질은 유리를 에칭 하 고 취급 및 폐기에 더 많은 주의를 기울여야 합니다.
      1. 저장 선반에 현미경 유리를 넣고 비 커 또는 염색 항아리에 넣습니다. 현미경 유리의 각 조각 및 표면은 세제에 완전히 노출 되어야 하기 때문에, 비 커와 다른 실험실 유리의 바닥에 현미경 유리를 두지 마십시오.
      2. 용기에 액체 세제 (재료 표)....

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결과

육안으로 볼 수 있을 만큼 큰 샘플을 사용 하 여 작업 할 때 유리 기판에 랜드마크를 배치 하는 것은 일반적으로 필요 하지 않습니다. 그러나 나노 물질을 사용 하거나 샘플의 회전이 필요한 경우, 랜드마크는 샘플의 방향을 찾고 구별 하 고 추적 하는 쉬운 방법을 제공할 수 있습니다. 유리 기판17에서 랜드마크를 떠나는 데 더 정교한 기술을 활용할 수 있지만, 스크라이브 펜으로 유리를 긁는 것은 많은 상황에서 작동 하는 경제적이 고 간단한 방법입니다. 스크래치 표시는 데이터에 영향을 줄 수 있는 복잡 한 배경을 만들기 때문에 이러한 랜드마크 바로 옆에 있는 샘플 영역을 검사 하는 것을 피하는 것이 중요 합니다 (그림 3). 그러나 스크래치 마크의 끝에서 "거미 웹"은 종종 스크래치에서 바깥쪽으로 확장 됩니다. 이 라인은 랜드마크로 매우 귀중 한, 하지만 다시, 그들은 이러한 결함.......

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토론

DIC 현미경으로 이미징 하는 경우 데이터를 수집 하기 전에 광학 부품을 최적화 하는 것이 중요 합니다. 실험 중간에 편광자를 약간만 조정 해도 최종 데이터6에 큰 영향을 미칠 수 있습니다. 또한, 다른 재료는 다른 편광자 설정이 필요 합니다. 편광 각도의 효과를 보여주기 위해 여기에 큰 스텝 사이즈를 활용 하였으나, 실제 실험에서는 최적의 콘트라스트 설정의 1 °-2 ° 내에서 편광자 설정을 최적화 하는 것이 필수적입니다. 편광판 설정은 추후 참조용으로도 기록해 야 합니다. 또한 항상 교차 편광자 (0 °) 점의 동일한 쪽에서 작업 하는 것이 좋습니다. 앞뒤로 전환 하는 것은 어떤 장점을 제공 하지 않습니다, 하지만 그것은 그림자 패턴의 반전으로 인해 혼란을 초래할 수 있습니다.

다음으로, 분광학을 수행할 때 배경 강도를 모니터링 하는 것이 중요 합니다. 이는 카메라 노출 시간을 조정 하거나 라이트 경로에 중립 밀도 필터를 추가 하 여.......

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공개 사항

저자는 공개 할 것이 없습니다.

감사의 글

앤서니 s. 스텐 더 박사는 오하이오 대학에서 나노 규모 및 양자 현상 연구소 (NQPI)를 통해 기술 지원을 인정 하고자 합니다. 이 문서는 오하이오 대학에 의해 박사 Stender에 제공 하는 시작 자금을 통해 가능 했다.

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재료

이 논문에 사용된 재료 목록
이름회사카탈로그 번호댓글
콘트라드 70Decon Labs, Inc.1002현미경 유리 청소용, 많은 화학 공급업체를 통해 사용 가능
에탄올피셔 사이언티픽A962-4현미경 유리
유리 현미경 커버 슬립 세척 및 보관용 유리 현미경 커버 슬립Ted Pella260148
유리 현미경 슬라이드Ted Pella26007
골드 나노로드NanopartzDIAM-SPR-25-650
금 나노 구체 (80 nm)시그마 Aldrich742023-25ML
ImageJNIHN / A무료 소프트웨어 사용 NIJ
매니큐어전자 현미경 과학72180
니콘 Ti-E 현미경니콘N / A
질소 가스에어 가스N / A
오르카 플래시 4.0 V2 + 디지털 sCMOS 카메라하마마츠77054098
스크라이빙 펜아마존N/A온라인에서 $10 미만으로 사용할 수 있는 다양한 옵션. 고가의 버전을 구입할 필요가 없습니다.
초순수18메가옴

참고문헌

  1. Pluta, M. Ch 7: Differential Interference Contrast in. Advanced Light Microscopy. 2, Elsevier. 146-197 (1989).
  2. Stender, A. S., Wang, G., Sun, W., Fang, N. Influence of Gold Nanorod Geometry on Optical Response. ACS Nano. 4 (12), 7667-7675 (2010).
  3. Stender, A. S., et al.

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