Name: 사라져가는 필드를 기반 Photoacoustics : 광학 특성 평가 표면에 (동영상) | JoVE Journal
Uploaded: 2016-07-26T13:00:00.000+00:00
Duration: 10 min 21 s
Description: 배우세요 사라져가는 필드 기반 광음향 기법을 활용하여 액체, 고체, 투명 박막의 광학 특성을 하나의 장비로 측정하는 방법을 알아보세요. 이 기법은 재료 과학 연구에 필수적인 도구입니다.

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이 프로젝트는 국립 과학 재단 (National Science Foundation) Brige의 상 (1221019)에 의해 투자되었다.

1. 시스템 설정 <ol><li> 하나의 10 MHz의 초음파 진동자의 전면에 9 mm 직경 1 mm 두께의 적색 라텍스 고무 실린더 부착 및 6 mm 두께로 9 mm 직경 1 mm 두께의 적색 라텍스 고무 실린더 부착 시아 노 아크릴 레이트, 에폭시를 사용하는 시아 노 아크릴 레이트, 에폭시를 사용 다음 기준 초음파 변환기에 동일하게 에폭시 수지로 접착되는 아크릴계 블록은 탄성 스페이서로서 작용한다. </li><li> 먼저 레이저로 명중되는 빔 확장기가 광 기차를 설정합니다. 그런 다음 수동으로 조절 조리개 초를 놓습니다. 마지막으로 세번째 소자로서의 편광 빔 스플리터 큐브를 사용하고, 비 편광 빔 스플리터의 각각의 출력에서​​ EFPA 프리즘 홀더 초음파 진동자하지 EFPA 프리즘 홀더와 트랜스 듀서를 배치했다. 주 : 편광 빔 스플리터 큐브는이 모든 EFPA 기술의 적절한 기능에 매우 중요로 여진하는 순수한 단일 편광을 보장하기 위해 사용된다. </li><li> 경비를 확장YAG 레이저 : Q- 스위치 ND로부터 적어도 3 배의 빔 확장기를 만들 렌즈를 사용하여 레이저 빔을 보내고. 주 : 빔 입사 다양한 각도로 프리즘을 통해 굴절로 인해 걸어 레이저 광 센서에도 불구하고 적절한 기능을 보장하기 위해 샘플 변환기의 라텍스 고무 흡수체에 비해 의도적으로 대형이다. </li><li> 프리즘 가까운 산의 ​​평평한면은 디지털 레벨을 사용하여 0 °의 각도로 설정 이도록 광학 기차 EFPA 프리즘 홀더를 정렬. 이 실험에서 수집되는 각 스펙트럼 데이터의 정확한 시작 위치를 보장한다. </li><li> 연결 및 컴퓨터에 오실로스코프, 스테퍼 모터 드라이버, 초음파 트랜스 듀서 및 XY 스테이지 모터와 같은 외부 장치의 전원을 켭니다. 물리적으로 트랜스 듀서를 연결하지 EFPA 프리즘에서 채널 0에 장착 물리적으로 EFPA 프리즘의 트랜스 듀서는 50 옴 BNC 케이블을 통해 채널 1에 마운트 연결합니다. 소프트웨어가 인식하도록 사전 프로그래밍되어이러한 특정 채널의 coustic 신호. </li></ol> 2. EFPA 시스템 초기화 및 광학 정렬 <ol><li> 수동 1mm 직경의 빔을 차단하는 조정 조리개를 조정한다. </li><li> 프로그래밍 소프트웨어 (예를 들어, LabVIEW를) 시작, 프리즘 / 샘플 인터페이스에서 70 ° 여기에 필요한 각도로 마운트를 이동하는 녹색 &quot;이동&quot;버튼을 눌러 70 °의 각도를 설정합니다. </li><li> 적절한 레이저 안전 유리를 사용하는 것은 (532 nm에서 OD 7+) 측으로부터 수직 레이저 빔을 프리즘을 들여다 수동 X의 스테이지를 이동 및 Y는 1mm 레이저 스폿이 형광 표시까지 핸드 휠을 사용하여 축 고무 라텍스. 빔이 라텍스를 중심으로되어 있는지 확인합니다. </li><li> 최대 개방에 수동으로 조절 조리개를 확장하고 (빨간색 리터 EFPA 프리즘 마운트에서 레이저 에너지 측정 광 음향 신호를 모두 보장하는 프로그램의 실행 전면 패널을보고오프라인) 및 레이저 에너지 측정면 (백색 라인으로부터 음향 신호)를 표시하고 거의 동일한 크기이다. </li><li> &quot;정지&quot;버튼을 누름으로써 프로그램을 중지. 참고 : 버튼을 누르지 않으면 프리즘 수동으로 할 테스트를 계속하기 전에 다시 설정해야합니다. 초기화 프로토콜이 완료되면 TIRPAS, PAS / TIRPAS의 굴절계 또는 OTPAS 수행 될 수있다. </li></ol> 3. TIRPAS 기술 <ol><li> 도 3에 도시 된 바와 같이이 프리즘의 중심에 사용 프리즘 형 정합 침지 오일 지수 2.5 μL를 배치했다. 플라스틱 프리즘 장착 어댑터에 프리즘을 배치하고, 상부에 기판을 배치하여 오일을 끼우는 오일 층. </li><li> 도 3에 도시 된 바와 같이 EFPA 센서 마운트의 변환기에 연결 라텍스 고무의 시료 25 μL를 배치하므로 거품 형성없이 코트 전면있다. 샘플 수염료의 용액, 생물학적 유체 또는 용액에 현탁 검체 어떠한 광학적 흡수 물질이어야. 샘플의 어떤 준비가 필요하지 않습니다. 프리즘을 탑재하고 각 나사에 대한 16.75 g / mm의 설정 토크로 나사를 장착와 함께 마운트를 조 압축합니다. </li><li> &quot;설정&quot;탭을 선택하고 드롭 다운 메뉴에서 &quot;설정&quot;을 선택합니다. </li><li> 프로그램 자격 OTPAS 박막 analyzer_USB-5133.vi (보충 파일)를 실행합니다. </li><li> 도 4에 도시 된 바와 같이, 샘플에 의해 생성 된 음향 신호를보기. 주 : 입사각은 시료의 얇은 두꺼운 광 부분을 관찰 할 산장의 광학 관통 깊이를 제어하기 위해 변경 될 수있다. </li></ol> 4. PAS / TIRPAS 굴절계 <ol><li> 도 3에 도시 된 바와 같이 플라스틱 프리즘 장착 어댑터에 프리즘을 배치했다. 다음에, 제에 사용 프리즘 형 정합 침지 오일 지수 2.5 μL를 배치전자 프리즘의 중심과 오일 층의 위에 기판을 배치함으로써 오일을 샌드위치. </li><li> . 그림 3과 같이 EFPA 변환기의 변환기에 탑재 연결된 고무 조각에 샘플의 25 μl를 놓고 프리즘을 탑재하고 각 나사에 대한 16.75 g / mm의 설정 토크로 나사를 장착와 함께 마운트를 조 압축합니다. </li><li> 은 &quot;각도 스펙트럼&quot;탭을 선택하고 드롭 다운 메뉴의 &quot;각도 스펙트럼&quot;을 선택합니다. 다음으로, 입력을 표 1에 나타낸 바와 같이 프로그램에 해당하는 파라미터. </li><li> 프로그램을 실행하고 각 스펙트럼을 완료하고 프로그램이 종료 될 때까지 기다립니다. </li><li> 오른쪽 각도 스펙트럼 그래프를 클릭하고 데이터를 저장하고 .csv 파일을 엽니 다 &quot;Excel로 내보내기 → 데이터 내보내기&quot;를 선택합니다. <ol><li> 그래프 프로그램이 데이터 (예를 들어, KaleidaGraph)를 열고는 &quot;매크로&quot;를 클릭하고 선택 &amp; #에 숫자 유도체를 수행(34) 파생 상품 &quot;. 입력 적절한 열에서 파생 상품을 촬영하고 Enter 키를 누릅니다&quot; &quot;좋아하고, 수치 미분 계산됩니다. </li><li> 각도 대 수치 유도체를 그래프와 &quot;곡선에 맞게&quot;를 선택합니다. 은 &quot;부드러운&quot;옵션 5,18,98을 선택하고 데이터에서 노이즈를 부드럽게 맞게 &quot;곡선에 맞게 선택&quot;에서 데이터의 확인란을 선택합니다. &#39;보기&#39;에서 아래쪽 화살표를 선택하고 다른 컬럼에 곡선에 맞게 데이터를 추출하는 &#39;데이터 창에 복사 곡선 맞춤 &quot;을 선택합니다. </li></ol></li><li> 수동 TIRPAS 체제에 PAS에서 전환을 나타내는 지역의 최소 및 입사 해당 각도를 찾기 위해 곡선 맞춤을 통해 검색 할 수 있습니다. 도 5에 도시 된 바와 같이 최소의 측정 된 임계 각도에 대응한다. 방정식 N = N 샘플 프리즘 죄 θ C를 사용하여, 파형의 미지 시료의 벌크 굴절율을 계산길이는 레이저 심문에 사용됩니다. 전형적인 결과를 표 1에 나타내었다. </li></ol> 5. OTPAS <ol><li> 프리즘의 중심에 (사용 된 유리의 유형에 일치하는 인덱스) 침수 오일의 2.5 μl를 놓습니다. </li><li> (멀리 프리즘)에서 테스트 할 필름면이 위를 필름이나 기판을 넣고 기포가 배치하는 동안 형성되지되어 있는지 확인합니다. 주 : 기포가 형성되면, 샘플 필름 기판을 분리하고 응용 프로그램을 다시 시도. </li><li> 라텍스 고무에 침지 오일의 25 μl를 배치 거품 형성없이 침지 오일 코팅은 전체 표면되도록. </li><li> (그림 3). 기판 / 필름 층을 압축 각 나사에 대해 동일해야합니다 16.75 g / mm의 설정 토크에 장착 나사를 조입니다. 참고 : 프로토콜의 토크 렌치, oz.-in.에 따라서 16.75 g / mm ~ 15 oz.-in.입니다 </li><li> 은 &quot;각도 스펙트럼&quot;탭을 선택하고 남성 드롭 다운에 &quot;각도 스펙트럼&quot;을 선택유. 다음으로, 입력을 표 3에 나타낸 바와 같이 프로그램에 해당하는 파라미터. </li><li> 프로그램을 실행하고 각 스펙트럼을 완료하고 프로그램이 종료 될 때까지 기다립니다. </li><li> 도 6에 도시 된 바와 같이, (이전에 수행되지 않은 쪽) 기판 또는 필름을 사용 5.1-5.6 단계를 수행하여 검사를 다시 실행. </li><li> 드롭 다운 상자에서 &quot;커브 피팅&quot;를 선택하고 &quot;커브 피팅&quot;탭을 선택합니다. 다음 표 5와 같이 입력 적절한 매개 변수는. &quot;샘플&quot;의 필름 스캔을 선택합니다. &quot;기판&quot;아래의 기판 검사를 선택합니다. </li><li> 표 4에 나타낸 바와 같이 스캔 입력 굴절률 편광 및 다른 옵션은 이전 단계에서 실행 5.1-5.6. </li><li> 드롭 다운 상자에서 &quot;피팅 곡선&quot;을 선택하고 &quot;커브 피팅&quot;탭을 선택하여 프로그램을 실행합니다. 굴절률과 두께에서 관찰4]. 필름 RI &quot;및&quot;프로그램의 그래픽 사용자 인터페이스의 오른쪽 상단에 도시 된 영화 &quot;두께 일반적인 데이터는도 7에 도시되어있다. </li><li> 단계 5.10을 반복하여 데이터를 배치에 맞게 스캔의 수를 입력하고 출력하는 .csv 파일을 선택하여 한 번에 여러 검색을 맞게 &quot;일괄 맞는&quot;옵션을 사용합니다. 참고 : 프로그램이 실행되면는 .CSV로 데이터 출력 모든 굴절률, 두께, 및 잔존 가치의 각 세트를 맞습니다. 이 작업을하기 위해서는에서, 스캔 등 scan_001.csv, 스캔 002.csv, 같은 숫자 목록에 있어야합니다 </li></ol>

