미량 수준의 공기 중 오염 물질로 인한 음극 중독은 고온 전기 화학 시스템의 장기적인 안정성에 대한 주요 관심사로 남아 있습니다. 당사는 전기화학적 활성 스택 영역에 진입하기 전에 고온에서 공기 중 오염 물질을 포착하는 게터를 사용하여 음극 분해를 완화하는 새로운 방법을 제공합니다.
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| Name | Company | Catalog Number | Comments |
|---|---|---|---|
| Sr(NO3)2 | Sigma-Aldrich | 243426 | Getter 전구체 재료 |
| Ni(NO3)2-6H2O | Alfa Aesar | A15540 | Getter 전구체 재료 |
| NH4 OH | Alfa Aesar | L13168 | Getter 전구체 재료 |
| Pt ink | ESL ElectroScience | 5051 | 집전체 페이스트 |
| Pt wire | Alfa Aesar | 10288 | 집전체 와이어 |
| Pt gause | Alfa Aesar | 40935 | 집전체 |
| Cr2O3 분말 | Alfa Aesar | 12286 | 크롬 source |
| Nitric acid (HNO3) | Sigma-Aldrich | 438073 | Chromium extraction |
| Potassium permanganate(KMnO4) | Alfa Aesar | A12170 | 크롬 추출 |
| LSM paste | Fuelcellmaterials | 18007 | Cathode |
| YSZ 전해질 | Fuelcell재료 | 211102 | Electrolyte |
| Alumina fiber board | Zircar | GJ0014 | Getter substrate |
| Ceramabond paste | AREMCO | 552-VFG | 셀 씰링용 |
| ICP-MS (7700s) | Agilent | NA | Cr 분석용 |
| Potentiostat (VMP3) | Biologic | NA | EIS/I-t 측정 |
| 용FIB (Helios Nanolab 460F1) | FEI | NA | 나노 시료 준비용 |
| TEM (Talos F200X S/TEM) | FEI | NA | 조성 분석용 |
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