진폭 및 위상 레이저 광선의 위상 전용 공간 가벼운 변조기를 사용 하 여 형성

이 프로토콜은 단지 절충성 광학 요소를 사용하여 빔 형성 또는 공간 에코 HALO 레이저 빔을 수행하고 위상 전용 공간 눈 변조로 호출하는 데 유용할 수 있습니다. 이 프로토콜을 만든 기술은 간단하지만 높은 에코 밀도를 제공하며 공간적으로 수정하고 마이크로 를 작게 수정 할 수 있으며 둘 다 레이저 빔의 단계보다 동시에 더 좋습니다. 공간 광 변조기및 컴퓨터를 사용하여 복잡한 필드를 인코딩합니다.

기술 사양에서 라이트 변조기 공간 해상도를 찾습니다. 다음으로 컴퓨터로 이동하여 진폭 및 위상 패턴을 정의합니다. 원하는 진폭 패턴을 회색 레벨 형식으로 디지털 이미지로 정의하며 값은 0에서 255까지입니다.

원하는 위상 패턴의 경우 2개 이상의 음수 파이에서 2개 이상의 파이에 이르는 값으로 회색 레벨 형식으로 정의합니다. 위상과 진폭이 정의되면 컴퓨터는 방정식 2와 3을 사용하여 이러한 두 가지 상 패턴을 생성합니다. 최대값은 2개로 설정되어 있습니다.

또한 공간 광 변조기 디스플레이와 동일한 공간 해상도로 2차원 이진 정지 작업을 정의합니다. 이들은 체크 무늬패턴으로 나타나며, 수직 또는 수평으로 한 정사각형으로 이동하여 중첩될 때 높이가 있는 균일한 패턴을 생성합니다. 픽셀 크로스토크의 효과를 줄이려면 픽셀 수가 증가하는 픽셀 셀이 있는 다른 픽셀 셀이 있는 이진 위상 정지에 대한 다른 체크어판 패턴 쌍을 생성합니다.

총 픽셀 수는 공간 광 변조기의 공간 해상도와 동일해야 합니다. 단일 위상 요소를 구성하려면 각 이진 채점과 다른 위상 용어를 쌍으로 처리합니다. 그런 다음 각 쌍을 공간적으로 멀티플렉스하고 결과를 추가합니다.

이는 픽셀 셀 크기 1이 있는 이전에 정의된 위상 및 채점의 위상 요소입니다. 픽셀 셀 크기를 변경하면 최종 단일 위상 요소의 공간 해상도에 영향을 미칩니다. 이 회로도는 실험에 대한 초기 설정에 대한 개요를 제공합니다.

공간 광 변조기를 배치하여 프로그래밍 가능한 표면면이 CCD 카메라를 갖습니다. 정렬된 선형 편광, 공간적으로 일관된 레이저 빔이 빔을 공간 광 변조기로 리디렉션하는 빔 스플리터로 이동하게 됩니다. 공간 광 변조기의 빛은 빔 스플리터를 통과하여 44F 광학 이미지 시스템으로 전달합니다.

이미징 시스템의 출력 평면에 CCD를 배치합니다. 이것은 벤치에 나타나는 설정입니다. 레이저 빔은 빔 익스팬더를 통과하여 크기를 조정합니다.

두 개의 미러가 출력 빔을 빔 스플리터로 안내합니다. 공간 광 변조기 앞의 빔 스플리터입니다. 두 개의 렌즈가 공간 광 변조기에서 CCD 카메라에 빛을 집중시습니다.

광학 시스템을 설정할 때 가장 낮은 픽셀 셀로 컴퓨터생성 위상 패턴을 라이트 변조기로 보냅니다. 광학 축을 따라 여러 위치에 CCD 카메라를 배치하여 위상 패턴을 이미지합니다. 최상의 해상도를 갖춘 위치로 출력 평면을 식별합니다.

최상의 해상도와 관련된 위치에서 카메라를 보호합니다. 다음으로 레이저 빔을 중심으로 광학 경로에 첫 번째 렌즈의 초점 평면에 원형 홍채를 배치합니다. 다시 말하지만, CCD 카메라를 사용하여 홍채 조리개를 변화시키면서 공간 광 변조기에서 위상 패턴을 이미지화합니다.