저자는 더 경쟁 재정적 이해 관계가 없음을 선언합니다.

나노 규모에서 재료의 특성화를 위한 장치의 사용은 어렵고 비용이 많이 드는 사회 문제를 해결하기 위해 새로운 재료와 재료 조합을 생산하기 위해 의심할 여지 없이 먼 미래에도 계속될 것입니다. 타원법, 원자력 현미경(AFM) 및 전통적인 광음향학과 같은 많은 방법이 현재 대안이 거의 없어 고유한 한계에도 불구하고 나노 규모에서 재료 특성을 평가하는 데 사용됩니다. EFPA는 광음향 효과의 일반적인 한계를 뛰어넘어 나노 규모에서 재료를 특성화할 수 있는 단일 장비를 제공할 수 있는 통합 기술 세트로서 가능성을 보여줍니다.
본원에 기술된 프로토콜 및 이의 관련 하위 기술은 물질, 필름 두께의 벌크 및 박막 굴절률을 모두 추정할 수 있는 기능을 가지며, 다양한 바이오센싱 응용에 대한 검출 기능을 갖는다. OTPAS는 특히 필름 자체에 본질적으로 흡수되는 색소 침착이 포함되어 있지 않음에도 불구하고 나노미터 스케일 필름의 두께와 굴절률을 추정할 수 있다는 장점이 있습니다. 통합 기술 세트인 EFPA는 타원계, 원자력 현미경 및 전통적인 광음향 효과와 같은 기술에 비해 몇 가지 장점이 있습니다. 첫 번째 장점은 EFPA의 설정 비용이 비교적 저렴하다는 것입니다. 일반적인 EFPA 설정은 벌크와 표면 모두에서 굴절률을 추정할 수 있고, 두께를 추정할 수 있으며, 흡수 물질을 조사할 수 있으며 설정하는 데 약 $5,000의 비용이 듭니다. 대조적으로, AFM 설정은 약 $50,000의 비용이 들며 광학 특성을 추정할 수 없습니다. 둘째, EFPA는 입력 매개변수 오류로 인해 결과에 차이가 발생할 수 있는 타원법과 같은 복잡한 상호 작용 없이 몇 분 내에 이러한 특성을 추정할 수 있습니다. 마지막으로, EFPA는 전통적인 광음향 효과와 비교할 때 200nm 필름의 두께를 추정할 수 있기 때문에 축 방향 해상도가 100배 더작은 반면 전통적인 광음향 효과는 유사한 레이저 및 설정82를 사용할 때 7,500나노미터로 제한됩니다. 편리하게도 거의 모든 재료는 독립적이고 서로 다른 표면 및 벌크 굴절률 특성과 흡수 특성을 가지고 있으며, 이는 광학 연구 시스템에서 사용할 때 기능적 차이를 만듭니다.
프로토콜 내의 중요한 단계는 세 가지 주요 고려 사항으로 귀결됩니다. 첫째, 액체든 필름이든 샘플의 광학 결합은 신뢰할 수 있고 반복 가능한 결과를 얻는 데 중요합니다. 침지 오일 또는 샘플 내의 기포는 두께, 굴절률의 부정확한 특성화로 이어지며, 경우에 따라 초음파가 크게 다른 음향 임피던스 값으로 인해 액체/공기 인터페이스를 적절하게 통과할 수 없기 때문에 여기된 샘플에 대한 변환기의 감도가 완전히 부족합니다. 둘째, OTPAS와 관련하여 아직 EFPA는 여기 영역 내에서 두께 차이를 결정할 수 없기 때문에 스캔 중에 일관된 두께 값을 제공하기 위해 레이저 빔에 의해 조사된 영역에서 균일하게 두꺼운 샘플입니다. 마지막으로, OTPAS와 관련하여 샘플 필름은 사용 중인 파장에 투명해야 합니다. 이것은 OTPAS가 두께와 굴절률 값을 찾는 방법을 설명하는 수학 방정식에서 이루어진 기본 가정입니다. 입사광의 1% 이상이 필름에 흡수될 정도로 흡수가 상당하면 특성화가 필름의 실제 두께 및 굴절률 값과 일치하지 않습니다.
EFPA 기술을 비교적 쉽게 수정할 수 있으며 보다 효과적인 스캔 또는 기능을 위해 다른 유형의 구성 요소를 대체할 수 있습니다. EFPA 시스템을 구축할 때 해결해야 할 유일한 주요 문제는 다음과 같습니다. 첫째, 프리즘 마운트를 자동으로 회전시키고 작은(0.05도) 증분으로 음향 신호를 수집하는 방법을 갖는 것이 중요합니다. 둘째, 광음향 효과를 사용하여 샘플을 여기시키기 위해 나노초 펄스 폭 또는 더 짧은 레이저 시스템을 갖습니다. 셋째, 두께 및 벌크/박막 굴절률을 추정하기 위한 수학적 곡선 피팅 및 수치 도함수를 수행하기 위한 데이터를 수집하는 그래픽 사용자 인터페이스 또는 프로그램이 있습니다.
EFPA에는 세 가지 근본적인 제한 사항이 있습니다. 첫 번째는 벌크 굴절률, 박막 굴절률, 두께를 찾거나 TIRPAS를 사용하여 재료를 감지하기 위해서는 샘플의 굴절률이 접촉하는 프리즘 또는 기판의 굴절률보다 낮아야 이 세 가지 기술 모두의 기초가 되는 전체 내부 반사가 발생할 수 있습니다. 두 번째 제한 사항은 EFPA가 현재 두께, 굴절률을 추정하고 특성을 감지하기 위해 물리적 접촉이 필요하다는 것입니다. 마지막 한계는 EFPA의 하위 기술인 OTPAS가 현재 관심 박막의 두께와 굴절률을 추정하기 위해 광학적으로 투명한 재료가 필요하다는 것입니다.
이러한 유형의 통합 기기는 연구 코어 및 산업 환경을 포함한 특성화 환경에서 많은 응용 분야를 찾을 수 있습니다. EFPA 기술에 관한 향후 작업은 계측 및 병진/회전 단계의 개선을 통해 굴절률 정확도를 향상시키는 데 중점을 두고 있습니다. 추가 발전은 생물학적 시스템에서 가장 일반적으로 발견되는 약한 흡수 물질을 특성화하기 위해 더 적은 양의 흡수 물질을 감지하기 위한 신호 대 잡음비 개선에 초점을 맞출 것입니다.

