이 논문은 고압 조건에 적합한 두 개의 미세 유체 제조 기술, 즉 광석 촬영/습식 에칭/열 결합 및 선택적 레이저 유도 에칭(SLE)에 대한 비교 연구와 함께 프로토콜을 설명합니다. 이러한 기술은 저수지 조건 하에서 대리 투과성 매체 및 골절된 시스템에서 유체 흐름을 직접 관찰할 수 있는 플랫폼을 구성합니다.
Method Article
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| Name | Company | Catalog Number | Comments |
|---|---|---|---|
| 1/4" 볼트 및 너트 | 판 제작용, 열 접착을 위해 유리 칩을 끼우기 위해 | ||
| 3.45 x 3.45mm UV LED | Kingbright | , LED 광 방출용 | |
| 3D 측정 레이저 현미경 | OLYMPUS | LEXT OLS4000 | 채널 깊이 측정용 |
| 40mm x 40mm x 10mm 12V DC 냉각 팬 | Uxcell | UV LED 조명 냉각용 | |
| 120mm x 38mm 24V DC 냉각 팬 | Uxcell | UV LED 조명 냉각용 | |
| 5ml(6ml) NORM-JECT 주사기 | HENKE SASS WOLF | Lot #16M14CB | 각 실험 전에 칩을 헹구기 위해 |
| 아세톤(ACS 인증) | Fisher Chemical | Lot #177121 | 청소용 |
| 산/부식 저항 핀셋 | TED PELLA | 부식성 용액의 유리 조각을 처리 | |
| 산/내용제성 핀셋 | TED PELLA, INC | #53009 및 #53010 | 부식성 용액에서 유리를 처리하려면 |
| Alloy X | AMERICAN SPECIAL METALS | 열번호: ZZ7571XG11 | 열 결합 |
| 수산화암모늄(ACS 시약) | Sigma Aldrich | Lot #SHBG9007V | 공정 종료 시 칩을 청소하려면 |
| AutoCAD | Autodesk, San Rafael, CA | 2D 패턴 및 3D 칩을 설계하기 위해 | |
| TRANSENE | Lot #028934 | 인산 실리카 유리 &ndash의 묘사를 위한 개선된 완충 식각 공식; SiO2(PSG) 및 붕규 유리 – SiO2(BSG) 시스템 | |
| 블랭크 Borofloat 기판 | TELIC | CG-HF | UV 에칭용 상부 기판 |
| 금속화가 있는 Borofloat 기판 | TELIC | PG-HF-LRC-Az1500 | UV 에칭용 하부 기판 |
| Capture One 사진 편집 소프트웨어 | Phase One | DT로 촬영한 사진을 캡처/편집/변환합니다 | |
| Scientific | DT Versa | 카메라의 시야에 칩을 배치하려면 | |
| 이산화탄소 가스 (E 등급) | PRAXAIR | UN 1013, CAS 번호 124-38-9 | 발포체의 비 aqeous 부분 |
| 크롬 에칭 1020 | TRANSENE | Lot # 025433 | 크롬 및 크롬 산화물 필름의 정확하고 깨끗한 에칭을위한 고순도 세릭 질산 암모늄 시스템. |
| 디지털 온도 조절기를 사용한 순환 수조 | PolyScience | 염수 및 CO2 온도를 제어하기 위해 | |
| 컴퓨터 | NVIDIA Tesla K20 그래픽 카드 - 706 MHz 코어 - 5 GB GDDR5 SDRAM - PCI Express 2.0 x16 | Phase One 카메라를 통해 얻은 이미지를 처리하고 시각화하기 위해 | |
| 맞춤형 고압 유리 칩 홀더 | 고압 테스트를 위해 칩과 연결부를 단단히 고정하기 위해 | ||
| Cutrain (맞춤형) | UV/IR 방사선으로부터 보호하기 위해 | ||
| 탈이온수(DI) | 청소용 | ||
| 단색 60MP 센서가 있는 디지털 카메라 | Phase One | IQ260 | 시각화 시스템 |
| 에탄올, 무수, USP 사양 | DECON LABORATORIES, INC. | Lot #A12291505J, CAS# 64-17-5 | |
| 안면 세척용 재사용 가능한 호흡기 | 3M | 6502QL, 가스, 증기, 먼지, 매체 | 휘발성 용액 흡입으로부터 보호하기 |
| 위해 용융 실리카(UV 등급) 웨이퍼 | SIEGERT WAFER | UV 등급 | SLE 인쇄용 유리 전구체 |
| 김프 | 오픈 소스 이미지 처리 소프트웨어 | 이미지 질감 및 특성을 | |
| 특성화하기 위해글로브 박스 (비닐 혐기성 챔버) | Coy | 깨끗하고 먼지가없는 환경을 제공하기 위해 | |
| 가열 된 초음파 세척 욕조 | Fisher Scientific | 에칭 공정을 가속화하기 위해 | |
| Hexamethyldisilazane (HMDS) Cleanroom® MB | KMG | 62115 | 포토레지스트 코팅용 프라이머 |
| 호스(PEEK 튜브) | IDEX HEALTH & SCIENCE | Natural 1/16" OD x .010" ID x 5ft, Part # 1531 | 흐름 연결 |