조리개 조리개를 가장 적합한 공간 해상도의 위치로 조정합니다. 다음으로, 크로스토크를 최소화하기 위해 유사한 단계를 수행한다. 공간 광 변조기의 위상 요소에서 픽셀 셀 크기를 다릅니다.

각각에 대해 CCD 카메라에서 가장 높은 해상도의 이미지를 제공하는 조리개 크기를 선택합니다. 크로스토크를 최소화하려면 픽셀 셀 크기와 가장 높은 공간 해상도를 허용하는 홍채 조리개를 선택합니다. 측정을 위해 편광 기반 위상 이동 기술을 사용합니다.

공간 광 변조기 바로 앞에 광학 편광기를 놓습니다. 카메라의 위상 요소를 이미지화하고 CCD 카메라에서 가장 선명하고 가장 흐린 이미지에 해당하는 각도를 시각화하여 편광자의 회전 각도를 설정합니다. 두 각도 사이에 편광기를 수정합니다.

다음으로, 상상 시스템의 후면 평면 후 두 번째 편광기를 카메라 앞에 놓습니다. CCD 카메라에서 가장 날카롭고 가장 흐린 이미지에 해당하는 각도를 검색하여 회전 각도를 설정합니다. 이 두 각도 사이의 편광자 각도를 수정합니다.

이제 출력 평면에서 카메라를 유지하면서 간섭 사진을 기록합니다. 위상 요소에 0 라디안의 매트릭스에서 공간 광 변조기로 보냅니다. 해당 이미지를 CCD로 기록합니다.

두 번째 간섭의 경우 위상 요소에 두 개의 래디언 위에 파이 매트릭스를 추가하고 공간 광 변조기로 보냅니다. CCD 카메라로 이미지를 기록합니다. 위상 요소에 파이 라디안 매트릭스를 추가하고 공간 광 변조기로 보내 CCD 카메라로 간섭을 기록합니다.

마지막으로 위상 요소에 두 개의 래디언위에 3개의 파이 매트릭스를 추가합니다. 공간 광 변조기에 사용하여 카메라로 네 번째 간섭사진을 기록합니다. 간섭이 기록되면 데이터를 컴퓨터로 전송합니다.

여기서 각 간섭사진은 기록된 순서에 의해 레이블이 지정됩니다. 0 매트릭스와 관련된 매트릭스에서 두 개의 행렬을 통해 세 개의 파이에 포함. 이것은 복잡한 필드의 검색 된 진폭입니다.

이를 찾으려면 간섭 도용 데이터를 사용하는 이 식을 구현합니다. 복잡한 필드의 위상을 검색하려면 나머지 코드를 구현하여 간섭 데이터로 이 식을 평가합니다. 이 이미지는 실험에 대한 복잡한 필드의 진폭을 정의합니다.

이 이미지는 위상을 정의합니다. 위상 이동 기법은 0으로 이동된 위상, 2개 이상의 파이, 두 개의 라디언을 통해 3개의 파이를 사용하여 간섭사진을 측정해야 합니다. 이러한 간섭 사진은 간단한 알고리즘을 사용하여 진폭과 복잡한 필드의 위상을 모두 검색할 수 있게 합니다.

단계별로 가시도록 추천합니다. 간단한 진폭 및 위상 패턴으로 시작하여 눈에 띄는 착색과 같은 보완 작업을 포함하여 프로토콜 세부 사항에주의를 기울이십시오. 홍채 면은 선택적인 조각 자체에 따라 달라 집니다.

그러나 픽셀 셀이 너무 많이 증가하면 검색된 복잡한 필드의 공간 해상도가 크게 저하될 수 있습니다. 특정 응용 프로그램을 얻기 위해 주문이 단일 방법, 하지만 웨스트 베리는 모든 재구성 목적을 위해 사용될 수있다, 예를 들어, 마이크로 처리 이동 재료 또는 Norlina 현미경 검사.