렌즈에 반사 방지 코팅을 포함한 광학 장치의 호스트 박막 재료의 생성에 새로운 통찰력을 제공 한 1,3,4,6,7,10,13-16 광학 재료의 이해를 발전 높은 소광비 광 필터 및 높은 흡수 슬래브 도파로 (17). 이러한 진보의 반복 개선에 도움 같은 타원 4,6,18, 접촉각 측정, 원자력 현미경 7,11,19 및 스캔 / 투과형 전자 현미경 등 다양한 특성화 기술의 사용없이 불가능했을 직접 조치 또는 기본 광학 재료 특성의 간접적 인 추정치를 제공함으로써 이러한 기술. 재료는 직접 기능과 광학 애플리케이션에서의 사용에 영향을 미치는 입사 광자와 상호 작용하는 방법 등의 굴절률과 같은 특성, 적용했다. 그러나, 이들 기술들 각각은 한계가있다 resolu 관련능은, 샘플 준비, 비용, 복잡성, 각각 완전히 물질을 특성화하는 데 필요한 데이터의 서브 세트를 생성한다. 즉,이 산장 기반 photoacoustics (EFPA) 5,6,15,18,20-49 알려진 기술의 새로운 세트도 1에 도시 된 바와 같이, 상기되는 통합에 나노 크기 물질의 특성을 추정 할 가능성을 가지고 실험의 집합입니다. EFPA 전반사 광 음향 분광학 (TIRPAS) 23,25,26,33-35,43-45 광 음향 분광학 / 전반사 광 음향 분광 굴절계 (PAS / TIRPAS 굴절계) (18), 광 터널, 광 음향의 하위 기술을 포함 분광기 (OTPAS) 6, 벌크 및 박막의 굴절율, 막 두께를 추정하기 위해뿐만 아니라 프리즘 / 샘플 또는 기판 / 샘플 계면에서 흡수 물질을 검출하기 위해 사용되어왔다. EFPA 메커니즘을 이해하기 위해, 하나의제 광의 초단 (&lt;마이크로 초)의 펄스의 흡수 (도 1) 다음 발색단의 급속한 열 탄성 팽창에 의해 초음파 압력 파동의 발생을 의미 광 음향 분광학 (PAS)의 개념을 이해한다. 이 논문에 기술 된 광 음향 효과에 대한 이론 및 수학적 프레임 워크는 여기에 50-59를 얻을 수있다. 압력의 변화는 생성 된 초음파 트랜스 듀서 또는 마이크로폰에 의해 검출 될 수있다. 원래 알렉산더 그레이엄 벨의 photophone의 발명으로 1880 년에 발견 된 광 음향 효과는, 때문에 레이저와 마이크 기술의 발전으로 1970 년대 초에 &quot;재발견&quot;, 결국 박막에 생물 의학 이미징에서 틈새 응용 프로그램을 채우기 위해 실용화되었다 재료의 비파괴 검사에 대한 분석.이 효과는 수학적 일차원 파동 방정식에있어서, 상기 제 설명 될 수 1,53-57,59-82전자 웨이브는 누구의 압력 (p)를 모두 위치 (x)와 시간 (t)에 따라 다릅니다 간단한 음향 소스입니다 : <img alt="Equation1" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation1.jpg" /> 양식 (64)의 간단한 음향 소스를위한 솔루션 <img alt="Equation2" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation2.jpg" /> P는 압력, 여기서 Γ는 H 0은 조사량 αv (S) 2 / C α 볼륨 열팽창 계수 P는 V (S)는 배지 중 음속이며, C P가 정압 열용량이다 = 레이저 빔, C는 흥분 매체 소리의 속도이고, X는 길이이고, t는 시간이다. 얻어진 음향 파의 크기 w는 재료의 광 흡수 계수에 직접 의존을 μHICH는 다시 그것의 초기 광 강도의 1 / K로 감쇠 할 때까지 광이 이동하는 거리의 측정은 광 투과 깊이, δ의 역이다. 식 (1) 일차원 평면파 소스에 대한 일반 식이지만, 일반적인 흡수 입체적 구형 파를 방출한다. 수학적 설명을 넘어 인해 자연적으로 존재하는 발색단 헤모글로빈에 의한 큰 광 흡수에 이러한 현미경, 단층 촬영, 높은 감도를 갖는 광 음향 효과로 인해 심지어 분자 영상과 음향 효과 (54) 스팬 많은 영상 방식의 응용 프로그램. 광 음향 효과의 다른 응용 프로그램도 다양한 박막 특성 15,16,20,21,24,26-32,36-39,41,42,56,83,84의 추정을 포함한다. 그러나 PAS 특정 한계를 가지고있다 : (1) 광범위한 광 투과 깊이는 표면에서 근접장 광학 특성을 검사하는 기능을 제거 (2)를방출 된 음향 에너지를 캡처의 효율성으로 인해 구형 멀리 검출기로부터 에너지의 대부분의 전파 (3) 샘플을 고려 파장 정권에서 발색단을 포함해야합니다으로 낮다. 산장 기반 기술과 결합 될 때, 그러나, 이러한 제한 사항의 많은 개선 될 수있다. 빛의 빔이 내부 전반사 (TIR)​​를 겪는 경우도 광섬유 도파로가 계산 및 통신 애플리케이션을위한 조명 큰 거리 (km)를 안내 할 수 있습니다 효과 스넬의 법칙에 의해 설명 된대로 산장이 발생합니다. 실제 응용에서, 산장 감쇠 총 반사 분광법 (ATR)을 포함한 특성 및 이미징 기술의 다양한 사용된다. 이미징 관심 샘플에 제 수백 나노 미터 이내에 의한 광 가둠을 높은 콘트라스트로 얻을 수있다. 소멸 필드는 exponentiall의 형태를 취한다수학 식 3 및 4에 도시 된 바와 같이 파장 정도의 통상적 인 광 투과 깊이를 외부 매체에 연장 Y 감쇠 필드 (보통 ~ 500 nm 이하)를 사용된다. <img alt="Equation3" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation3.jpg" /> I 프리즘 / 샘플 인터페이스에서 위치를 z %의 광 강도이고, I 0 계면 %의 초기 광 강도이며, Z는 나노 미터의 거리이고, δ P는 수학 식에 나타낸 바와 같이, 광 투과 깊이 같은 작은 광학 침투 깊이와 4. 소멸 필드는 두 물질의 인터페이스에 매우 근접, 잘 광학 및 음향 회절 한계 아래의 환경과 상호 작용 할 수있다. 이 범위 내에서 물질이나 입자의 광학 특성은, 방법 (3)의 종류에 의해 검출 될 수있는 상호 작용의 생성, 변경 필드를 교란하거나 수도5,6,10,15,17,18,21,23,25-27,29-47,84-95. 소산 기술은 PAS와 혼합 될 때, 생성되는 광 음향 파형이도 1에 도시 된 바와 같이 기초 photoacoustics는 기술 (EFPA) 패밀리. 