| 염산, 인증 ACS plus | Fisher Chemical | Lot # 187244 | RCA 반도체 세척 프로토콜의 용매 |
| 과산화수소 | Fisher Chemical | H325-500 | RCA 반도체 세척 프로토콜의 용매 |
| ImageJ | NIH | 이미지 질감 및 특성을 특성화하기 위해 | |
| ISCO 주사기 펌프 | TELEDYNE ISCO | D-SERIES (100DM, 500D) | 유체를 펌핑하기 위해 |
| Kaiser LED 라이트 박스 | Kaiser | 칩 | |
| 레이저 인쇄 기계 | LightFab GmbH, Germany를 | FILL | Glass-SLE 칩 제조 |
| 레이저 보안경 | FreeMascot | B07PPZHNX4 | UV/IR 방사선으로부터 보호하기 위해 |
| LED Engin 5W UV 렌즈 | LEDiL | LED 광을 방출하기 위해 | |
| Light Fab 3D 프린터(펨토초 레이저) | Light Fab | 실리카의 선택적 레이저 에칭 | |
| LightFab 3D 프린터 | LightFab GmbH, 독일 | 용융 실리카 칩을 SLE 인쇄하려면 | |
| MATLAB | MathWorks, Inc., Natick, MA | 이미지 처리 | |
| 금속판 | |||
| 마이크로 연마 샌드 블래스터 (Problast 2) | VANIMAN | Problast 2 – 80007 | 커버 플레이트에 구멍을 뚫으려면 |
| MICROPOSIT 351 현상액 | Dow | 10016652 | Photoresist 현상 |
| 솔루션 Muffle 가열로 | Thermo Scientific | Thermolyne Type 1500 | 열 결합 |
| N2 순수 연구 등급 | Airgas | Research Plus - NI RP300 | 각 단계에서 칩을 건조하기 위해 |
| NMP 반도체 등급 - 0.1μ m Filtered | Ultra Pure Solutions, Inc | Lot #02191502T | Organic solvent |
| Oven | Gravity Convection Oven | 18EG | |
| Phase One IQ260 with an achromatic sensor Phase | One | IQ260 | ISO 200 설정 및 f/8의 조리개를 사용하여 미세유체 장치에서 전송을 시각화합니다. |
| Photomask | Fine Line Imaging | 20,320 DPI FILM | 채널 패턴 |
| 포토레지스트 (SU-8) | MICRO CHEM | 제품 항목: Y0201004000L1PE, 로트 번호: 18110975 | 포토레지 |
| 편광 현미경 | OLYMPUS | BX51 | 마이크로 채널의 육안 검사 |
| 포트(NanoPort 어셈블리) | IDEX HEALTH & SCIENCE | NanoPort Assembly Headless, 10-32 Coned, for 1/16" OD, Part # N-333 | Connection to the chip |
| Python | Python Software Foundation | 이미지 처리 | |
| 안전 얼굴 보호대 | Sellstrom | S32251 | UV/IR 방사선으로부터 보호하기 위해 |
| 밀봉 필름 (Parafilm) | Bemis Company, Inc | 컨테이너 격리 | |
| 셔터 제어 소프트웨어 | Schneider-Kreuznach | 셔터 설정을 조정하려면 | |
| 부드러운 세라믹 플레이트 | 열 접착 | ||
| 교반 핫 플레이트 | Corning®reg; | PC-620D | 용액을 가열하려면 |
| 황산, ACS 시약 95.0-98.0% | Sigma Aldrich | Lot # | SHBK0108 RCA 반도체 세척 프로토콜의 용제 |
| 주사기 펌프(표준 주입/철회 PHD ULTRA) | Harvard Apparatus | 70-3006 | 각 실험 전에 칩을 포화시키려면 |
| 토크 렌치 | 스냅온 | TE25A-34190 | 나사를 조이려면 |
| UV 전원 meter | Optical Associates, Incorporated | Model 308 | 자외선의 농도를 측정하기 위해 |
| UV 파워 미터 | Optical Associates, Incorporated | Model 308 | 자외선의 강도를 정량화하기 위해 |
| UV 방사선 스탠드 (LED 조명) | 패턴을 유리로 옮기기 위해 (포토레지스트 층) | ||
| 진공 펌프 | WELCH VACCUM TECHNOLOGY, INC | 1380 | 칩을 말리려면 |
| 가변 DC 전원 공급 장치 | Eventek | KPS305D | UV LED 조명에 전원을 공급합니다. |
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