패밀리 포함 소멸 필드를 생성 소멸 필드와 상호 작용하는 물질 또는 입자를 특성화하는데 사용될 수있다 하지만, 전반사 광 음향 분광학 (TIRPAS), 광 터널, 광 음향 분광학 (OTPAS) 및 표면 플라즈몬 공명 광 음향 분광학 (SPRPAS)에 한정되지 않는다. 관심있는 독자는 TIRPAS 5,6,18,23,25,26,33-35,43-47, PAS / TIRPAS의 굴절계 (18)에 사용되는 방정식의 유도를 위해 다음 참조를 참조하고, OTPAS 6한다. 각각의 경우에, 광 음향 효과는 프리즘을 통해 간단한 투과율 상이한 여기 메커니즘을 통해 생성된다; 예를 들어, TIRPAS에서 빛이 순간적이며SPRPAS에서 음원의 기본 모드 인 표면 플라즈몬의 흡수를 통해 대신 반면 (샘플 재료 자체 또는 샘플 내의 게스트 분자를 포함 할 수있다)가 발색단에 프리즘 / 기판 / 샘플 인터페이스를 통해 연결된 보조 EM 파 소멸 필드의 에너지가 상기 프리즘 표면 상에 증착 된 금속층의 전자 구름에 전송할 때 생성. 기술의 가족은 원래 Hinoue 등.에 의해 1980 년대 초반에 발명 및 T. 이나가키 등에 의해에 개선. SPRPAS의 발명,하지만 인해 광원 및 사용 가능한 탐지 장비의 기술적 한계에 거의 개발을 보았다 . (: YAG nd)이 레이저 최근 이전 조사 감도 및 유틸리티 현대 폴리 불화 비닐 리덴 (PVDF), 초음파 탐지기 Q- 스위치 네오디뮴 도핑 된 이트륨 알루미늄 가넷 가능 증가 된 것으로 나타났다. 특히, 노스 다코타 나노초 - 펄스 : YAG레이저는 소재와 인터페이스 5,6,15,18,21-29,31-47,84의 다양한 광학 특성을 평가하기위한 유용한 도구가 될 EFPA 기술을 가능하게 피크 전력의 106 배의 증가를 초래 96. 또한, 이전의 연구는 또한 인해 비교적 큰 침투 깊이 53,55,57,59 전통적인 광 음향 분광법 (PAS) 기술로 달성 이전에 결코 계면에서 물질에 대한 구성 정보를 결정하기 위해 이러한 기술의 능력을 보여 주었다 61,62,69,73,75,80,81. 이 기능은 OTPAS 기술에서 다음 프로토콜에 표시됩니다; 그러나,보다 근본적인 수준에서 세 가지 방법은 각 기술의 능력을 결정하는 다른 결정적인 식에 의존한다. 예를 들어, TIRPAS, 소멸 필드의 광 투과 깊이, δ &#39;P에서 주로 생성 된 음향을 구동흡수 샘플 신호 강도를,에 의해 설명된다 : <img alt="Equation4" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation4.jpg" /> λ 1 프리즘 매체를 통해 이동하는 광의 파장과 관계 λ에 의해 정의된다 λ = 1 / N, 1 N (1)이 프리즘 재료의 굴절률이고. 또한, θ는 자극의 각도를 지칭하며, N (21)는 각 매체의 굴절률의 비율을 의미하고, N이 샘플 재료의 굴절률이고 N 21 = N 2 / N (1)에 의해 정의된다. 광 투과 깊이가 클수록, 더 많은 물질을 조사한다. 광 음향 효과, 광 침투 깊이 더 큰, 더 많은 물질은 더 큰 음향 신호로 이어지는 음향 파를 생성 할 수 있습니다 여기되고있다. <pTIRPAS 달리 클래스 = &quot;jove_content&quot;&gt; 그러나, PAS에 / TIRPAS은 기본 방정식은 스넬의 법칙이다 굴절계 : <img alt="Equation5" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation5.jpg" /> N (1)이 프리즘의 굴절율이고, θ 1 프리즘 / 샘플 경계면에서의 입사각이고, n은 2 시료의 굴절률이며, θ (2)는 제 통해 굴절되는 빛의 각도 매질. 물질의 굴절률을 추정하는 감도를 주로 θ 1은 소 산장을 발생하는 임계각 죄 θ (2) = 1 이상으로 될 때 달성되는 총 내부 반사 θ (1)의 추정의 정확도에 의해 구동되고 따라서, 식 (5)는 N 2 = n은 1 sinθ 1로 줄일 수 있습니다. (참고 : θ 1 =θ 수치 유도체 (P 피크 광 음향 신호의 전압과 θ의 피크 DP / dθ는 광 음향 신호의 샘플 광의 입사각)가되는 각도를 알면) 임계가있는 로컬 최소값 허용 사용자가 N 2 해결하고, 따라서도 1에 도시 된 바와 같이 샘플의 벌크 굴절율을 추정 할 수 있도록 한 θ의 추정. 마지막 OTPAS, 다음 식에 의해 피크 전압 음향 피크 %의 광 전송에 관한 것이다 : <img alt="Equation6" src="/files/ftp_upload/54192/54192equation6.jpg" /> T는 비율 광전송이고, p는 그 위에 막을 갖는 기판의 각 스펙트럼에 의해 생성 된 피크 - 투 - 피크 전압이며, P 0 각도 스펙트럼 O에 의해 생성 된 피크 - 투 - 피크 전압이며FA 기판, β 프리즘 침지 오일의 굴절률에 기초하여 상기 결합 상수이며, α는 감쇠 계수이고, 두께와 산장 내의 샘플 필름의 굴절률을 포함하는 요소이다. 이 기법의 감도를 두께 및 굴절율이 각 스펙트럼에 입사 각 각도 음향 신호 세기, P 및 P 0과 피크 정점의 추정 정밀도에 의해 구동된다. 이는 β 직접 프리즘 침지 오일의 굴절률에 기초하여 계산 될 수 있음을 도시하고있다; 결과적으로, 각 입사 각도 광전송을 계산하고 통계적 커브 피팅 분석을 통해 필름의 굴절률 및 두께에 대한 추정치를 추출하는 간단한 작업이다. 관심있는 독자는 골드 슈미트 등을 참조해야합니다. 자세한 내용은. 5,6 티그 시스템은 두께 박막 굴절률 벌크 굴절율을 추정 및 검출을위한 광 흡수를 통해 음향 신호를 생성 할 수있는 광 음향 기반 시스템 EFPA. 시스템은 레이저로 구성되고, 광 열차 프리즘 / 샘플로하고, 레이저 에너지 측정면에 광을 안내한다. 도 2에 도시 된 바와 같이, 레이저 에너지 측정면은 입사 레이저 에너지의 광 음향 신호를 정규화하기 위해 사용된다. EFPA 시스템 스테퍼 모터 드라이버에 의해 구동되는 PAS / TIRPAS의 굴절계 및 OTPAS 내의 각 스펙트럼에 대한 / 샘플 프리즘을 회전 . 이 시스템은 디지털 수집 카드를 통해 데이터를 획득하고, 집에서 프로그램을 통해 사용자 인터페이스와 자동 단계 제어를 제공한다.

<table><tbody><tr><td>100mm 평면 볼록 렌즈</td><td>Thorlabs</td><td>LA1509</td><td>빔 확장기용 플라노 볼록 렌즈</td></tr><tr><td>-30mm 평면 오목 렌즈</td><td>Thorlabs</td><td>LC2679</td><td>빔 확장기용 플라노 오목 렌즈</td></tr><tr><td>10MHz 초음파 트랜스듀서</td><td>Harisonic</td><td>I31006T</td><td>레이저 에너지 측정 및 OTPAS 마운트 모두에 광음향 감지에 사용되는 초음파 센서</td></tr><tr><td>침지 오일 유형 A</td><td>Cargille</td><td>16482</td><td>Index of 1.519 NBK-7 substrate와 일치</td></tr><tr><td>천연 라텍스 고무 시트 (빨간색)</td><td>McMastercarr</td><td>86085K11</td><td>Index ~1.519 는 Type A immersion liquid와 일치하여 광학 터널링 및 레이저 에너지를 측정하는 광학 흡수체 역할을 함</td></tr><tr><td>레이저 고글</td><td>VERE</td><td>53</td><td>레이저 광으로부터 눈을 보호하는 데 사용</td></tr><tr><td>케이지 장착 비편광 빔 스플리터 큐브</td><td>Thorlabs</td><td>CM1-BS013</td><td>레이저 광을 분할하여 절반은 측정하고 절반은 여기에만 사용할 수 있습니다</td></tr><tr><td>케이지 장착형 편광 빔 스플리터 큐브</td><td>Thorlabs</td><td>CM1-PBS251</td><td>광학 터널링 실험에 사용하기 전에 빛이 편광되었는지 확인</td></tr><tr><td>눈금이 매겨진 링 활성화 조리개</td><td>조리개 Thorlabs</td><td>SM1D12C</td><td>정렬을 위해 빔을 더 작은 크기로 절단</td></tr><tr><td>데이터 수집 카드</td><td>내쇼날인스트루먼트</td>의 <td>USB-5133</td><td>USB 오실로스코프로 데이터 수집하기 위한</td></tr><tr><td>스테퍼 모터 드라이버</td>National <td>Instruments</td><td>MID-7604</td><td>앵귤러 스펙트럼용 스테퍼 모터를 구동하기 위한 스테퍼 모터</td></tr><tr><td>드라이버 Sherline XY 스테이지 (14")</td><td>Sherline</td><td>5600-CNC/5610-CNC</td><td>Sherline XY 스테이지</td></tr><tr><td>4-죠 셀프 센터링 척</td><td>Sherline</td><td>1076/1034</td><td>Sherline 회전 어태치</td></tr>먼트 <tr>직<td>각 어태치먼트</td><td>Sherline</td><td>3701</td><td>회전 마운트 부착을 위한 직각 어태치먼트</td></tr><tr><td>CNC 로터리 테이블</td><td>Sherline</td><td>8730</td><td>OTPAS 프리즘/샘플 고정용 로터리 테이블</td></tr><tr><td>Surelite I-20 레이저 시스템</td><td>Continuum</td><td>I-20</td><td>Q-switched Nd:YAG 레이저 흥미로운 샘플을 위한</td></tr><tr><td>NBK-7 프리즘</td><td>Thorlabs</td><td>PS911</td><td>EFPA용 직각 프리즘</td></tr><tr><td>조정 가능한 토크 렌치</td><td>Tohnichi</td><td>RTD40Z</td><td>각 기술에 대한 EFPA 마운트를 16.75g/mm까지 동일하게 조이는 조정 가능한 토크 렌치</td></tr><tr><td>Micromark</td><td></td><td>84519</td><td>EFPA 프리즘 홀더가 0도에서 시작하도록 하는 디지털 레벨.</td></tr></tbody></table>

사라져가는 필드를 기반 photoacoustics : 광학 특성 평가 표면에

Evanescent Field Based Photoacoustics: Optical Property Evaluation at Surfaces

여기에서는 내부 전반사와 결합된 광음향 효과를 사용하여 재료 및 표면의 광학 특성을 추정하는 프로토콜을 제시합니다. 박막과 벌크 재료 표면의 광학 특성 평가는 새로운 광학 재료 시스템과 그 응용 분야를 이해하는 데 중요한 단계입니다. 제시된 방법은 두께, 굴절률을 추정하고 검출을 위해 재료의 흡수 특성을 사용할 수 있습니다. 이 계측 시스템은 소멸장과 광음향 효과의 상호 작용을 기반으로 하는 연구 분야인 EFPA(evanescent field-based photoacoustics)를 사용합니다. 이러한 상호 작용과 그에 따른 기술 제품군을 통해 이 기술은 샘플 표면의 수백 나노미터 내에서 광학 특성을 조사할 수 있습니다. 이 광학적 근거리장은 굴절률 및 필름 두께와 같은 필드 자체와 동일한 스케일에서 재료 특성을 매우 정확하게 추정할 수 있도록 합니다. EFPA와 TIRPAS(Total Internal Reflection Photoacoustic Spectrocopy) 및 OTPAS(Optical Tunneling Photoacoustic Spectrocopy)와 같은 하위 기술을 사용하면 비용이 많이 들 수 있는 많은 장비와 실험 없이 통합 기기에서 나노 스케일로 재료를 평가할 수 있습니다.

결과는 TIRPAS, PAS / TIRPAS의 굴절계, 그리고 EFPA 플랫폼 내에서 subtechniques 있습니다 OTPAS 위해 표시되었습니다. (4) 흡수 샘플에서 발생하는 대표적인 TIRPAS 음향 파를 보여줍니다. 음향 파의 바이폴라 특성은 TIRPAS 기술의 특징 및 TIRPAS이 발생하고 있음을 나타냅니다. 이 바이폴라 파형 인한 음향 임피던스의 큰 차이에 시료와 유리 기판 사이의 계면에서의 음향 반사로 인해 발생한다. PAS / TIRPAS의 굴절계를도 5 및 표 1을 얻었다.도 5는 각 스펙트럼 벌크 굴절율을 추정하는 테스트를받은 샘플은 얻어진 수치 유도체를 나타낸다. 표 1을 추정하는 PAS / TIRPAS의 굴절계를 사용하여 결과를 나타낸다 안돼요으로 물 / PEG / 직접 빨간색 염료 혼합물의 대량 굴절률표준 휴대용 굴절계를 이용하여 벌크 굴절률 추정치 빨강. 마지막 OTPAS 결과를도 7 및 표 2에 나타낸다. (7) 중에 촬영 각도 스의 두 도면을 보여준다 OTPAS. 표 2 OTPAS 같은 박막 시료의 분광 엘립 소메 트리의 비교를 나타낸다. <img alt="그림 1" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig1.jpg" /> EFPA. EFPA 그림 1. Subtechnologies는 현재 세 가지 하위 기술로 구성되어 있습니다. 이러한 기술은 TIRPAS, PAS / TIRPAS의 굴절계, 그리고 OTPAS 있습니다. 각 기술은 유도 또는 다른 속성을 결정하는 자료를 평가할 수 있습니다. TIRPAS는 바이오 센싱 용도에서의 광 흡수에 기초 물질을 검출 PAS / TIRPAS의 굴절계 벌크 굴절률을 평가하고 OTPAS 박막 굴절률 평가D 두께. TIRPAS에서, 임계각 θ C를 넘어 빛은 광 흡수와의 상호 작용에 따라 음향 파를 생성 할 수있는 소멸 필드를 만듭니다. PAS / TIRPAS의 굴절계에서 TIRPAS 및 PAS 파형 모두 산장 광 음향 여기 및 기존의 광 음향 여기에서 모두 얻을 수있다. 각도 스펙트럼 그래프 두 체제를 플로팅함으로써, 과도 각도는 굴절률을 유도하는데 이용 될 수있는 관찰 될 수있다. 마지막 OTPAS에서 음향 신호의 스펙트럼을, 기판 상에 박막 및 노출 된 기판 모두에 대해 임계각 θ C를 초과 레이저 조사하여 얻어진다. 데이터에 비선형 곡선 피팅 알고리즘을 적용함으로써, 박막 두께 및 굴절률이 유도 될 수있다. <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig1large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> . 그림 2. EFPA 개략적 인 / 사진 왼쪽 : 레이저 빔은 라텍스 고무로 덮여 감지 영역을 너무 많이 넣다 확대해야 EFPA을 설정합니다. 도시 된 바와 같이 빔은 초기 프리즘 45도 각도 일 것이다. 오른쪽 :. 광학 기차를 보여주는 설정의 사진 <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig2large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <img alt="그림 3" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig3.jpg" /> 그림 3. 샘플 로딩. 샘플 기판에 침수 오일을 통해 광학 접촉을 프리즘으로로드됩니다. TIRPAS 또는 PAS / TIRPAS의 굴절계에 직접 액체 접촉은 테스트 용 기판의 샘플을 얻을 수있다. OTPAS, 광 결합 죽에광학 터널링이 발생하는 우 기판과 빨간색 라텍스 고무 사이에 추가 침수 오일 수 있습니다. 마운트는 함께 토크 렌치를 사용하여 나사를 장착 고정되어있다. <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig3large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <img alt="그림 4" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig4.jpg" /> 그림 4. TIRPAS 일반적인 데이터. TIRPAS 파형은 일반적으로 TIRPAS 방법의 특징이다 바이폴라 음향 신호 모양을 가지고있다. <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig4large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <img alt="그림 5" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig5.jpg" /> 그림 5. PAS는 / 일반적인 데이터를 TIRPAS. &lt;/ strong&gt;을 왼쪽 : 입사 다양한 각도에서 샘플을 조사하여 얻어지는 각도 스펙트럼 데이터. 오른쪽 : 다시 임계각의 위치에 해당 TIRPAS 체제에 PAS,의 전환을 나타내는 로컬 최소값을 계시 왼쪽 그림의 수치 유도체. 허가 재판. (18) <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig5large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <img alt="그림 6" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig6.jpg" /> 도 6 프로그램의 흐름도. 이 프로그램은 몇 단계로 반복 실행된다. 프리즘 마운트는 0 °로 설정하고 파라미터는 프로그램을 실행하기 전에 선택된다. 그 프로그램은, 기판과 막 모두의 각도 스펙트럼을 획득하기 위해 실행된다. 마지막으로, 곡선은 필름의 굴절률 및 두께를 추정 데이터에 적합. 허가 재판. (6) <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig6large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <img alt="그림 7" src="/files/ftp_upload/54192/54192fig7.jpg" /> . 그림 7. OTPAS 일반적인 데이터 왼쪽 :이 그림은 MgF2와 영화와 각각 N-BK7 기판의 각 스펙트럼 스캔을 보여줍니다. 오른쪽 : N-BK7 기판을 검사하여 MgF2와 막 각도 스펙트럼 스캔을 분할하고, 일정한 계수 (β)을 곱하여, 입사각 대 광 터널 (%)의 정도는 굴절률의 추정을 가능하게하는, 얻을 수있다 인덱스와 박막의 두께. <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/54192fig7large.jpg" target="_blank">이 그림의 더 큰 버전을 보려면 여기를 클릭하십시오.</a> <table fo:keep-together.within-page="1"><tbody><tr><td> PAS / TIRPAS </td><td> 샘플 1 </td><td> 샘플 2 </td><td> 샘플 3 </td><td> 샘플 4 </td><td> 샘플 5 </td><td> 아타고 R-5000 </td></tr><tr><td> 직접 레드 / PEG 125 μg의 / ㎖ </td><td> 1.395 </td><td> 1.395 </td><td> 1.395 </td><td> 1.395 </td><td> 1.395 </td><td> 1.395-1.397 </td></tr><tr><td> 직접 레드 / PEG 250 μg의 / ㎖ </td><td> 1.39 </td><td> 1.39 </td><td> 1.39 </td><td> 1.39 </td><td> 1.39 </td><td> 1.390-1.396 </td></tr><tr><td> 직접 레드 / PEG 500 μg의 / ㎖ </td><td> 1.388 </td><td> 1.389 </td><td> 1.389 </td><td> 1.389 </td><td> 1.389 </td><td> 1.381-1.395 </td></tr><tr><td> 직접 레드 / PEG 750 μg의 / ㎖ </td><td> 1.382 </td><td> 1.382 </td><td> 1.387 </td><td> 1.387 </td><td> 1.387 </td><td> 1.372-1.395 </tD&gt; </tr><tr><td> 미오글로빈 460 μg의 / ㎖ </td><td> 1.33 </td><td> 1.329 </td><td> 1.331 </td><td> 1.33 </td><td> 1.331 </td><td> 1.335 </td></tr></tbody></table> 표 1. PAS / TIRPAS 결과. 다음 표는 굴절률을 높이기 위해 혼합 50 % PEG와 직접 붉은 염료에 대한 전형적인 결과를 보여줍니다. 허가 재판. (18) <table fo:keep-together.within-page="1"><tbody><tr><td> 시험 유형 </td><td> 기술 </td><td> 박막형 </td><td> 굴절률 </td><td> 두께 (㎚) </td></tr><tr><td> Intrasample </td><td> OTPAS </td><td> MgF2와 200 nm의 </td><td> 1.384 ± 0.004 </td><td> 203 ± 6 </td></tr><tr><td> Intrasample </td><td> Ellipsometry </td><td> MgF2와 200 nm의 </td><td> 1.393 ± 0.001 </td><td> 192.4 ± 1.1 </td></tr><tr><td> Intersample </td><td> OTPAS </td><td> MgF2와 200 nm의 </td><td> 1.395 ± 0.011 </td><td> 220 ± 19 </td></tr><tr><td> Intersample </td><td> 타원 </td><td> MgF2와 200 nm의 </td><td> 1.392 ± 0.002 </td><td> 195.2 ± 1.8 </td></tr></tbody></table> 표 2. OTPAS 결과. 다음 표는 분광 타원 대 OTPAS 200 nm의 MgF2와 박막에 대한 전형적인 결과를 보여줍니다. Intrasample는 intersample 반면 독립적으로 열 필름 테스트를 의미, 하나의 필름을 열 번 테스트를 의미한다. 허가 재판. (6) <table fo:keep-together.within-page="1"><tbody><tr><td> 평균의 # </strong&gt; </td><td fo:width="0.6in" style="width:40px"> 1 </td><td> 각도를 시작합니다 </td><td fo:width="0.6in" style="width:35px"> (60) </td><td> 워밍업 (분) </td><td style="width:90px"> 0 </td><td style="width:90px"> 굴절률 (프리즘) </td><td> 1.519 </td></tr><tr><td> # 검사 </td><td> 1 </td><td> 스텝 사이즈 </td><td> 0.1 </td><td> 에 저장 </td><td> &quot;YourFileName을&quot;.CSV </td><td> 마이크로 # </td><td> (10) </td></tr><tr><td> 세트 Q 스위치 </td><td> 275 </td><td> 정지 각도 </td><td> (80) </td><td> 레이저 선택 </td><td> Surelite </td><td> 속도 (RPM) </td><td> (500) </td></tr><tr><td> 오류 허용 오차 (%) </td><td> (5) </td><td> 레이저 시작 </td><td> ...에 </td><td> 저역 통과 필터 (PROG램) </td><td> 1.00 × 10 (7) </td><td> 가속 (RPS) </td><td> (200) </td></tr></tbody></table> 표 PAS / TIRPAS의 굴절계 3. 각도 스펙트럼 설정. 다음 표는 PAS / TIRPAS의 굴절계의 각 스펙트럼에 필요한 설정을 보여줍니다. <table fo:keep-together.within-page="1"><tbody><tr><td> 평균의 # </td><td fo:width="0.6in" style="width:40px"> (64) </td><td> 각도를 시작합니다 </td><td fo:width="0.6in" style="width:35px"> (70) </td><td> 워밍업 (분) </td><td style="width:90px"> 1 </td><td style="width:90px"> 굴절률 (프리즘) </td><td> 1.519 </td></tr><tr><td> # 검사 </td><td> 1 </td><td> 스텝 사이즈 </td><td> 0.1 </td><td> 에 저장 </td><td> &quot;YourFileName을 &amp;# 8221; .CSV </td><td> 마이크로 # </td><td> (10) </td></tr><tr><td> 세트 Q 스위치 </td><td> 275 </td><td> 정지 각도 </td><td> (72) </td><td> 레이저 선택 </td><td> Surelite </td><td> 속도 (RPM) </td><td> (500) </td></tr><tr><td> 오류 허용 오차 (%) </td><td> (5) </td><td> 레이저 시작 </td><td> ...에 </td><td> 저역 통과 필터 (프로그램) </td><td> 1.00 × 10 (7) </td><td> 가속 (RPS) </td><td> (200) </td></tr></tbody></table> 표 OTPAS 4. 각도 스펙트럼 설정. 다음 표는 OTPAS의 각 스펙트럼에 필요한 설정을 보여줍니다. <table fo:keep-together.within-page="1"><tbody><tr><td style="width:65px"> 저 굴절율 </td><td> 1 &lt;/ TD&gt; <td style="width:72px"> 용인 </td><td> 1.00 × 10 -12 </td><td style="width:80px"> 커플러 RI </td><td style="width:83px"> 1.519 </td><td style="width:65px"> 기판 데이터 </td><td style="width:83px"> yourfilename.csv 선택 </td></tr><tr><td> 낮은 두께 </td><td> 0 nm의 </td><td> 굴절률 같다 </td><td> 1.3 </td><td> 파장 </td><td> 532 nm의 </td><td> 여러 개의 파일로 저장 </td><td> yourfilename.csv 선택 </td></tr><tr><td> 어퍼 두께 </td><td> 1,000 nm의 </td><td> 두께 추측 </td><td> 200 nm의 </td><td> 편광 </td><td> P 편광 </td><td> 얼마나 많은 파일 </td><td> 당신이 적합 할 파일 # </td></tr><tr><td> 최대 반복 </td><td> 5,000 </td><td> 기판RI </td><td> 1.519 </td><td> 필름 데이터 </td><td> yourfilename.csv 선택 </td><td> 맞는 유형 </td><td> 단일 적합 / 배치에 맞게 </td></tr></tbody></table> 표 5. 커브 피팅 파라미터. 다음 표 정확한 파라미터 추정에 필요한 커브 피팅 파라미터들을 나타낸다. 기업 코드 파일 :. OTPAS 박막 analyzer_USB-5133.vi <a href="https://www.jove.com/files/ftp_upload/54192/OTPAS_Thin_Film_Analyzer_USB-5133.vi" target="_blank">이 파일을 다운로드하려면 여기를 클릭하십시오.</a>

여기에서 우리는 자료를 추정 총 내부 반사와 결합 된 광 음향 효과를 사용하여 광학 특성을 표면에 프로토콜을 제시한다. 이 기술 산장 기반 photoacoustics 그들의 광학 특성 물질 &#39;두께 벌크 박막의 굴절률을 측정하는 계측 광 음향 시스템을 구축하고 탐색하는데 사용될 수있다.

사라져가는 필드를 기반 Photoacoustics : 광학 특성 평가 표면에

Here, we present a protocol to estimate material and surface optical properties using the photoacoustic effect combined with total internal reflection. ...

이 광음향 기술 세트의 전반적인 목표는 액체, 고체 및 투명 박막의 광학적 특성을 하나의 통합된 장치로 특성화하는 것입니다. 이 방법은 추정 두께 및 굴절률과 같은 재료 특성화 분야의 주요 질문에 답하는 데 도움이 될 수 있습니다. 이 기술의 주된 장점은 벌크 굴절률, 박막 굴절률, 두께 및 광학 흡수도를 단일 장치에서 측정할 수 있다는 점입니다.실험을 시작하기 위해 일부 장비를 준비해야 합니다. 먼저, 본 프로토콜에서 사용된 10 megahertz 모델과 같은 초음파 트랜스듀서 두 개가 필요합니다. 각 트랜스듀서의 전면부에는 직경 9 mm, 두께 1 mm의 적색 라텍스 고무 실린더가 에폭시로 부착되어 있습니다.기준 트랜스듀서 또한 음향 스페이서 역할을 하는 아크릴 블록에 에폭시로 고정합니다. 준비해야 할 또 다른 장비는 에반네센트 필드 기반 광음향(EFPA) 프리즘 홀더입니다. EFPA 프리즘 홀더는 프리즘 마운트와 트랜스듀서 마운트로 구성됩니다.프리즘이 프리즘 마운트에 장착되어 있습니다. 트랜스듀서 마운트는 준비된 초음파 트랜스듀서 중 하나를 고정하여 라텍스 부분이 노출되도록 합니다. 프리즘과 트랜스듀서가 배치된 상태에서 프리즘 홀더의 두 부분을 결합하여, 샘플이 들어갈 간격을 사이에 두고 라텍스가 프리즘과 마주보게 합니다.나사로 각 부품을 서로 고정합니다. 이 실험을 위한 나머지 장치는 이미 광학 벤치 위에 설치되어 있습니다. 빔은 큐 스위치 네오디뮴 돔 중수소 알루미늄 가넷 레이저에 의해 생성됩니다.출력빔은 빔 확장기(beam expander)로 들어갑니다. 그 다음으로는 수동으로 조절 가능한 조리개가 배치됩니다. 다음 요소는 편광 빔 분할 큐브(polarizing beam splitter cube)입니다.그 후 빔은 비편광 빔 분할기로 들어갑니다. 하나의 출력은 기준점으로 사용될 고정된 초음파 트랜스듀서로 향합니다. 빔 분할기의 다른 출력은 고정된 EFPA 프리즘 홀더 및 해당 트랜스듀서로 향합니다.프리즘 홀더에서 나오는 빔은 빔 블록으로 들어갑니다. EFPA 프리즘 홀더는 적절한 위치 조정을 위해 XY theta 이동 스테이지에 장착되어 있습니다. 홀더의 각도는 컴퓨터로 제어되는 스테퍼 모터를 통해 변경할 수 있습니다.실험 준비를 위해 레이저와 빔 확장기로 돌아갑니다. 렌즈를 사용하여 빔 확장 배율을 최소 3배 이상으로 설정하십시오. 빔의 크기는 트랜스듀서의 라텍스 흡수제보다 커야 합니다.익스팬더 작업을 마친 후, 디지털 수평계를 사용하여 빔과 프리즘 홀더의 정렬을 맞춥니다. 프리즘 마운트의 평평한 면이 빔을 기준으로 0도가 되어야 합니다. 트랜스듀서, 오실로스코프 및 컴퓨터 제어 모니터를 연결하고 전원을 켭니다.50 ohm BNC 케이블을 사용하여 기준 트랜스듀서를 오실로스코프의 0번 채널에 연결하십시오. EFPA 프리즘 마운트에 있는 트랜스듀서를 1번 채널에 연결하십시오. 정렬 단계에서는 반드시 적절한 레이저 안전 고글을 착용하십시오.조절 가능한 조리개에서 빔의 직경을 1 mm로 줄입니다. 컴퓨터에서 실험 실행을 제어할 소프트웨어를 시작합니다. 소프트웨어를 사용하여 프리즘 마운트를 70도로 회전시킵니다.측면에서 레이저 빔과 수직이 되도록 프리즘을 통해 내부를 들여다보고, 라텍스 위에 레이저 스폿이 보이는지 확인하십시오. 레이저 스폿이 트랜스듀서 위에 정확하게 위치할 때까지 XY theta 이동 스테이지를 수동으로 조정하십시오. 목표는 스폿이 라텍스의 중앙에 위치하게 하는 것입니다.조리개로 돌아가 최대 개방 상태로 확장합니다. 컴퓨터에서 트랜스듀서의 에너지 측정값을 검토하십시오. 이 경우 빨간색 선은 기준이 되는 직접 레이저 에너지 측정값입니다.파란색 선은 EFPA 프리즘 홀더의 트랜스듀서에서 측정된 값입니다. 두 측정값의 크기가 거의 동일한지 확인하십시오. 모든 설정이 올바르면 측정을 중단하며, 이후 계속 진행하기 전에 프리즘이 자동으로 0도로 리셋됩니다.액체 시료를 분석하기 위해 전반사 광음향 분광법 기술이 사용됩니다. 시료는 물에 용해된 direct red dye 81입니다. 또한, 이 기술에는 프리즘과 굴절률이 일치하는 침수 오일과 프리즘 표면을 덮기 위한 기판으로서의 현미경 슬라이드가 필요합니다.샘플을 배치하기 위해 EFPA 프리즘 홀더를 셋업에서 분리하여 엽니다. 먼저 프리즘을 준비하고, 그 중심에 2.5 µL의 침수유를 떨어뜨립니다. 그런 다음, 퍼져 있는 오일 층 위에 기질을 올립니다.다음으로, EFPA 초음파 트랜스듀서 위의 라텍스로 이동합니다. 여기에 기포가 생기지 않도록 액체 시료 25 µL를 분주합니다. 이제 시료가 도포된 라텍스 위에 프리즘 오일 기판 조합을 올려 EFPA 홀더를 다시 조립합니다.프리즘 홀더를 압착하고, 장착 나사로 어셈블리를 조입니다. EFPA 홀더가 준비되면 이를 실험 장치로 다시 가져옵니다. 광학 소자들 사이의 원래 위치에 EFPA 홀더를 다시 배치합니다.데이터 수집을 시작하기 전에 모든 구성 요소가 준비되었는지 확인하십시오. 실험실 소프트웨어를 사용하여 샘플에서 생성된 음향 신호를 측정하고 표시하십시오. 데이터는 시간에 따른 피크-투-피크 전압을 나타냅니다.POSS TUR POSS 굴절률 측정을 준비하기 위해, 설정된 EFPA 프리즘 홀더를 다시 사용합니다. 홀더를 분리하여 프리즘과 트랜스듀서의 라텍스를 노출시킵니다. 샘플, 프리즘과 굴절률이 일치하는 침지유, 그리고 프리즘 표면을 덮을 기판을 준비합니다.프리즘 중앙에 2.5 µL의 침지유를 도포합니다. 오일 층 위에 기판을 올려 오일을 샌드위치 형태로 고정합니다. 마운트에 장착된 트랜스듀서로 이동하여 라텍스 패드 위에 25 µL의 샘플 염료를 넣습니다.이 과정이 완료되면, 오일과 기질이 포함된 프리즘 마운트를 라텍스 또는 트랜스듀서 위에 올립니다. 두 마운트를 함께 압착하고 장착 나사로 고정합니다. 설정 내에 EFPA 프리즘 홀더가 배치되면, 컴퓨터 제어 소프트웨어로 전환합니다.스펙트럼을 측정할 입사각의 범위와 단계 크기를 입력하십시오. 프로그램을 실행하여 스펙트럼을 측정하고, 이를 각도의 함수로서 피크-투-피크 전압으로 플롯하십시오. 측정된 스펙트럼을 사용하여 소프트웨어로 각도에 대한 수치 도함수를 구하고 그래프로 나타내십시오.수치 미분으로 얻은 매끄러운 데이터를 사용하여 국소 최솟값과 그에 해당하는 입사각을 수동으로 식별하십시오. 최솟값은 POSS 영역에서 TUR POSS 영역으로의 전이를 나타냅니다. EFPA 프리즘 홀더를 조작하여 광학 터널링 광음향 분광법 측정을 위한 준비를 하십시오.프리즘과 트랜스듀서 마운트를 분리해 두고, 프리즘에 맞춘 굴절률 매칭용 침전유를 준비합니다. 시료는 유리 슬라이드 위에 증착된 얇은 불화마그네슘 박막입니다. 프리즘 중앙에 침전유 2.5 µL를 도포합니다.오일을 도포한 후, 박막이 프리즘 반대 방향을 향하도록 시료를 배치하고 시료를 오일 위에 올립니다. 트랜스듀서 마운트의 라텍스 패드 위에 25 µL의 침전 오일을 도포하여 기포가 생기지 않도록 표면 전체를 덮습니다. 라텍스를 시료에 접촉시킨 후, 고정 나사를 조여 조립체를 압착합니다.EFPA 홀더를 광학 장치에 다시 설치하고 실험을 수행할 준비를 합니다. 컴퓨터에서 각도 스펙트럼 측정을 위한 파라미터를 입력하고 측정을 시작합니다. 전반사 광음향 분광법(total internal reflection photoacoustic spectroscopy)으로 얻은 이 데이터는 흡수 시료에서 발생한 음파를 나타냅니다.본 사례에서는 물에 녹인 red dye 81을 사용하였습니다. 샘플과 유리 기판 사이의 계면에서 음향 임피던스 차이가 크기 때문에 음향 반사가 일어나며, 이로 인해 파동의 양극성 특성이 나타납니다. POSS TUR POSS 기술은 각도 스펙트럼을 생성합니다.smooth에서 수치 미분을 수행하면, 국소 최솟값이 측정된 임계각에 해당합니다. 이 각도를 알면 실험에 사용된 레이저 파장에서의 벌크 굴절률을 계산할 수 있습니다. 이는 NBK-7 광학 유리 기판 위의 마그네슘 박막에 대한 정규화된 레이저 에너지 각분광 신호입니다.입사각의 함수로서 광학 터널링 백분율을 이러한 값들로부터 구할 수 있습니다. 이 정보는 굴절률과 두께의 추정을 가능하게 합니다. 이 절차를 수행하는 동안 오일이나 샘플 내에 기포가 형성되지 않도록 주의하는 것이 중요합니다.본 영상을 시청함으로써, 이제 재료의 광학적 특성을 추정하기 위해 EFPA 방법을 사용하는 방법에 대해 충분히 이해하셨을 것입니다.

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